微小电子元件测试用分光设备制造技术

本实用新型专利技术提供微小电子元件测试用分光设备，涉及分光设备领域，包括工作台，所述工作台内部设有测试装置，且测试装置固定安装在工作台内部表面，所述测试装置背面设有第二气缸，所述第二气缸和工作台表面之间设有支撑台，且支撑台固定在工作台内部表面，且第二气缸固定安装在支撑台表面，所述第二气缸内部的伸缩杆端部固定有标记块，且标记块贯穿测试装置表面并延伸至测试装置内部。在测试装置的背面设置了标记块，在测试的过程中，如果出现测试的测试元件不符合标准，第二气缸迅速启动，驱动伸缩杆端部的标记块紧贴固定装置，标记好之后工作人员可以更加清楚地分辨出测试元件的合格率，减少了工作人员的工作量，提高了产品效率。品效率。品效率。

【技术实现步骤摘要】
微小电子元件测试用分光设备


[0001]本技术涉及分光设备
，尤其涉及微小电子元件测试用分光设备。

技术介绍

[0002]分光机是发光二极管(又称LED)在生产过程中必需的设备，它用来对LED按照发出光的波长(颜色)、光强、电流电压大小进行分类筛选；分光机一般包括上料模块、转盘模块、测试模块和落料模块，电子元件经上料模块上料至转盘模块，然后通过转盘模块输送至测试模块测试后，最后落入相应的料箱中。
[0003]但是，目前的分光设备只适用于体积较大的LED芯片的测试，对于较小体积的LED芯片则不适用，会出现测试精度不够，运行不稳定的状况，测试的故障率较高。

技术实现思路

[0004]本技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的微小电子元件测试用分光设备。
[0005]为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：微小电子元件测试用分光设备，包括工作台，所述工作台内部设有测试装置，且测试装置固定安装在工作台内部表面，所述测试装置背面设有第二气缸，所述第二气缸和工作台表面之间设有支撑台，且支撑台固定在工作台内部表面，且第二气缸固定安装在支撑台表面，所述第二气缸内部的伸缩杆端部固定有标记块，且标记块贯穿测试装置表面并延伸至测试装置内部。
[0006]优选的，所述测试装置内部贯穿有传送装置，所述传送装置表面设有固定装置，所述固定装置内部嵌有测试元件，且测试元件和固定装置活动连接，且气缸端部的标记块和固定装置表面相抵。
[0007]优选的，所述传送装置两端设有固定板，且固定板固定在工作台内部表面，所述固定板之间设有传送辊子，所述传送辊子内部贯穿有转轴，且转轴和传送辊子固定连接，且转轴和固定板活动连接。
[0008]优选的，所述传送装置的一端设有电机，且电机的输出轴端部和转轴端部键接，所述传送辊子之间设有传送带，且两端的传送辊子通过传送带活动连接。
[0009]优选的，所述测试装置顶部设有第一气缸，且第一气缸固定安装在测试装置顶部，且第一气缸的伸缩杆贯穿测试装置顶面顶延伸至测试装置内部，且第一气缸的伸缩杆和测试装置活动连接。
[0010]优选的，所述第一气缸的伸缩杆端部设有积分球，且积分球固定在伸缩杆的端部，且积分球位于固定装置的正上方。
[0011]有益效果
[0012]本技术中，采用积分球对电子元件进行测试，测试元件固定在固定装置上，并且固定装置均放置在传送装置上，通过传送装置的传送形成流水线的形式，在通过测试装置时，测试元件所发出的光，通过积分球测试光源的光通量、色温和光效等参数，使用积分
球测量光通量时，积分球可以降低并除去由光线形状、发散角度和探测器位置的相应差异形成的误差，使测量更加精准，同时通过第一气缸的伸缩杆可以驱动积分球和测试元件之间的间距，适合对微小的电子元件测试。
[0013]本技术中，采用传送装置对整体的测试流程提供了更好的自动化技术，节省了人力，同时在测试装置的背面设置了标记块，标记块由第二气缸的伸缩杆驱动，在测试的过程中，如果出现测试的测试元件不符合标准，上位机终端会立即发送信号给第二气缸，第二气缸迅速启动，驱动伸缩杆端部的标记块紧贴固定装置，随后立即收缩，标记好之后工作人员可以更加清楚分辨出测试元件的合格率，减少了工作人员的工作量，提高了产品效率。
附图说明
[0014]图1为本技术的轴测图；
[0015]图2为本技术的俯视剖视图；
[0016]图3为本技术的侧视剖视图；
[0017]图4为本技术的正视图。
[0018]图例说明：
[0019]1、电机；2、传送带；3、测试装置；4、工作台；5、固定装置；6、传送辊子；7、积分球；8、第一气缸；9、测试元件；10、转轴；11、固定板；12、支撑台；13、第二气缸；14、标记块；15、传送装置。
具体实施方式
[0020]为了使本技术实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施例和附图，进一步阐述本技术，但下述实施例仅仅为本技术的优选实施例，并非全部。基于实施方式中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得其它实施例，都属于本技术的保护范围。
[0021]下面结合附图描述本技术的具体实施例。
[0022]具体实施例：
[0023]参照图1
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4，微小电子元件测试用分光设备，包括工作台4，工作台4内部设有测试装置3，且测试装置3固定安装在工作台4内部表面，测试装置3背面设有第二气缸13，第二气缸13和工作台4表面之间设有支撑台12，且支撑台12固定在工作台4内部表面，且第二气缸13固定安装在支撑台12表面，第二气缸13内部的伸缩杆端部固定有标记块14，且标记块14贯穿测试装置3表面并延伸至测试装置3内部。
[0024]测试装置3内部贯穿有传送装置15，传送装置15表面设有固定装置5，固定装置5内部嵌有测试元件9，且测试元件9和固定装置5活动连接，且气缸端部的标记块14和固定装置5表面相抵，传送装置15两端设有固定板11，且固定板11固定在工作台4内部表面，固定板11之间设有传送辊子6，传送辊子6内部贯穿有转轴10，且转轴10和传送辊子6固定连接，且转轴10和固定板11活动连接，传送装置15的一端设有电机1，且电机1的输出轴端部和转轴10端部键接，传送辊子6之间设有传送带2，且两端的传送辊子6通过传送带2活动连接。
[0025]测试装置3顶部设有第一气缸8，且第一气缸8固定安装在测试装置3顶部，且第一气缸8的伸缩杆贯穿测试装置3顶面顶延伸至测试装置3内部，且第一气缸8的伸缩杆和测试
装置3活动连接，第一气缸8的伸缩杆端部设有积分球7，且积分球7固定在伸缩杆的端部，且积分球7位于固定装置5的正上方。
[0026]本技术的工作原理：采用积分球7对电子元件进行测试，测试元件9固定在固定装置5上，并且固定装置5均放置在传送装置15上，通过传送装置15的传送形成流水线的形式，在通过测试装置3时，测试元件9所发出的光，通过积分球7测试光源的光通量、色温和光效等参数，使用积分球7测量光通量时，积分球7可以降低并除去由光线形状、发散角度和探测器位置的相应差异形成的误差，使测量更加精准，同时通过第一气缸8的伸缩杆可以驱动积分球7和测试元件9之间的间距，适合对微小的电子元件测试，采用传送装置15对整体的测试流程提供了更好的自动化技术，节省了人力，同时在测试装置3的背面设置了标记块，标记块由第二气缸13的伸缩杆驱动，在测试的过程中，如果出现测试的测试元件9不符合标准，上位机终端会立即发送信号给第二气缸13，第二气缸13迅速启动，驱动伸缩杆端部的标记块紧贴固定装置5，随后立即收缩，标记好之后工作人员可以更加清楚分辨出测试元件9的合格率，减少了工作人员的工作量，提高了产品效率。
[0027]在本技术中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.微小电子元件测试用分光设备，包括工作台(4)，其特征在于：所述工作台(4)内部设有测试装置(3)，且测试装置(3)固定安装在工作台(4)内部表面，所述测试装置(3)背面设有第二气缸(13)，所述第二气缸(13)和工作台(4)表面之间设有支撑台(12)，且支撑台(12)固定在工作台(4)内部表面，且第二气缸(13)固定安装在支撑台(12)表面，所述第二气缸(13)内部的伸缩杆端部固定有标记块(14)，且标记块(14)贯穿测试装置(3)表面并延伸至测试装置(3)内部。2.根据权利要求1所述的微小电子元件测试用分光设备，其特征在于：所述测试装置(3)内部贯穿有传送装置(15)，所述传送装置(15)表面设有固定装置(5)，所述固定装置(5)内部嵌有测试元件(9)，且测试元件(9)和固定装置(5)活动连接，且气缸端部的标记块(14)和固定装置(5)表面相抵。3.根据权利要求2所述的微小电子元件测试用分光设备，其特征在于：所述传送装置(15)两端设有固定板(11)，且固定板(11)固定在工作台...

【专利技术属性】
技术研发人员：宋成龙，邱信辉，
申请(专利权)人：深圳市蔚来芯科技有限公司，
类型：新型
国别省市：