质量测试设备和方法技术

公开了用于光盘的质量测试设备，这种光盘以螺旋形或者环形图案的形式存储可光学该取的信息，该螺旋形或环形图案定义多个基本同心的轨道（３）。该设备具有激光光源（２１）和驱动机构（２２），将激光束点从激光光源投到光盘的表面，并且沿径向跨越至少一些轨道在一部分光盘表面上移动激光束点。光探测器（２１）探测所投射的激光束点在移动中的反射。该光探测器（２１）产生与该移动激光束点跨越各个轨道的路径有关的、随时间变化的测量信号（ＨＦ）。处理设备（４０）测量了光盘的选定部分的信号振幅，并提供了包括关键参数的输出，该参数例如是对于坑和脊的环形图案中的对称性和相关信号强度。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

总体来说，本专利技术涉及用于光学数据载体的测试设备，更具体地说是涉及用于测量通过读取不同轨道接收到的振幅参数的设备和方法，该设备用于一种光盘，这种光盘以螺旋形或者环形图案的形式存储可通过光学方式读取的信息，该螺旋形或环形图案定义了多个基本上同心的轨道。现有技术的描述光学数据载体用于存储大量的数字信息，该数字信息比如是代表音乐、图像或者用于计算机的数字数据，例如程序文件和数据文件。最常见类型的光学数据载体是密致盘，密致盘可以有几种不同的数据格式，在这些数据格式中CD-Audio、CD-ROM、CD-ROM XA、CD-I、CD-R和CD-RW是最常见的。在几十年前就建立了用于密致盘的标准，并且自从那时起就一直使用。在最近几年里，制造了更复杂类型的光学数据载体；DVD(数字通用盘)和SACD(超级音频CD)。上述密致盘的一个共同特征是它们都在一个较小的表面上存储了大量的信息。通过激光束以很高的准确度读取该数字信息，尽管可以根据纠错编码方法将该信息存储在密致盘上，但密致盘的生产商和经销商仍然非常希望在密致盘的生产中进行质量测试。对于CD必须执行Philips和Sony所制定的规格，而本文档来自技高网...

【技术保护点】
用于测试一种光盘（１）的信号质量设备，这种光盘（１）以螺旋形或者环形图案（２）的形式存储可通过光学方式读取的信息，该螺旋形或者环形图案（２）定义了多个同心轨道（３），其特征在于：光学读取设备（２１）；驱动机构（２２） ，该驱动机构适用于将光学读取设备（２１）沿径向跨越至少一些所述轨道（３）在盘（１）表面的一部分上移动；处理设备（４０），该处理设备适用于选择一部分从所述光学读取设备接收的随时间变化的测量信号，所述测量信号与移动的光学读取设备跨越各个 轨道的路径有关。

【技术特征摘要】
SE 2001-10-25 0103548-41.用于测试一种光盘(1)的信号质量设备，这种光盘(1)以螺旋形或者环形图案(2)的形式存储可通过光学方式读取的信息，该螺旋形或者环形图案(2)定义了多个同心轨道(3)，其特征在于光学读取设备(21)；驱动机构(22)，该驱动机构适用于将光学读取设备(21)沿径向跨越至少一些所述轨道(3)在盘(1)表面的一部分上移动；处理设备(40)，该处理设备适用于选择一部分从所述光学读取设备接收的随时间变化的测量信号，所述测量信号与移动的光学读取设备跨越各个轨道的路径有关。2.根据权利要求1所述的信号质量测试设备，其中处理设备(40)适用于测量所述部分中的信号振幅，从而识别与所述轨道中的所述信号信息相关的至少一个信号图象。3.根据权利要求1或2所述的信号质量测试设备，其中处理设备(40)从模数转换器(30)中接收测量信号，该模数转换器可操作地连接在光学读取设备(21)和处理设备之间。4.根据权利要求1-3所述的信号质量测试设备，其中处理设备(40)进一步包括用于存储程序指令和/或测量数据的存储装置(45a，b，c)。5.根据权利要求1-4所述的信号质量测试设备，其中所述处理设备(40)包括FPGA形式的控制器(41)。6.根据权利要求1-4所述的信号质量测试设备，其中所述处理设备(40)包括ASIC形式的控制器(41)。7.根据权利要求1-4所述的质量测试设备，其中所述处理设备(40)包括微处理器形式的控制器(41)。8.用于测试一种光盘(1)的信号质量的方法，这种光盘(1)以螺旋形或者环形图案(2)的形式存储可通过光学方式读取的信息，该螺旋形或者环形图案(2)定义了多个同心轨道(3)，其特征在于如下步骤光学读取设备(21)沿径向跨越至少一些所述轨道(3)对光盘(1)表面的至少一部分进行扫描(60)；产生(64)一个随时间变化的测量信号，该信号与该光学读取设备跨越各个轨道的通道有关，选择(66)至少一部分包括与单个轨道有关的信息的测量信号。9.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员：U威廉松，
申请(专利权)人：欧迪奥德弗股份公司，
类型：发明
国别省市：SE[瑞典]