播放装置和方法制造方法及图纸

在步骤Ｓ２，缺陷周期处理过程控制单元的缺陷周期监视单元待机，直到缺陷周期监视单元检测到缺陷周期的开始为止。当缺陷周期监视单元检测到缺陷周期的开始时，处理过程进行到步骤Ｓ３。在步骤Ｓ３，执行缺陷周期处理过程。当缺陷周期监视单元在步骤Ｓ４检测到缺陷周期的结束时，处理过程进行到步骤Ｓ５。在步骤Ｓ５，执行缺陷后周期处理过程。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种播放装置和方法、及其记录介质，并且特别涉及适于防止光拾取部件伺服故障的播放装置和方法、及记录介质，其中上述故障由例如光盘介质的裂纹或相似问题导致发生。
技术介绍
图1显示了一种传统光盘播放装置的结构，这种装置用于重放光盘上记录的数据。传统的光盘播放装置中的主轴电机2驱动并旋转光盘1。光拾取部件3将激光照射到光盘1上，产生相应于反射光的信号，然后将信号输出到RF信号发生单元4、FE信号发生单元5和TE信号发生单元6。另外，光拾取部件3响应聚焦驱动器10的聚焦驱动信号，来调整聚焦伺服操作，并且响应跟踪驱动器12的跟踪驱动信号，来调整跟踪伺服操作。RF信号发生单元4根据光拾取部件3的信号，产生RF信号，然后将RF信号输出到二进制化单元7和缺陷检测单元8。FE信号发生单元5根据光拾取部件3的信号，产生聚焦误差信号(此后描述为FE信号)，然后将FE信号输出到聚焦伺服控制单元9。TE信号发生单元6根据光拾取部件3的信号，产生跟踪误差信号(此后描述为TE信号)，然后将TE信号输出到跟踪伺服控制单元11。二进制化单元7通过将RF信号发生单元4的RF信号二进制化成0或1，来产生数据信号。缺陷检测单元8根据RF信号发生单元4的RF信号，检测光盘1上出现的裂纹、污点或相似问题导致的信号丢失(缺陷)，产生缺陷信号，指示检测到的缺陷周期，然后将缺陷信号输出到聚焦伺服控制单元9和跟踪伺服控制单元11。检测缺陷的一种方法是，例如在RF信号的电平低于预定阈值时的周期，将缺陷信号的电平设置为高电平，而在RF信号的电平高于预定阈值时的周期，将缺陷信号设置为低电平。具体地说，当RF信号具有图2A显示的电平时，缺陷信号具有图2B显示的相应电平。在正常周期(缺陷检测单元8的缺陷信号的电平为低电平时的周期)，聚焦伺服控制单元9产生相应于FE信号发生单元5的FE信号的聚焦驱动控制信号，然后将聚焦驱动控制信号输出到聚焦驱动器10。当缺陷信号的电平为高电平时，聚焦伺服控制单元9将聚焦驱动控制信号保持在预定的参考值上，或者将聚焦驱动控制信号保持在缺陷信号的电平刚刚变为高电平之前的聚焦驱动控制信号的值上，如图2D所示，然后将聚焦驱动控制信号的电平输出到聚焦驱动器10。聚焦驱动器10相应于聚焦伺服控制单元9的聚焦驱动控制信号，产生聚焦驱动信号，然后将聚焦驱动信号输出到光拾取部件3。在正常周期(缺陷检测单元8的缺陷信号的电平为低电平时的周期)，跟踪伺服控制单元11根据TE信号发生单元6的TE信号，产生跟踪驱动控制信号，然后将跟踪驱动控制信号输出到跟踪驱动器12。当缺陷信号的电平为高电平时，跟踪伺服控制单元11将跟踪驱动控制信号的电平保持在预定的参考值上，或者将跟踪驱动控制信号保持在缺陷信号的电平刚刚变为高电平之前的跟踪驱动控制信号的值上，如图2F所示，然后将跟踪驱动控制信号的电平输出到跟踪驱动器12。跟踪驱动器12相应于跟踪伺服控制单元11的跟踪驱动控制信号，产生跟踪驱动信号，然后将跟踪驱动信号输出到光拾取部件3。在一些情况下，传统的光盘播放装置将缺陷检测单元8产生的缺陷信号，提供到FE信号发生单元5和TE信号发生单元6。在这些情况下，在正常周期(缺陷检测单元8的缺陷信号的电平为低电平时的周期)，提供有缺陷信号的FE信号发生单元5，根据光拾取部件3的信号产生FE信号，然后将FE信号输出到聚焦伺服控制单元9。当缺陷信号的电平为高电平时，FE信号发生单元5将FE信号的电平保持在预定的参考值上，或者将FE信号保持在缺陷信号的电平刚刚变为高电平之前的FE信号的值上，如图2C所示，然后将FE信号的电平输出到聚焦伺服控制单元9。聚焦伺服控制单元9输出相应于电平保持恒定的FE信号的聚焦驱动信号，如图2D所示。在正常周期(缺陷检测单元8的缺陷信号的电平为低电平时的周期)，提供有缺陷信号的TE信号发生单元6，根据光拾取部件3的信号产生TE信号，然后将TE信号输出到跟踪伺服控制单元11。当缺陷信号的电平为高电平时，TE信号发生单元6将TE信号的电平保持在预定的参考值上，或者将TE信号保持在缺陷信号的电平刚刚变为高电平之前的TE信号的值上，如图2E所示，然后将TE信号的电平输出到跟踪伺服控制单元11。跟踪伺服控制单元11输出相应于具有固定值的TE信号的跟踪驱动信号，如图2F所示。这样，即使因为光盘1上出现裂纹或相似缺陷，而不能得到正常反射光，当缺陷信号的电平为高电平时，这样形成的传统光盘播放装置也能保持聚焦驱动信号和跟踪驱动信号的电平。由此，防止光拾取部件3的聚焦伺服和跟踪伺服的故障。然而，在缺陷信号长时间为高电平周期的情况下，或者依赖于保持的聚焦驱动信号和跟踪驱动信号输出中的误差的情况下，当缺陷信号的电平返回到低电平时，光拾取部件3实质上偏离原始的伺服控制位置。例如，日本专利公开说明书第Sho59-203276号公开了一种防止此偏离的方法，它将注意力转向TE信号的特性，如周期性，使用跟踪误差和跟踪周期的通过计算产生接近原始TE信号的伪误差信号，并且当缺陷信号的电平为高电平时，使用计算得到的伪误差信号代替原始TE信号。另外，日本专利公开说明书第Sho64-39638号公开了这样的方法，它将聚焦偏移调整电压改变为预定值，由此当缺陷信号的电平为高电平时，防止聚焦线圈偏移，这样当缺陷信号的电平返回低电平时，使误差最小化。在缺陷信号的电平为高电平时，并且在缺陷信号的电平返回低电平后，上述传统技术主要针对减小控制误差的范围，并且不考虑减小从返回到缺陷信号的低电平，到返回到正常伺服控制状态的周期。通常，当缺陷信号的高电平周期变得更长时，控制误差趋于增加。这样，在控制误差大的情况下，如果没有背离正常伺服控制的范围，当缺陷信号电平返回到低电平时，例如图3A、3B、3C、3D和3E所示，则伺服继续不稳定，并且在伺服返回到正常控制状态前，需要相当长的时间。为了使伺服迅速返回到正常控制状态，已知一种方法，在跟踪跳跃或相似动作之后，使伺服循环增益立即保持在高于正常电平上。然而，当伺服循环增益高时，伺服通常对于光盘上的裂纹这样的缺陷太敏感。由此，该增加伺服循环增益的方法，不能用于提高缺陷通路特性。
技术实现思路
本专利技术是考虑上面的问题而提出的，由此，本专利技术的目的是，在缺陷信号的电平返回到低电平后，减小伺服返回到正常控制状态所需的时间。根据本专利技术，提供的播放装置包括RF信号发生装置，根据光拾取部件输出的模拟信号，产生RF信号；数据信号发生装置，通过使RF信号二进制化，产生数据信号；缺陷信号发生装置，根据RF信号，产生指示光盘介质上的缺陷的缺陷信号；聚焦误差信号发生装置，根据光拾取部件输出的模拟信号，产生聚焦误差信号；聚焦伺服控制装置，响应聚焦误差信号，控制光拾取部件的聚焦伺服；跟踪误差信号发生装置，根据光拾取部件输出的模拟信号，产生跟踪误差信号；跟踪伺服控制装置，响应跟踪误差信号，控制光拾取部件的跟踪伺服；监视装置，监视缺陷信号，由此检测缺陷周期的开始和结束；缺陷周期处理过程控制装置，控制聚焦伺服控制装置和跟踪伺服控制装置，当监视装置监视的结果指示缺陷周期时，使聚焦伺服控制装置和跟踪伺服控制装置执行缺陷周期处理过程；和缺陷后周期处理过程控制装置，控制聚焦伺服控制装置和跟踪伺服控制本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种播放装置，使用光拾取部件来重放盘介质上记录的数据，所述播放装置包括： ＲＦ信号发生装置，根据所述光拾取部件输出的模拟信号，产生ＲＦ信号； 数据信号发生装置，通过使所述ＲＦ信号二进制化，产生数据信号； 缺陷信号发生装置，根据所述ＲＦ信号产生缺陷信号，来指示所述盘介质上的缺陷； 聚焦误差信号发生装置，根据所述光拾取部件输出的所述模拟信号，产生聚焦误差信号； 聚焦伺服控制装置，响应所述聚焦误差信号，控制所述光拾取部件的聚焦伺服； 跟踪误差信号发生装置，根据所述光拾取部件输出的所述模拟信号，产生跟踪误差信号； 跟踪伺服控制装置，响应所述跟踪误差信号，控制所述光拾取部件的跟踪伺服； 监视装置，监视所述缺陷信号，由此检测缺陷周期的开始和结束； 缺陷周期处理过程控制装置，控制所述聚焦伺服控制装置和所述跟踪伺服控制装置，当所述监视装置监视的结果指示所述缺陷周期时，使所述聚焦伺服控制装置和跟踪伺服控制装置执行缺陷周期处理过程；和 缺陷后周期处理过程控制装置，控制所述聚焦伺服控制装置和所述跟踪伺服控制装置，当所述监视装置监视的结果指示所述缺陷周期结束时，使所述聚焦伺服控制装置和跟踪伺服控制装置执行缺陷后周期处理过程。...

【技术特征摘要】
JP 2000-11-14 364477/001.一种播放装置，使用光拾取部件来重放盘介质上记录的数据，所述播放装置包括RF信号发生装置，根据所述光拾取部件输出的模拟信号，产生RF信号；数据信号发生装置，通过使所述RF信号二进制化，产生数据信号；缺陷信号发生装置，根据所述RF信号产生缺陷信号，来指示所述盘介质上的缺陷；聚焦误差信号发生装置，根据所述光拾取部件输出的所述模拟信号，产生聚焦误差信号；聚焦伺服控制装置，响应所述聚焦误差信号，控制所述光拾取部件的聚焦伺服；跟踪误差信号发生装置，根据所述光拾取部件输出的所述模拟信号，产生跟踪误差信号；跟踪伺服控制装置，响应所述跟踪误差信号，控制所述光拾取部件的跟踪伺服；监视装置，监视所述缺陷信号，由此检测缺陷周期的开始和结束；缺陷周期处理过程控制装置，控制所述聚焦伺服控制装置和所述跟踪伺服控制装置，当所述监视装置监视的结果指示所述缺陷周期时，使所述聚焦伺服控制装置和跟踪伺服控制装置执行缺陷周期处理过程；和缺陷后周期处理过程控制装置，控制所述聚焦伺服控制装置和所述跟踪伺服控制装置，当所述监视装置监视的结果指示所述缺陷周期结束时，使所述聚焦伺服控制装置和跟踪伺服控制装置执行缺陷后周期处理过程。2.根据权利要求1的播放装置，其中所述缺陷周期处理过程控制装置控制所述聚焦伺服控制装置和所述跟踪伺服控制装置，使所述光拾取部件的所述聚焦误差信号或所述跟踪误差信号保持在预定值上。3.根据权利要求1的播放装置，其中所述缺陷后周期处理控制装置控制所述聚焦伺服控制装置和所述跟踪伺服控制装置，使所述光拾取部件的伺服操作加速。4.根据权利要求1的播放装置，其中在所述缺陷后周期处理过程控制装置的控制下执行的所述缺陷后周期处理过程中，当所述监视装置检测到所述缺陷周期开始时，所述缺陷后周期处理过程控制装置停止所述缺陷后周期处理过程，并且所述缺陷周期处理过程控制装置启动所述缺陷周期处理过程。5.一种用于播放装置的播放方法，所述播放装置通过使用光拾取部件重放盘介质上记录的数据，所述播放方法包括RF信号发生步骤，根据所述光拾取部件输出的模拟信号，产生RF信号；数据信号发生...

【专利技术属性】
技术研发人员：西垣诚，
申请(专利权)人：索尼公司，
类型：发明
国别省市：JP[日本]