多路闪存测试筛选系统及设备技术方案

本实用新型专利技术公开了一种多路闪存测试筛选系统，该系统包括分流模块及若干个多路测试筛选模块，分流模块的输入端与上位机的输出端连接，分流模块的输出端与各多路测试筛选模块的输入端连接，各多路测试筛选模块的输出端均与上位机的输入端连接，分流模块，用于接收上位机发送的控制通讯信号，并将控制通讯信号分流成多路子控制通讯信号，多路测试筛选模块，用于接收对应的子控制通讯信号，并基于子控制通讯信号执行多路闪存测试筛选操作，并将测试筛选操作结果发送至上位机进行结果显示，通过上述系统，实现了对一路控制通讯信号的多路分支，从而实现了对一定数量闪存的多路测试筛选操作，提高了闪存的测试筛选效率。提高了闪存的测试筛选效率。提高了闪存的测试筛选效率。

【技术实现步骤摘要】
多路闪存测试筛选系统及设备


[0001]本技术涉及测试
，尤其涉及一种多路闪存测试筛选系统及设备。

技术介绍

[0002]随着科技社会的不断发展，电子数码设备早已成为人们日常生活必不可少的物品，而随着电子设备的不断改进，为满足人们对电子设备的轻量化与便携式需求，人们对闪存的要求也在不断提升。
[0003]但由于不同制造商生产的闪存质量有所不同，且仅由闪存的外观无法辨别其质量优劣，因此需要对闪存进行测试筛选，但面对市场上种类繁多且数量较多的闪存，传统单路检测的方法效率较低，需要消耗大量的人力物力。因此，如何通过有效措施提高对闪存的测试筛选效率，成为当前亟待解决的问题。
[0004]上述内容仅用于辅助理解本技术的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。

技术实现思路

[0005]本技术的主要目的在于提供一种多路闪存测试筛选系统及设备，旨在解决现有技术闪存测试筛选效率不高的技术问题。
[0006]为实现上述目的，本技术提供了一种多路闪存测试筛选系统，所述多路闪存测试筛选系统包括分流模块及若干个多路测试筛选模块；
[0007]所述分流模块的输入端与上位机的输出端连接，所述分流模块的输出端与各多路测试筛选模块的输入端连接，各多路测试筛选模块的输出端均与所述上位机的输入端连接；
[0008]所述分流模块，用于接收上位机发送的控制通讯信号，并将所述控制通讯信号分流成多路子控制通讯信号；
[0009]所述多路测试筛选模块，用于接收对应的子控制通讯信号，并基于所述子控制通讯信号执行多路闪存测试筛选操作，并将测试筛选操作结果发送至所述上位机进行结果显示。
[0010]可选地，所述多路闪存测试筛选系统还包括桥接模块；
[0011]所述桥接模块的输入端与所述分流模块的输出端连接，所述桥接模块的输出端与各所述多路测试筛选模块的输入端连接。
[0012]可选地，所述桥接模块，用于获取所述分流模块的多路子控制通讯信号，并将所述多路子控制通讯信号发送至各所述多路测试筛选模块。
[0013]可选地，所述分流模块包括：主控单元及分流单元，所述主控单元包括一个主控芯片，所述分流单元包括若干分流芯片，所述主控芯片的输入端与所述上位机连接，所述主控芯片的输出端与所述各分流芯片的输入端连接，各所述分流芯片的输出端与所述桥接模块的各桥接芯片的输入端连接；
[0014]可选地，所述主控芯片，用于控制所述多路测试筛选模块的接入数量。
[0015]可选地，所述多路测试筛选模块包括：控制筛选单元，所述控制筛选单元包括一个控制芯片及一个存储芯片，所述控制芯片的输入端与所述各桥接芯片的输出端连接，所述控制芯片的输出端通过所述主控芯片与所述上位机连接，且所述控制芯片均连接有一存储芯片。
[0016]可选地，所述控制芯片，用于控制筛选程序的运行，得到筛选结果，并将所述筛选结果发送至所述上位机进行结果显示；
[0017]所述存储芯片，用于存储预先烧录的测试筛选程序，并将所述测试筛选程序传输至所述控制芯片，以使所述控制芯片进行测试筛选操作。
[0018]可选地，所述控制芯片，用于并行控制多个槽口，并同时对所述多个槽口的闪存进行测试筛选。
[0019]此外，为实现上述目的，本技术还提供一种电子设备，所述电子设备包含如上所述的多路闪存测试筛选系统。
[0020]本技术中的多路闪存测试筛选系统包括分流模块及若干个多路测试筛选模块；所述分流模块的输入端与上位机的输出端连接，所述分流模块的输出端与各多路测试筛选模块的输入端连接，各多路测试筛选模块的输出端均与所述上位机的输入端连接；所述分流模块，用于接收上位机发送的控制通讯信号，并将所述控制通讯信号分流成多路子控制通讯信号；所述多路测试筛选模块，用于接收对应的子控制通讯信号，并基于所述子控制通讯信号执行多路闪存测试筛选操作，并将测试筛选操作结果发送至所述上位机进行结果显示。本技术提出的多路闪存测试筛选系统，通过分流模块将上位机一路控制通讯信号分成多路子控制通讯信号，并将多路子控制通讯信号通过桥接模块传输至多个多路测试筛选模块，由此实现了一个上位机对多个测试筛选模块的控制，从而实现了多路测试筛选工作的同步进行，进而提高了闪存测试筛选的工作效率。
附图说明
[0021]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
[0022]图1为本技术多路闪存测试筛选系统第一实施例的结构示意图；
[0023]图2为本技术多路闪存测试筛选系统第一实施例的单元结构示意图；
[0024]图3为本技术多路闪存测试筛选系统第二实施例的结构示意图；
[0025]图4为本技术多路闪存测试筛选系统的连接示意图。
[0026]附图标号说明：
[0027]标号名称标号名称100上位机201主控单元200分流模块202分流单元300第一多路测试筛选模块310第一控制筛选单元30N第N多路测试筛选模块40N第N桥接芯片
400桥接模块401第一桥接芯片2011主控芯片3011第一控制芯片2021第一分流芯片301N第N控制芯片202N第N分流芯片3021第一存储芯片302N第N存储芯片31N第N控制筛选单元
[0028]本技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
[0029]应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。
[0030]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0031]需要说明，本技术实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后
……
)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。
[0032]另外，在本技术中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当人认为这种技术方案的结合不存在，也不在本技术要求的保护范围之内。
[0033]值本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多路闪存测试筛选系统，其特征在于，所述多路闪存测试筛选系统包括分流模块及若干个多路测试筛选模块；所述分流模块的输入端与上位机的输出端连接，所述分流模块的输出端与各多路测试筛选模块的输入端连接，各多路测试筛选模块的输出端均与所述上位机的输入端连接；所述分流模块，用于接收所述上位机发送的控制通讯信号，并将所述控制通讯信号分流成多路子控制通讯信号；所述多路测试筛选模块，用于接收对应的子控制通讯信号，并基于所述子控制通讯信号执行多路闪存测试筛选操作，并将测试筛选操作结果发送至所述上位机进行结果显示。2.如权利要求1所述的系统，其特征在于，所述多路闪存测试筛选系统还包括桥接模块；所述桥接模块的输入端与所述分流模块的输出端连接，所述桥接模块的输出端与各所述多路测试筛选模块的输入端连接。3.如权利要求2所述的系统，其特征在于，所述桥接模块，用于获取所述分流模块的多路子控制通讯信号，并将所述多路子控制通讯信号发送至各所述多路测试筛选模块。4.如权利要求2所述的系统，其特征在于，所述分流模块包括：主控单元及分流单元，所述主控单元包括一个主控芯片，所述分流单元包括若干分流芯片，所...

【专利技术属性】
技术研发人员：张丽丽，
申请(专利权)人：深圳市嘉合劲威电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：