一种数值孔径测试系统技术方案

本发明专利技术公开了一种数值孔径测试系统，包括立柱、粗调导轨、移动平台和相机，立柱上设有粗调导轨，粗调导轨上设有移动平台，移动平台上设有相机，粗调导轨带动移动平台移动，移动平台带动相机移动，还包括灯箱，灯箱设于移动平台下。采用上述技术方案制成了一种方便使用的数值孔径测试系统，适用于透镜及镜头模组的测试，可用于测量镜片和镜头的焦距及数值孔径。通过使用立式导轨结构，由底部灯箱产生准直平行光源，经待测透镜或镜头模组会聚，形成焦点，再通过高精度一维移动平台，带动相机寻找焦点，确定焦点位置，并通过软件计算焦距和数值孔径。孔径。孔径。

【技术实现步骤摘要】
一种数值孔径测试系统


[0001]本专利技术涉及光学测量领域，特别涉及一种数值孔径测试系统。

技术介绍

[0002]数值孔径是描述光学镜头工作性能的重要指标，数值孔径越大，镜头能够分辨的两点间距离也越近，目前市面上能检测镜头数值孔径的设备很少，检测起来很不方便。
[0003]故需要一种方便使用的数值孔径测试系统。

技术实现思路

[0004]为了解决上述问题，本专利技术提供一种方便使用的数值孔径测试系统。
[0005]本专利技术中的一种数值孔径测试系统，包括立柱、粗调导轨、移动平台和相机，所述立柱上设有粗调导轨，所述粗调导轨上设有移动平台，所述移动平台上设有相机，所述粗调导轨带动移动平台移动，所述移动平台带动相机移动，还包括灯箱，所述灯箱设于移动平台下。
[0006]上述方案中，还包括平移台和样品夹具，所述平移台上设有样品夹具，所述样品夹具设于相机下方。
[0007]上述方案中，所述灯箱上设有平移台。
[0008]上述方案中，所述样品夹具为三爪自准心结构用于固定样品。
[0009]上述方案中，所述移动平台为高精度一维移动平台。
[0010]上述方案中，所述平移台为高精度二维平移台。
[0011]本专利技术的优点和有益效果在于：本专利技术提供一种方便使用的数值孔径测试系统，适用于透镜及镜头模组的测试，可用于测量镜片和镜头的焦距及数值孔径。通过使用立式导轨结构，由底部灯箱产生准直平行光源，经待测透镜或镜头模组会聚，形成焦点，再通过高精度一维移动平台，带动相机寻找焦点，确定焦点位置，并通过软件计算焦距和数值孔径。
附图说明
[0012]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0013]图1为本专利技术的结构示意图；
[0014]图2为本专利技术的光路示意图。
[0015]图中：1、立柱 2、粗调导轨 3、移动平台 4、相机
[0016]5、灯箱 6、平移台 7、样品夹具
具体实施方式
[0017]下面结合附图和实施例，对本专利技术的具体实施方式作进一步描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本专利技术的技术方案，而不能以此来限制本专利技术的保护范围。
[0018]如图1所示，本专利技术是一种数值孔径测试系统，包括立柱1、粗调导轨2、移动平台3和相机4，立柱1上设有粗调导轨2，粗调导轨2上设有移动平台3，移动平台3上设有相机4，粗调导轨2带动移动平台3移动，移动平台3带动相机4移动，还包括灯箱5，灯箱5设于移动平台3下。灯箱5提供系统准直平行光。通过粗调和精调的方式可以快速找到焦点位置。
[0019]还包括平移台6和样品夹具7，平移台6上设有样品夹具7，样品夹具7设于相机4下方。灯箱5上设有平移台6。
[0020]样品夹具7为三爪自准心结构用于固定样品。移动平台3为高精度一维移动平台。高精度一维移动平台可以进行上下移动控制，并实时显示距离样品距离。
[0021]平移台6为高精度二维平移台，用于调节样品位置，确保样品光轴与光路中心共轴。
[0022]平行光通过样品透镜被会聚成一亮斑，通过相机4可以实时捕捉光斑大小，当调节粗调导轨2和高精度一维移动平台，带动相机4上下移动，亮斑最小时为焦点位置，焦点到透镜的距离即为焦距。系统带有图像识别软件，可以快速确定相机到样品间距离。
[0023]如图2所示，灯箱5提供准直平行光，经样品透镜后会聚，样品透镜由平移台6和样品夹具7固定，确保样品光轴与光路中心共轴，会聚后的光斑会逐渐变小，通过上方相机4观察光斑大小，当粗调导轨2和高精度一维移动平台带动相机4逐渐远离样品透镜时，相机4中观察到的亮斑逐渐变小后又逐渐变大，亮斑最小的位置即为焦点位置，此时相机4离样品透镜的距离即为焦距，通过计算可以得到透镜的数值孔径。
[0024]高精度一维移动平台及相机由软件控制，软件可自动控制平台移动，及实时显示相机中观察到的光斑，并自动寻找光斑最小位置。
[0025]以上所述仅为本专利技术的较佳实施例而已，并不用以限制本专利技术，凡在本专利技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本专利技术的保护范围之内。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种数值孔径测试系统，其特征在于，包括立柱、粗调导轨、移动平台和相机，所述立柱上设有粗调导轨，所述粗调导轨上设有移动平台，所述移动平台上设有相机，所述粗调导轨带动移动平台移动，所述移动平台带动相机移动，还包括灯箱，所述灯箱设于移动平台下。2.根据权利要求1所述的一种数值孔径测试系统，其特征在于，还包括平移台和样品夹具，所述平移台上设有样品夹具，所述样品夹具设于相机下方...

【专利技术属性】
技术研发人员：谢乐，于立民，
申请(专利权)人：上海倍蓝光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：