光头、LD模组、光学记录和再现设备以及该光学记录和再现设备中使用的衍射元件制造技术

由衍射元件（２）将光源（１）发出的光束分为主光束和子光束。因为该衍射元件（２）具有形成为类似正弦波形状的衍射图案，所以子光束的光斑变得大于主光束的光斑。结果，子光束几乎不包含任何当光斑横跨光盘（５）上的任何一条轨迹时产生的跟踪横跨分量。因此，当从主光束的推挽信号中减去用于检测子光束的检测器输出的信号时，能够得到基本不包含ＤＣ偏移分量的跟踪误差信号或聚焦误差信号。（*该技术在2024年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光头、LD模组、光学记录和再现设备及其使用的衍射元件。
技术介绍
目前，光盘渐趋多样化，随之出现了能够针对在规格方面多样化的光盘实现稳定跟踪的光学记录和再现设备以及光头的需求。就是说，在光学记录和再现设备中，在光头移动到光盘上的一个目标轨迹上之后，必须要将光束照射在该目标轨迹上，才能将信息数据记录在光盘上的预定轨迹内。在这种情况下使用的跟踪误差检测方法可以大致分为(1)使用RF信号产生跟踪误差信号(下文中称为TE信号)的方法，比如相位差检测法或外差法，(2)使用分离开的子光束(±一阶光)来产生光盘上的TE信号的方法，比如三光束法或差分推挽(differential push pull，DPP)法，和(3)仅使用主光束(零阶光)而不使用任何RF信号的方法，比如推挽法。在这些方法中，方法(1)不能应用于诸如CD-R或DVD-R这样的需要对未登记部分进行跟踪伺服控制的介质。方法(2)具有这样的缺点方法(2)不能应用于轨距不同的多种光盘，因为光束间距的最佳值取决于每种光盘的轨距并且分离开的子光束必须要关于每种光盘的跟踪方向以μm量级的高精度进行倾斜。相反，推挽法(3)具有下本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用在光学记录和再现设备中的光头，包括：　　　　光源；　　　　衍射元件，用于将从所述光源发出的光分散为主光束和子光束；　　　　光束聚集装置，用于将所述主光束和所述子光束聚集到光盘上；和　　　　光检测装置，包括用于检测从所述光盘上反射的所述主光束的主光束检测部分和用于检测从所述光盘上反射的所述子光束的子光束检测部分，　　　　其中所述衍射元件具有波浪状曲折的栅格图案。

【技术特征摘要】
JP 2003-8-13 292952/031.一种用在光学记录和再现设备中的光头，包括光源；衍射元件，用于将从所述光源发出的光分散为主光束和子光束；光束聚集装置，用于将所述主光束和所述子光束聚集到光盘上；和光检测装置，包括用于检测从所述光盘上反射的所述主光束的主光束检测部分和用于检测从所述光盘上反射的所述子光束的子光束检测部分，其中所述衍射元件具有波浪状曲折的栅格图案。2.按照权利要求1所述的光头，其中将所述波浪状曲折的栅格图案形成得使所述栅格图案的振幅和周期都基本保持恒定。3.按照权利要求1所述光头，其中所述波浪状曲折的栅格图案具有类似正弦波的形状。4.按照权利要求1到3中任何一项所述的光头，其中将所述光源、所述衍射元件和所述光检测装置集成为激光二极管(LD)模组。5.一种光学记录和再现设备，包括光头，该光头包括光源；衍射元件，用于将从所述光源发出的光分散为主光束和子光束；光束聚集装置，用于将所述主光束和所述子光束聚集到光盘上；和光检测装置，包括用于检测从所述光盘上反射的所述主光束的主光束检测部分和用于检测从所述光盘上反射的所述子光束的子光束检测部分，其中所述衍射元件具有波浪状曲折的栅格图案；和运算装置，用于根据从所述主光束检测部分和所述子光束检测部分输出的信号计算跟踪误差信号，其中所述主光束检测部分和所述子光束检测部分均由在平行于所述光盘的跟踪方向的方向上被分为两个检测元件的均分检测器构成。6.按照权利要求5所述的光学记录和再现设备，其中所述运算装置通过从由所述主光束均分检测器以...

【专利技术属性】
技术研发人员：涩谷义一，冈祯一郎，
申请(专利权)人：TDK株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]