薄膜磁头的个体识别方法技术

技术编号:3059622 阅读:144 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
提供一种薄膜磁头及其个体识别方法,能够避免识别信息的误检测,提高读取精度和磁头的可靠性。该薄膜磁头,根据在滑块的特定位置上付与的多位批号进行个体识别,而且,在批号附近形成用规定的检验规则提供给各批号的错误检测用的检验码。多位的批号由分别与表示磁头识别信号的数值号码相关联地设定的多个文字/数字组中的文字或数字构成,检验码是按照上述检验规则从可使用于该批号的文字/数字组中选择设定的。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及用于磁盘装置等、并具有个体识别机构的。
技术介绍
众所周知,磁头装置包括由板簧材料或挠性电路板等构成的支撑构件和安装在该支撑构件前端的磁头主体构成。磁头主体具有由氧化铝·碳化钛(Al2O3·TiC)等陶瓷材料构成的滑块,该滑块的拖动侧端面上形成有薄膜元件(磁头元件)。薄膜元件具有利用磁阻效应检测来自记录介质的漏磁场并读取磁信号的MR磁头(读取磁头)和由线圈等形成图案的感应磁头(写入磁头)。该磁头主体是通过如下工序完成的在晶片基板上一并形成多个薄膜元件后,按每个薄膜元件为切割薄膜基板,并对各基板的成为与记录介质相对置的对置面的端面施加机械加工。如果这样一次制造多个磁头主体,则在晶片单位或晶片内部出现电气特性差异,恐怕会混入不合格品。为了防止及管理这些来提高磁头的性能和可靠性,以往对各磁头主体付与识别信息(个体识别机构),希望迅速且准确地把握制造磁头时的工艺信息和产品种类信息、批量信息、初期性能和可靠性信息等。识别信息一般由数字或文字、记号等构成,例如通过激光制标或薄膜工艺形成在滑块的特定位置上(例如与记录介质相对的对置面或滑块读取面)。被付与这种识别信息的磁头和对磁头付与识别信息的方法例如记载在专利文献1~4中。专利文献1日本特开昭62-20116号公报专利文献2日本特开平4-356717号公报专利文献3日本特开平9-81922号公报专利文献4日本特开2003-76026号公报但是,由于以往在薄膜工艺中或薄膜工艺结束后将个体识别信息付与滑块,因此恐怕会在制造工序中或组装工序中附着污物而弄脏识别信息部分。识别信息一般通过图像处理读取,但是如果弄脏识别信息部分及其周围,读取精度下降,导致误检、或变成读取误差。如果发生识别信息的误检和读取误差,将不能把握该磁头的工艺信息或产品种类信息、批量信息等,磁头的可靠性变差。
技术实现思路
本专利技术为上述问题而做出,其目的在于提供一种,能够避免识别信息的误检,提高读取精度,提高磁头的可靠性。本专利技术通过设置作为识别信息的一部分的误差检测/错误修正用的检验码,可用该检验码进行检测出的识别信息的对错判断和无法检测的识别信息的复原。即,本专利技术涉及的薄膜磁头,根据在滑块的特定位置付与的多位的批号进行个体识别,其特征在于,在批号附近形成了用规定的检验规则提供给各批号的错误检测用的检验码。最好是,批号的每组规定数量的位具有一个检验码。随着近年来的磁头小型化,付与批号及检验码的空间受到限制、以及该空间将来会更加狭窄,因此,希望检验码的数量少。最好是,多位的批号由多个文字或数字构成,检验码是从在批号中可使用的文字组或数字组中选择。如果使用文字或数字,不特定多数人能容易辨认。在上述批号中可使用的文字组和数字组,与表示磁头识别信息的数值号码分别关联设定。此时,例如批号的每两位具有一个检验码,该检验码被设定成使与该批号的文字或数字对应的2个数值号码的合计成为规定值。考虑到节省空间和辨认性,批号和检验码配置成列状较为实际。此外,本专利技术涉及的薄膜磁头的个体识别方法中,薄膜磁头在滑块的特定位置上被付与了多位的批号和用规定的检测规则提供给该批号的错误检测用的检验码,并根据多位的批号进行个体识别,其特征在于,通过图像处理检测出批号和检验码,根据检验规则是否在该检测出的批号和检验码之间成立,进行检测出的批号的对错判断。最好是,多位的批号和检验码由可使用的文字组或数字组中的文字或数字构成,所述文字组或数字组同表示磁头识别信息的数值号码相关联地设定。此时,通过图像处理检测构成多位的批号和检验码的文字或数字,根据与该检测出的各文字或数字分别对应的数值号码来判断检验规则是否成立。构成多位的批号和检验码的文字或数字,可根据分别核对拍摄图像和基准图像而算出的相关值来检测,所述拍摄图像是由上述图像处理取得的多位的批号和检验码的拍摄图像,所述基准图像是在该批号和检验码中可使用的所有文字和数字的基准图像。根据上述相关值来检测构成批号和检验码的文字或数字的方式中,在检验规则在检测出的批号和检验码之间不成立的情况下,最好是,根据构成该检测出的批号各位的文字或数字的相关值,重新判断该检测出的批号的对错。根据该重新判断,可进一步提高检测精度。具体地说,例如,如果构成该检测出的批号各位的文字或数字的相关值全部在规定的阈值以上,则判断为该检测出的批号正确。与此相对,最好是,如果构成检测出的批号各位的文字或数字的任一个相关值在规定阈值以下,则判断为检测出的批号错误,根据检测出的检验码和检验规则复原批号。或者,最好是,将小于等于该阈值的文字或数字变换为规定的虚数字文字,判定为该检测出的批号错误。作为另一种方式,上述检验规则在上述检测出的批号和检验码之间不成立时,也可以判定为检测的批号错误,根据检测的检验码和上述检验规则来复原批号。或者,将检测的批号变换为规定的虚数字文字,判断为该检测出的批号错误。专利技术效果根据本专利技术,能得到磁头及其个体识别方法,能避免识别信息的误验测,能够提高读取精度和磁头的可靠性。附图说明图1是表示从滑块的滑动侧端面看应用了本专利技术的薄膜磁头的结构时的概略俯视图。图2是放大表示图1的识别信息的俯视3表示自动读取并检测识别信息的控制系统的概略结构图。图4表示图3的处理装置执行的批号自动检测动作的流程图。图5表示与图4不同方式的批号的自动检测动作的流程图。具体实施例方式图1是表示从滑块的滑动侧端面看应用了本专利技术的薄膜磁头的结构时的概略俯视图。薄膜磁头1具有与硬盘等记录盘(记录介质)对置的滑块3。滑块3是双轨型滑块,由Al2O3·TiC等非磁性材料构成。滑块3的滑动侧端面3a上并列设置了薄膜元件4和用于外部连接的焊盘5a~5d,该薄膜元件4和各焊盘5a~5d通过4根引出线6a~6b、上部连接线7和中间连接线8被导通连接。薄膜元件4是层叠MR磁头(读取磁头)和感应磁头(写入磁头)而构成的所谓的复合型薄膜磁头,MR磁头利用磁阻效应来检测来自记录磁盘D的漏磁场并读取磁信号,感应磁头中平面螺旋状的线圈等形成图案。MR磁头的MR元件的两端上分别连接了导电层E1、E2。各引出线6a~6d、上部连接线7及中间连接线8由Ni或Cu等低电阻导电材料构成。引出线6a的一端与连接在其上层形成的焊盘5a上,另一端与位于同记录磁盘D面对的写入间隙G的相反侧上的线圈C的外周端连续连接。引出线6b的一端连接在形成于其上层的焊盘5b上,另一端与线圈C的中央端、以及跨过该线圈C设在绝缘层(未图示)上的上部连接线7的两者连接。引出线6c的一端与形成在其上层的焊盘5c连接,另一端通过接触孔(未图示)与焊盘5d侧的导电层E1连接。引出线6d的一端与形成在其上层的焊盘5d连接,另一端通过接触孔(图未示)与中间连接线8连接。中间连接线8的一端连接在导电层E2上,另一端如上所述地通过接触孔(图未示)与引出线6d的另一端连接着。中间连接线8的另一端配置在靠近导电层E1的位置上,以便围绕线圈C的周围。焊盘5a~5d上分别安装了由Au构成的金属线,通过各金属线与设在外部的处理电路(未图示)连接着。通过焊盘5a、5b向薄膜元件4的感应磁头提供写入用的信号电流,通过焊盘5c、5d向MR磁头提供读取用的电流(读取电流)。在滑块3的滑动侧端面3a,还在未形成有薄膜元本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种薄膜磁头,根据在滑块的特定位置付与的多位的批号进行个体识别,其特征在于,在上述批号附近形成了用规定的检验规则提供给各批号的错误检测用的检验码。

【技术特征摘要】
JP 2004-4-20 123765/20041.一种薄膜磁头,根据在滑块的特定位置付与的多位的批号进行个体识别,其特征在于,在上述批号附近形成了用规定的检验规则提供给各批号的错误检测用的检验码。2.如权利要求1所述的薄膜磁头,其特征在于,上述批号的每组规定数量的位,具有一个上述检验码。3.如权利要求1或2所述的薄膜磁头,其特征在于,上述多位的批号由多个文字或数字构成,上述检验码是从在上述批号中可使用的文字组或数字组中选择。4.如权利要求3所述的薄膜磁头,其特征在于,在上述批号中可使用的文字组和数字组,分别与表示磁头识别信息的数值号码关联设定,上述批号的每两位具有一个上述检验码,该检验码被设定成使与该批号的文字或数字对应的2个数值号码的合计成为规定值。5.如权利要求1所述的薄膜磁头,其特征在于,上述批号和上述检验码被配置成列状。6.一种薄膜磁头的个体识别方法,在该薄膜磁头中,在滑块的特定位置上被付与多位的批号、和用规定的检验规则提供给该批号的错误检测用的检验码,并根据上述多位的批号进行个体识别,其特征在于,通过图像处理检测出上述批号和上述检验码,根据上述检验规则是否在该检测出的批号和检验码之间成立,进行上述检测出的批号的对错判断。7.如权利要求6所述的薄膜磁头的个体识别方法,其特征在于,上述多位的批号和检验码由与表示磁头识别信息的数值号码相关联地设定、且可使用的文字组或数字组中的文字或数字构成,并且,通过图像处理检测出构成上述多位的批号和检验码的文字或数字,并根据与该检测出的各文字或数字分别对应的数值号码来判断上述检验规则是否成立。8.如权利要求7所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:相村浩小沢利亮
申请(专利权)人:阿尔卑斯电气株式会社
类型:发明
国别省市:JP[日本]

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