本公开提供一种一体化传导测试及写号的方法，包括通过传导测试及写号设备：确定目标接口，通过所述目标接口与目标电路完成连接；通过所述目标接口启动所述目标电路；等待第一预设时长；通过所述目标接口指示所述目标电路中的射频单元完成校准测试，生成校准值，并确定所述校准值满足预设条件；通过所述目标接口对所述目标电路中的目标芯片写入目标编号；以及通过所述目标接口指示所述目标电路完成关闭。还提供了利用所述方法的一体化传导测试及写号的设备。本公开的技术方案能够将传导测试以及写入编号操作中有共性的工作流程整合，在相互之间不会发生干涉的情况下，在一个测试工作站位下，同一时间内利用一组测试治具和测试仪器设备来完成。仪器设备来完成。仪器设备来完成。
【技术实现步骤摘要】
一种一体化传导测试及写号的方法及设备
[0001]本申请涉及电路领域，特别涉及一种一体化传导测试及写号的方法及设备。
技术介绍
[0002]当前，智能电子设备中的电路结构广泛应用模拟IC、数字IC。随着智能电子设备工业化水平的发展，电路结构呈现体积小，功耗低，功能多等特点。同时由于物联网的发展需求，用户日常使用的智能电子设备也呈现万物互联的趋势，例如智能锁具、智能摄像头、智能台灯等都能基于电路结构中的射频单元实现无线互联。
[0003]在智能电子设备生产环节，需要对智能电子设备进行各种测试，以保证这些产品功能完好。在单板测试阶段，需要对电路结构中的射频单元进行射频指标的传导测试。同时在出厂前，还需要对电路结构中的芯片写入地址编号，例如IMEI号、MEID号和MAC地址号等。
[0004]在实际生产环节中，对电路结构中的射频单元的传导测试需要在单独的测试工作站位上，利用一组测试治具和测试仪器设备来完成，而对电路结构中的芯片写入编号需要在另一个测试工作站位上，利用另外一组测试治具和测试仪器设备来完成。射频单元的传导测试和电路中的芯片的写入编号操作是在不同的测试工作站位上进行，各环节没有相互配合，导致人力、测试治具、测试仪器设备、测试工作站位的浪费，造成生产成本增高和效益降低的问题。
技术实现思路
[0005]为解决上述技术问题，本公开提出了一种将传导测试以及写入编号操作整合形成一个完整的方法以及相应的执行设备。
[0006]本申请提供一种一体化传导测试及写号的方法，包括通过传导测试及写号设备：确定目标接口，通过所述目标接口与目标电路完成连接；通过所述目标接口启动所述目标电路；等待第一预设时长；通过所述目标接口指示所述目标电路中的射频单元完成校准测试，生成校准值，并确定所述校准值满足预设条件；通过所述目标接口对所述目标电路中的目标芯片写入目标编号；以及通过所述目标接口指示所述目标电路完成关闭。
[0007]在本申请的一些实施例中，在所述确定所述校准值满足预设条件后，还包括：通过所述目标接口对所述目标电路中的射频单元写入所述校准值。
[0008]在本申请的一些实施例中，在所述通过所述目标接口对所述目标电路中的射频单元写入所述校准值后，还包括：等待第二预设时长；以及通过所述目标接口对所述目标电路中的目标芯片写入目标编号。
[0009]在本申请的一些实施例中，所述通过所述目标接口对所述目标电路中的目标芯片写入目标编号后，还包括：确定所述目标编号写入成功；以及运行验号流程。
[0010]在本申请的一些实施例中，所述校准测试包括：所述射频单元的发射功率和接收功率的校准测试。
[0011]在本申请的一些实施例中，所述校准测试包括：所述射频单元的频率偏移的校准
测试。
[0012]在本申请的一些实施例中，所述通过所述目标接口对所述目标电路中的目标芯片写入目标编号发生在所述确定所述校准值满足预设条件之前；以及所述方法还包括：当所述目标编号已经写入所述目标电路后，所述校准值不满足预设条件，则将所述目标编号回收，形成回收目标编号。
[0013]在本申请的一些实施例中，所述通过所述目标接口启动所述目标电路包括：通过目标接口由独立于所述目标电路的所述传导测试及写号设备自带的目标电源向所述目标电路供电。
[0014]在本申请的一些实施例中，所述目标电源包括程控电源。
[0015]在本申请的一些实施例中，所述目标电路包括智能护眼灯、智能锁具和智能摄像头中至少一个的主板。
[0016]在本申请的一些实施例中，所述目标编号包括IMEI号、MEID号和MAC地址号中的至少一个。
[0017]在本申请的一些实施例中，所述目标接口包括以下至少一个，WIFI接口、Zigbee接口、RS485接口、RS232接口、RS422接口、USB接口、和HDMI接口。
[0018]本申请还提供一种一体化传导测试及写号的设备，包括：存储器，存储至少一组指令集，用于执行传导测试及写号的方法；以及处理器，同所述存储器通信连接，所述处理器运行时执行存储器中的所述传导测试及写号的方法指令集，并且根据所述传导测试及写号的方法指令集执行上述一体化传导测试及写号的方法中所述的任意一种方法。
[0019]在本申请的一些实施例中，所述一体化传导测试及写号的设备还包括：测试治具，通过所述目标接口与所述目标电路电连接，并通过I/O组件与处理器进行数据通信；测试仪器，与所述目标电路中的射频单元建立射频通信连接，被配置为接收和发送射频信号，并为校准测试提供参考信号；屏蔽器件，被配置为可以将其外部的频率在目标范围内的信号屏蔽在所述屏蔽器件外部，所述目标电路以及测试治具设置在所述屏蔽器件内部；以及目标电源，被配置为向所述一体化传导测试及写号的设备提供功率源。
[0020]在本申请的一些实施例中，所述一体化传导测试及写号的设备还包括：所述存储器中存储至少一组所述目标编号，用于写号时进行调用；所述存储器中可以存储校准测试数据和校准值；以及所述存储器中可以存储回收目标编号，用于目标编号回收后再次被调用。
[0021]在本申请的一些实施例中，所述一体化传导测试及写号的设备还包括：MES系统，通过MES系统对所述指令、目标编号、校准测试数据以及校准值进行管理维护。
[0022]本公开的有益效果：本公开的技术方案能够将传导测试以及写入编号操作中有共性的工作流程整合，在相互之间不会发生干涉的情况下，在一个测试工作站位下，同一时间内利用一组测试治具和测试仪器设备来完成。本公开的技术方案能够减少厂验环节对电路结构的重复操作，整体上减少操作时间，还能减少人力，测试治具、测试仪器设备、测试工作站位的使用数量，从而降低智能电子设备生产环节的人工、物料成本。
附图说明
[0023]为了更清楚地说明本说明书实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要
使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本说明书的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0024]图1是根据本公开的一些实施例提供的一种一体化传导测试及写号的设备100的结构示意图；
[0025]图2是根据本公开的一些实施例提供的操作机200的结构示意图；
[0026]图3是根据本公开的一些实施例提供的一种一体化传导测试及写号的方法S100
‑
1的流程示意图；以及
[0027]图4是根据本公开的一些实施例提供的另一种一体化传导测试及写号的方法S100
‑
2的流程示意图；
具体实施方式
[0028]以下描述提供了本申请的特定应用场景和要求，目的是使本领域技术人员能够制造和使用本申请中的内容。对于本领域技术人员来说，对所公开的实施例的各种局部修改是显而易见的，并且在不脱离本申请的精神和范围的情况下，可以将这里定义的一般原理应用于其他实施例和应用。因此，本申本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种一体化传导测试及写号的方法，其特征在于，包括通过传导测试及写号设备：确定目标接口，通过所述目标接口与目标电路完成连接；通过所述目标接口启动所述目标电路；等待第一预设时长；通过所述目标接口指示所述目标电路中的射频单元完成校准测试，生成校准值，并确定所述校准值满足预设条件；通过所述目标接口对所述目标电路中的目标芯片写入目标编号；以及通过所述目标接口指示所述目标电路完成关闭。2.如权利要求1所述的一体化传导测试及写号的方法，其特征在于，在所述确定所述校准值满足预设条件后，还包括：通过所述目标接口对所述目标电路中的射频单元写入所述校准值。3.如权利要求2所述的一体化传导测试及写号的方法，其特征在于，在所述通过所述目标接口对所述目标电路中的射频单元写入所述校准值后，还包括：等待第二预设时长；以及通过所述目标接口对所述目标电路中的目标芯片写入目标编号。4.如权利要求1所述的一体化传导测试及写号的方法，其特征在于，所述通过所述目标接口对所述目标电路中的目标芯片写入目标编号后，还包括：确定所述目标编号写入成功；以及运行验号流程。5.如权利要求1所述的一体化传导测试及写号的方法，其特征在于，所述校准测试包括：所述射频单元的发射功率和接收功率的校准测试。6.如权利要求1所述的一体化传导测试及写号的方法，其特征在于，所述校准测试包括：所述射频单元的频率偏移的校准测试。7.如权利要求1所述的一体化传导测试及写号的方法，其特征在于，所述通过所述目标接口对所述目标电路中的目标芯片写入目标编号发生在所述确定所述校准值满足预设条件之前；以及所述方法还包括：当所述目标编号已经写入所述目标电路后，所述校准值不满足预设条件，则将所述目标编号回收，形成回收目标编号。8.如权利要求1所述的一体化传导测试及写号的方法，其特征在于，所述通过所述目标接口启动所述目标电路包括：通过目标接口由独立于所述目标电路的所述传导测试及写号设备自带的目标电源向所述目标电路供电。9.如权利要求8所述的一体化传导测试及写号的...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘永宽，张宇峰，
申请(专利权)人：上海创米科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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