一种数据重放装置和数据重放方法制造方法及图纸

一种通过记录／重放试验标记测定所负载的数据记录媒介的写入状况的数据重放装置，其特征是包括：　　　　利用记录重放试验标记与来自所述试验标记的时钟脉冲之间的相差的测定装置，测定所述写入状况。（*该技术在2018年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及应用于信息记录媒介的信号记录方法，用于检测记录/重放信号和参考信号之间的相差的检测器电路，以及利用相差检测媒介上数据后来记录状态的信息装置，特别是涉及用于检测能高密度信息记录的激光功率电平的相差技术。
技术介绍
记录型光盘能保持大量信息并具有可更换(即可交换)媒介的特征。在重放记录在光盘上的信息过程中，一束激光对准其信息记录侧，被记录标记调制的光线被反射用于检测。在光盘记录信息过程中，比重放过程中所用激光功率要大激光束作用信息记录侧，热致形成记录标记。记录型光盘媒介大致分为如下三类(1)磁光型，(2)相变型，和(3)凹坑型。对重写型记录，磁光型光盘已广泛应用，而对只写一次型记录，以记录紧密盘(CD-R)为代表的有机颜料凹坑型光盘很普及。为提高记录型光盘的储存密度，须精确控制记录功率，这是由于用越来越高的精度应能以越来越高的密度形成较小的记录标记。然而，在实际的光盘装置中，尽管光源的输出电平保持恒定，由于例如环境温度、激光波长、光点变形等动态变化的不利影响，在光盘信息记录侧很难提供一个所需的温度分布。因此，正如在日本未经审查专利公开195713/1994所公开的，用所谓“试写”技术将信息记录在记录紧密盘(CD-R)上。利用该技术，可在记录使用者的数据前采用试写，利用在预定试验区完成的试写以检测记录功率的最佳电平。更深的这种讨论，如图2a所示，表示试写方法，交替记录精细及粗略的图案。更准确地说，激光束利用记录波形20在记录媒介中产生粗略22和精细24的凹坑，而重放时，分别从粗略22和精细24的凹坑中得到重放信号26和28。利用重放信号，检测精细和粗略图案之间平均电平差，即不对称值ΔV(图2a)，并检测不对称值约为零(图2b中间例)时的记录功率电平Po，作为最优记录状态。如记录功率电平P小于Po(图2b，上例)，由于记录标记小于规定的形状，ΔV为负值。相反，如记录功率电平P大于Po(图2b，下例)，由于记录标记大于规定的形状，ΔV为正值，因此通过在适当范围改变记录功率并检测不对称值ΔV＝0时的功率Po，利用不对称值ΔV的检测可测定最优记录功率电平Po。利用该方法，只要记录标记的宽度不变，尽管其长度改变，也能获取线性响应。现进一步描述背景并讨论当在相变光盘上记录时应用上述“不对称值检测”试写方法所发生的问题。由于利用媒介晶态和非晶态之间反射率的差别重放记录在相变光盘上的信息，可用与CD-ROM所用相同类型的重放电路，即相变型光盘具有与ROM型光盘相容的优点。对于相变型光盘的背景，通过利用激光在其记录层上熔化光点并随后熄灭光点，作为非晶态形成记录标记。为擦去记录标记，利用温度大于晶化水平并小于熔化点的激光加热辐射光点使其非晶态晶化。如在信息记录中熔化后延迟熄灭时间，光点再结晶，此现象称为“再结晶”。因此记录标记的形状取决于光点冷却状况以及所得的温度分布。这些是相变型光盘记录装置的特殊性，与记录如磁光盘的这类光盘的其它装置不同。在相变型光盘检查例子中，利用GeSbTe相变材料充当记录层测试典型的“不对称性检测”试写方法的性能。实例盘由直径120mm厚度0.6mm的塑料基底构成，并具有ZnS-SiO2主光学干涉层，GeSbTe记录层，ZnS-SiO2第二光学干涉层，Al-Ti反射层，和UV保护层的叠层。在基底上形成间距约0.7um用于平台组记录的轨迹凹槽。使用图3所示的具有三个记录电平Pw，Pe和Pb的记录波形，并采用信道时钟信号Tw(T为预置的信道比特长度)。为形成记录标记nTw，应用‘n-1’Tw/2宽脉冲。对数据调制，可采用1Tw约0.2μm的“8-16”调制方法。最短标记长度为3Tw，最长标记长度为14Tw。从半导体激光器发出波长680nm的激光光束。通过经数值孔径值0.6的物镜聚焦形成用于记录的光点。测量使用6m/s线速度。实例盘上重写随机信号的功率容限Po的中心值在Pw情况下为10.5mW，在Pe情况下为3.8mW。改变用于试写的记录功率，同时保持Pw/Pe比值为10.5mW/3.8mW。Pb电平保持稳定在0.5mW。重复3Tw符号间隔记录被产生用于精细图案，而制成重复8Tw符号间隔记录用于粗略图案。图4示出了上述测试过程中记录功率和不对称值ΔV之间的曲线关系，及由重结晶引起的问题。该图表的纵坐标上，不对称值ΔV用粗略图案信号放大进行归一化处理。在记录功率9-14mW范围内。不对称值ΔV具有逐渐增加性能，正侧增至15％而负侧改变仅约3％，在记录功率小于Po的范围内，不对称值ΔV的斜率具有相对平缓的趋势。在记录起始点的附近，发生代码颠倒现象。低记录功率范围内的这些性能由记录中的上述重结晶的问题引起，更具有地，对比粗略和精细图案，精细图案的激光辐射时间少于粗略图案。因此，精细图案的热保留程度低，加热和冷却更快，导致重结晶程度低。由于粗略和精细图案之间重结晶的差异在记录阈值附近较大，精细图案的记录标记的宽度比粗略图案要宽一些。不对称值在正侧和负侧变化不同，对应某一电平记录功率不能明确测定其不对称值，意味着需要复合处理工序，用于使用“不对称性检测”试写方法测定光学功率电平Po。下面描述与相变型光盘的重写使用寿命相关的性能和问题。当重复在相变型光盘上重写，盘逐步损坏。两个最明显的损坏现象是；(1)记录层的流化，和(2)反射率的改变。据认为，记录层的流化是由于在记录时作用于记录层熔化状态中的热应力而造成的，反射率的改变与记录层的流化现象有关，认为它是由于如记录层组分的偏析，干涉层材料的渗透等热应力引起的此类原因造成的。图5a和图5b表示实验检测所用的相变型光盘恶化性能的例子。参考图5a，表示记录标记的长度与流化程度之间的关系。检测中采用记录功率Po连续重写80,000次。图5a的每个图案表示同等包含标记和间隔码的重复图案。50字节间隔就记录200字节组成的每个字块。对于流化，在每个字块的开始和结束测量起始信号振幅降至小于1/2时的区域长度。图5a中，每个流化区域的长度对应开始字块来表示。从该图可看出，标记长度越短流化区域长度却越长。例如，在3Tw标记情况下，其流化区域长度比11Tw标记的两倍还长。参考图5b表示3Tw～8Tw图案经重写的反射光平均数量用100％起始值水平进行归一化处理曲线。当增加重写操作数量，反射光的平均数量水平降低。比较3Tw和8Tw图案，表示3Tw图案的反射光数量降低的曲线斜率与8Tw图案的并不相称。这表明记录层的恶化速率以及流化取决于标记长度。由于反射光平均数量水平的差异表示不对称数量，图5b的曲线显示了尽管应用相同电平的功率，不对称数量随重写操作数量而改变。也就是说，如重写操作数量在试写的检验区域和实际记录使用者数据的区域之间不同，不可能测定激光功率的合适记录电平。如上所述，发现依据于“不对称性检测”的上述试写方法不适合(即，不利于)相变型光盘的最佳记录功率电平的测定，这是由于如下原因(1)重结晶和粗略与精细标记(凹坑)之间加热/冷却时间不同，(2)流化，(3)目标点检测的不合适线性和不明确检测性能，和(4)记录层损坏与记录标记长度的相关性。本专利技术的目的是提供适合测定相变型光盘的最优记录功率电平并克服伴随“不对称性检测”试写方法引起的上述缺点的一种试写方法。本本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种通过记录/重放试验标记测定所负载的数据记录媒介的写入状况的数据重放装置，其特征是包括利用记录重放试验标记与来自所述试验标记的时钟脉冲之间的相差的测定装置，测定所述写入状况。2.如权利要求1所述的装置，其特征是所述数据记录媒介更准确地说是光学数据记录媒介，以及所述测定装置更准确地说测定用于后续标记写入的写入激光光束功率电平。3.如权利要求1所述的装置，其特征是所述试验标记更准确地说基本上仅为11T信道位长(T为预定长度)。4.如权利要求1所述的装置，其特征是所述数据记录媒介更准确地说为光学数据记录媒介，且所说试验标记更准确地说设在多个试验标记组，所述组分别以互不相同的预定写入激光光束功率电平记录，以及其中所述测定装置更准确地说应用所述组来测定所述写入状况。5.如权利要求4所述的装置，其特征是所述测定装置更准确地说测定并应用与所述组内遇到的相差水平相关的数据，测定所述写入状况。6.如权利要求4所述的装置，其特征是所述测定装置更准确地说应用与相差水平相关的所述数据，测定对应最低所述写入激光光束功率电平的阈值写入激光光束功率，这里所述写入激光光束功率电平处的所述试验标记预定百分比引起至少来自由所述试验标记得出的时钟脉冲的预定相差，以及所说的测定装置然后通过预定常数调节所述阈值写入激光光束来测定后续标记的最佳写入激光光束功率电平。7.如权利要求5的装置，其特征是所述测定装置更准确地说应用与相差水平有关的所述数据，测定差别最小写入激光光束功率电平，这里所述写入激光光束功率电平处的所述试验标记最低百分比引起至少来自由所述试验标志得出的时钟脉冲的预定相差，以及所述测定装置然后指定所述差别最小写入激光光束功率电平为后续标记写入的最佳写入激光光束功率电平。8.如权利要求5所述的装置，其特征是所述测定装置更准确地说应用与相差水平有关的所述数据，测定对应最低和最高所述写入激光光束功率电平的最低和最高写入激光光束功率电平，这里所述写入激光光束功率电平处的所述试验标记预定百分比引起至少来自由所述试验标记信号的时钟脉冲的预定相差，以及所述测定装置然后以预定关系应用最低和最高所述写入激光光束功率电平，测定后续标记写入的最佳写入激光光束功率电平。9.如权利要求8所述的装置，其特征是所述测定装置更准确地说采用最低和最高所述写入激光光束功率电平的平均，测定作为所述最佳写入激光光束功率电压的平均功率电平。10.一种通过记录/重放试验标记测定所负载的数据记录媒介的写入状况的数据重放方法，其特征是所述方法包括步骤应用记录/重放试验标记与来自所述试验标记的时钟脉冲之间的相差，测定所述写入状况。11.如权利要求10所述的方法，其特征是所述数据记录媒介更准确地说是光学数据记录媒介，以及所述应用步骤更准确地说测定用于后续标记写入的写入激光光束功率电平。12.如权利要求10所述的方法，其特征是所述试验标记更准确地说基本上仅11T信道位长(T为预定长度)。13.如权利要求10所述的方法，其特征是所述数据记录媒介更准确地说是光学数据记录媒介，且所述试验标记更准确地说设在多个试验标记组，所述组分别以互不相同的预定写入激光光束功率电平记录，以及其中所述应用步骤更准确地说应用所述组测定所述写入状况。14.如权利要求13所述的方法，其特征是所述应用步骤更准确地说测定并应用与所述组内遇到的相差水平有关的数据，测定所述写入状况。15.如权利要求13所述的方法，其特征是所述应用步骤更准确地说应用与相差水平有关的所述数据，测定对应最低所述写入激光光束功率电平的阈值写入激光光束功率，这里所述写入激光光束功率电平处的所述试验标记预定百分比引起至少来自由所述试验标记得出的时钟脉冲的预定相差，然后通过预定常数调节所述阈值写入激光光束测定后续标记写入的最佳写入激光光束功率电平。16.如权利要求13所述的方法，其特征是所述应用步骤更准确地说应用与相差水平有关的所述数据，测定差别最小写入激光光束功率电平，这里所述写入激光光束功率电平处的所述试验标记最低百分比引起至少来自由所述试验标记得出的时钟脉冲的预定相差，以及然后指定所述差别最小写入激光光束功率电平作为后续标记写入的最佳写入激光光束功率电平。17.如权利要求13所述的方法，其特征是所述应用步骤更准确地说应用与相差水平有关的所述数据，测定对应与最低和最高所述写入激光光束功率电平的最低和最高写入激光光束功率电平，这里所述写入激光光束功率电平处的所述试验标记预定百分比引起至少来自由所述试验标记得出的时钟脉冲的预定相差，然后以预定关系...

【专利技术属性】
技术研发人员：峰邑浩行，户田刚，
申请(专利权)人：株式会社日立制作所，
类型：发明
国别省市：