用于检测平台预置凹坑的设备和方法技术

技术编号:3061809 阅读:148 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一滤波器生成已经从其中去除了包括在光接收信号LAD1中的脉冲分量TR的光接收信号LAD2。一滤波器生成已经从其中去除了包括在光接收信号LBC1中的脉冲分量TR的接收光信号LBC2。一减法器从接收光信号WAD中减去接收光信号WBC,由此生成径向推挽信号WPP。一比较器比较已经从其中去除了脉冲分量的径向推挽信号WPP和基准电平VT,由此检测平台预置凹坑。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种用于从记录介质检测平台预置凹坑(land prepit)的设备和方法,在所述记录介质上以及在所述记录介质中已预先形成了记录轨道和平台预置凹坑。
技术介绍
激光束拥有具有单个波长(即,单色)、非常高的稳定性、以及对准的相位的特性。当这种激光束被照射在具有不规则性的反射面上时,反射光的强度根据该不规则性而极大地变化。激光盘、紧致盘、和DVD(数字多功能盘)作为记录介质使用,其中在反射面上形成有称为凹坑的不规则并且通过利用所述特性来存储信息。DVD的开发已经开始朝着使得压缩激光盘具有30cm直径的方向发展。然而,如果DVD被压缩以使之具有与紧致盘相同的大小,同时又保持与激光盘相同的图像质量和记录时间,则DVD可以被转换成大容量的数字存储器。目前可用的DVD包括用于计算机的DVD-RAM(随机存取存储数字多功能盘)、用于视听设备的DVD-RW(可再记录数字多功能盘)、DVD-R(可记录数字多功能盘)、DVD+RW、和DVD+R,并且他们的格式根据他们的应用而变化。用于预先格式化DVD-R和DVD-RW的方案被分类为摆动凹槽方案(wobble groove scheme)和平台预置凹坑方案。用于引导光束的凹槽被形成在诸如DVD-R和DVD-RW的记录介质中,并且在凹槽中记录数据。通过在恒定的周期将波动给予凹槽而形成摆动,并且在凹槽之间的预定位置形成平台预置凹坑。而且,在某些DVD-R和DVD-RW中,凹槽被局部地改变,由此形成平台预置凹坑。在DVD-R和DVD-RW中,在记录操作时采用的关于轨道的地址数据通过摆动和平台预置凹坑表现。平台预置凹坑还用来控制用于记录操作的记录时钟信号的相位。因此,用于向DVD-R和DVD-RW记录和从DVD-R和DVD-RW再现数据的设备配备有内置平台预置凹坑检测设备,用于从记录介质检测平台预置凹坑。在将数据记录于DVD-R和DVD-RW上时,多脉冲调制通常被用于调制光束。在DVD-R的情况下,使用具有不同功率,即,记录功率和低于记录功率的再现功率,的两种不同类型的光束。进行设置以使光束部分地落在平台以及凹槽上,并且通过利用四部分分离检测器接收从这样辐射的光束得到的反射光,并且通过将四个接收信号的各对相加而产生两个接收光信号。将与这样产生的两个接收光信号之间的差值相对应的径向推挽信号(radialpush-pull signal)与预定电平进行比较,由此检测平台预置凹坑。当利用这种推挽信号时,因为确定两个接收光信号之间的差值的电路的响应度产生不希望的噪声(其是瞬态分量)。特别地,在利用较低的再现功率间隔期间,噪声分量的电平变得与平台预置凹坑的相等,由此产生了将噪声错误地检测为平台预置凹坑的问题。为了解决这种问题,根据JP-2002-304733,在记录操作的标记期间(markperiod)不对两个接收光信号进行取样保持而是彼此相减,由此产生第一推挽信号;基于第一推挽信号检测平台预置凹坑;并且标记在此期间噪声将在检测结果中产生的信号的段(segment),由此防止错误检测的发生。在信号的空白段(space segment)期间,径向推挽信号仅在比空白段短的选通段(gatesegment)通过,以便避免在该段产生噪声。在除选通段之外的段中,执行控制操作被执行以便保持径向推挽信号,由此产生第二推挽信号。在这个信号的基础上,检测平台预置凹坑,由此防止将归因于噪声的影响的平台预置凹坑的错误检测,由此防止平台预置凹坑的错误检测的发生。由于在相关技术的情况下,在某一定时之前和之后用于屏蔽信号的多个段由此去除噪声影响的技术必须要求管理和控制将要产生选通段的信号的时间,其中在所述定时,转换在所述标记和所述空白之间起作用。这种信号的时间管理在诸如1x速度的低速记录操作中相对容易。然而,在诸如4x速度或8x速度记录操作的高速记录操作期间,标记和空白段变得更短,但是噪声段依赖于电路的响应度。并且因而变得基本上恒定或增加。因此,推挽信号被噪声占据的时间比例增加,并且因而将不会被屏蔽的段基本消失。结果,第一和第二推挽信号的有效信号段变得剧烈减少,由此产生了使得平台预置凹坑的检测实际上不可能的问题。然而,屏蔽期间的定时控制是复杂和严格的,由此产生了实施定时控制操作困难的问题。第一推挽信号包括在标记形成的初始阶段产生的脉冲分量,由此产生了难于设置用于检测平台预置凹坑的电平的问题。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种平台预置凹坑检测设备和方法,其可以在高速记录操作期间准确地提取平台预置凹坑信号,而不会受到与记录信号中的变化有关而产生的噪声以及在标记形成的初始阶段产生的脉冲分量的影响。根据本专利技术的第一方面,平台预置凹坑检测设备将与记录信号相关的光束辐射到其上预先形成有记录轨道和平台预置凹坑的记录介质上,由此检测平台预置凹坑,所述设备包括第一和第二光接收元件,其被与记录轨道的方向相对应的分离线至少划分成多个子部分(sub-division),并且接收从辐射到记录介质上的光束形成的反射光;计算装置,用于基于来自第一和第二振幅控制装置的输出产生径向推挽信号;检测装置,将径向推挽信号和预定基准值进行比较,由此在对应于标记区域(mark section)的功率辐射期间检测平台预置凹坑;以及滤波装置,其插入在第一和第二光接收元件以及检测装置之间,并衰减与记录信号中的变化相关在标记形成初始阶段中形成的脉冲分量。根据本专利技术的第二方面,平台预置凹坑检测方法包括辐射步骤,将与记录信号相对应的光束辐射到其上预先形成有记录轨道和平台预置凹坑的记录介质上;光接收步骤,通过利用光接收元件,接收从辐射到记录介质的光束形成的反射光,所述光接收元件被与记录轨道的方向相对应的分离线至少划分成多个子部分;推挽信号产生步骤,基于振幅控制之后获得的输出而产生径向推挽信号;以及检测步骤,通过比较径向推挽信号和预定基准值,在与标记区域相对应的功率辐射期间检测平台预置凹坑,其中在检测步骤之前提供脉冲分量衰减步骤,用于通过滤波操作衰减脉冲分量,该脉冲分量是与记录信号中的变化相关在标记形成初级阶段中产生的。附图说明通过结合附图对本专利技术进行详细描述,本专利技术的这些和其他目的和优点将会变得更加清楚,其中图1A至1C是用于描述本专利技术实施例的综述的波形图; 图2是描述用于接收由辐射到记录介质上的光束形成的反射光的区域的图;图3是显示当标记被记录于形成在平台上的平台预置凹坑位置时采用的接收的光信号的图;图4是根据本专利技术的第一实施例的盘的透视横断面视图;图5是显示均已事先被存储于盘中的初始信息(preliminary information)和旋转控制数据将要被记录的格式的示意图;图6是显示应用本专利技术第一实施例的平台预置凹坑检测设备的盘记录和再现设备的示意性结构的方框图;图7是显示图6所示的平台预置凹坑检测设备的内部结构的方框图;图8是显示图7所示的滤波器的滤波特性的例子的视图;图9是显示图7所示的AGC电路的内部结构的方框图;图10A至10H是用于描述本专利技术第一实施例的平台预置凹坑检测设备的操作的波形图;图11A至11C是用于描述滤波特性和径向推挽信号之间的关系的视图;图12A至12F是用于描述滤波特性和径向推挽信号之间的关系的视图;图13是显示本本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种平台预置凹坑检测设备,其将与记录信号相对应的光束辐射到具有预先形成于其上的记录轨道和平台预置凹坑的记录介质,由此检测所述平台预置凹坑,所述设备包括:    第一和第二光接收元件,其由与所述记录轨道的方向相对应的分割线至少分成多个子部分,并且接收从辐射到所述记录介质的所述光束形成的反射光;    生成装置,基于来自所述第一和第二光接收元件的输出,生成径向推挽信号;    检测装置,比较所述径向推挽信号和预定基准值,由此在用于在所述记录轨道中形成标记区域的所述光束的照射期间检测所述平台预置凹坑;以及    滤波装置,其插入在第一和第二光接收元件与所述检测装置之间,并且其衰减与所述记录信号的变化相关而生成的脉冲分量。

【技术特征摘要】
JP 2003-8-8 206978/031.一种平台预置凹坑检测设备,其将与记录信号相对应的光束辐射到具有预先形成于其上的记录轨道和平台预置凹坑的记录介质,由此检测所述平台预置凹坑,所述设备包括第一和第二光接收元件,其由与所述记录轨道的方向相对应的分割线至少分成多个子部分,并且接收从辐射到所述记录介质的所述光束形成的反射光;生成装置,基于来自所述第一和第二光接收元件的输出,生成径向推挽信号;检测装置,比较所述径向推挽信号和预定基准值,由此在用于在所述记录轨道中形成标记区域的所述光束的照射期间检测所述平台预置凹坑;以及滤波装置,其插入在第一和第二光接收元件与所述检测装置之间,并且其衰减与所述记录信号的变化相关而生成的脉冲分量。2.如权利要求1所述的平台预置凹坑检测设备,还包括第一和第二振幅控制装置,用于控制从所述第一和第二光接收元件输出的接收光的振幅为预定振幅。3.如权利要求2所述的平台预置凹坑检测设备,其中所述滤波装置对...

【专利技术属性】
技术研发人员:俵木佑二川野英作下田吉隆铃木真二清水晃
申请(专利权)人:日本先锋公司
类型:发明
国别省市:JP[日本]

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