多相位波形产生器及校正多相位波形产生模块的方法技术

技术编号:3059533 阅读:170 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术披露了一种可校正相位的多相位波形产生器及相关的相位校正方法。该多相位波形产生器包含有一多相位波形产生模块以及一校正模块。该多相位波形产生模块用来接收一输入讯号,并依据一延迟参数改变该输入讯号的相位以产生一输出讯号。该校正模块电连接于该多相位波形产生模块,用来产生对应于一第一、第二预定讯号的第一、第二参考值;依据该第一、第二参考值来决定对应一测试延迟参数的理想相位数值;以及,依据该理想相位数值来校正该多相位波形产生模块。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及多相位波形产生器,特别是涉及一种可校正相位的多相位波形产生器以及进行相位校正的相关方法。
技术介绍
随着科技的进步,各式各样具有不同应用的集成电路陆续被提出。一般在各种集成电路应用里面,常会有一些组件必须负责产生准确的多相位(multiphase)讯号,且各个不同的相位之间必须维持良好的线性关系,通常这样的装置称为「多相位波形产生器」(multiphase waveformgenerator)。举例来说,在光驱相关应用的芯片中,决定写入波形的「写入策略」(write strategy)就必须利用多相位波形产生器来产生具有特定分辨率(例如T/32或是T/64,T为一个位的时间长度)的多相位讯号输出(亦即输出讯号的相位变化的最小单位为T/32或是T/64),而各个相位之间的线性度会直接影响整个光盘片写入工作的效能(performance)。请参阅图1,图1为已知技术一多相位波形产生器的示意图。图1中的多相位波形产生器100用来接收一输入讯号SIN,依据一延迟参数n来改变输入讯号SIN的相位以产生一输出讯号SOUT。图1中的多相位波形产生器100包含有一延迟模块110以及一选择模块130。延迟模块110中包含有多个串联的延迟单元(delay unit)115,用来延迟输入讯号SIN以产生多个延迟讯号(此处共有M个延迟单元115,故总共能产生M个延迟讯号,依序为D1、D2、D3、.....DM)。选择模块130包含有一控制讯号产生器135以及一多工器140。控制讯号产生器135可依据延迟参数n来产生用以控制多工器140的控制讯号CTRL(由于此处共有M个延迟讯号输入至多工器140,故控制讯号CTRL亦可具有M种不同的状态,分别是CTRL1、CTRL2、xCTRL3、.....CTRLM,其中,CTRLX用来控制多工器140依据延迟讯号DX来产生输出讯号SOUT),控制讯号CTRL可适当地对多工器140进行讯号切换,最后多相位波形产生器100就会产生与输入讯号SIN具有不同的相位的输出讯号SOUT。换句话说,通过多工器140的切换工作,多相位波形产生器100所产生的输出讯号SOUT的下降缘(或上升缘)相对于输入讯号SIN的下降缘(或上升缘)要落后一希望的时间长度,而这希望的时间长度则由选择适当的延迟参数n的值而决定。假设图1中的多相位波形产生器的相位变化的最小单位是T/32(T是输入讯号SIN中每一个位的时间长度),则延迟参数n可以具有32个不同的值(以光驱为例,写入策略会依据输入讯号SIN的数据型样来决定延迟参数n的值),此处分别以n0、n1、n2、......、n30、n31来表示延迟参数的32个值。当接收到延迟参数nK(K为介于0与31之间的整数)之后,控制讯号产生器135会产生出对应的控制讯号CTRLJ(一般而言,控制讯号产生器135中可存有一对照表,该对照表中记录了延迟参数n的每一个值所对应到的控制讯号CTRL的状态),控制多工器140依据延迟讯号DJ来产生输出讯号SOUT,理想上而言,此时输出讯号SOUT中的下降缘(或上升缘)应该要比输入讯号SIN中的下降缘(或上升缘)延迟K/T的时间。然而,随着制程的变异或是环境参数(例如温度)的改变,延迟模块110中延迟单元115所产生的延迟时间可能会变的与设计时所假设的理想状态不同,此时若使用控制讯号产生器135中预设的对照表来依据延迟参数n决定控制讯号CTRL,则可能无法产生出具有正确相位的输出讯号SOUT。另外,如先前所述,多相位波形产生器110的每一个不同相位间必须具有不错的线性关系存在。因此,若对多相位波形产生器100的输出讯号SOUT的相位线性度有严格的要求时,则最好的方法就是设计特殊的电路,或使用特别的方法,来对多相位波形产生器进行相位校正的工作。
技术实现思路
因此本专利技术的一个目的是提供一种。根据以下的实施例,本专利技术所提出的多相位波形产生器包含有一多相位波形产生模块以及一校正模块。该多相位波形产生模块用来接收一输入讯号,并依据一延迟参数改变该输入讯号的相位以产生一输出讯号。该校正模块则电连接于该多相位波形产生模块,用来产生对应于一第一、第二预定讯号第一、第二参考值;依据该第一、第二参考值来决定对应一测试延迟参数的理想相位数值;以及,依据该理想相位数值来校正该多相位波形产生模块。另外,根据以下的实施例,本专利技术所提出的校正方法则用来对一多相位波形产生器进行相位校正的工作。该多相位波形产生器用来接收一输入讯号,并依据一延迟参数改变该输入讯号的相位以产生一输出讯号,该方法则包含有以下步骤产生对应于一第一预定讯号的第一参考值;产生对应于一第二预定讯号的第二参考值;依据该第一、第二参考值来决定对应一测试延迟参数的理想相位数值;以及,依据该理想相位数值来校正该多相位波形产生器。附图说明图1为已知技术一多相位波形产生器的示意图。图2为本专利技术的多相位波形产生器的第一实施例示意图。图3为依据二参考电压来决定各延迟参数所对应的理想电压值的示意图。图4为本专利技术的多相位波形产生器的第二实施例示意图。图5为本专利技术的多相位波形产生器相位校正方法的一实施例流程图。附图符号说明100、200、400多相位波形产生器110、210、410延迟模块115、215、415延迟单元130、230、430选择模块135、235、435控制讯号产生器140、240、440多工器250、450 校正模块260、460 相位量测模块262、266、462平均电路264 反相器268 减法器270、470 模拟至数字转换器280、480 控制模块 310 理想的电压对延迟参数关系线具体实施方式请参阅图2,图2为本专利技术的多相位波形产生器的第一实施例示意图。本实施例中的多相位波形产生器200包含有一延迟模块210、一选择模块230、以及一校正模块250。延迟模块210类似于图1中的延迟模块110,选择模块230则类似于图1中的选择模块130(不同之处在于图2中的选择模块230可以被校正,校正的方式则将于后文中说明,在此不多作赘述)。另外,为了说明上的方便,以下将以T/32作为相位变化的最小单位为例来说明本实施例中的多相位波形产生器200。本实施例中的校正模块250包含有一相位量测模块260以及一控制模块280。由于所产生的值与所接收到的讯号的相位状况有对应的关系,故此处以「相位量测模块」(phase measuring module)来作为图2中装置260的名称,图2例子中相位量测模块260包含有一平均电路262(平均电路262可以是一低通滤波器)、一反相器264、一平均电路266(平均电路266亦可是一低通滤波器)、一减法器268、以及一模拟至数字转换器(analog todigital converter,ADC)270。在进行校正工作时,首先,挑选具有明确相位的一第一预定讯号S1与一第二预定讯号S2,例如数据形态(data pattern)为100100100......的讯号的相位就相当明确,周期性地包含有1周期的高状态与2周期的低状态;数据形态为110110110......的讯号的相位亦相当明确,周期性地包含有2周期的高状态与1周期的低状态。电路会先分别使本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种多相位波形产生器,其包含有:一多相位波形产生模块,用来接收一输入讯号,并依据一延迟参数改变该输入讯号的相位以产生一输出讯号;以及一校正模块,电连接于该多相位波形产生模块,用来产生对应于一第一、第二预定讯号的第一、第二参考 值;依据该第一、第二参考值来决定对应一测试延迟参数的理想相位数值;以及,依据该理想相位数值来校正该多相位波形产生模块。

【技术特征摘要】
1.一种多相位波形产生器,其包含有一多相位波形产生模块,用来接收一输入讯号,并依据一延迟参数改变该输入讯号的相位以产生一输出讯号;以及一校正模块,电连接于该多相位波形产生模块,用来产生对应于一第一、第二预定讯号的第一、第二参考值;依据该第一、第二参考值来决定对应一测试延迟参数的理想相位数值;以及,依据该理想相位数值来校正该多相位波形产生模块。2.如权利要求1所述的多相位波形产生器,其中该多相位波形产生模块包含有一延迟模块,用来延迟该输入讯号以产生多个延迟讯号;以及一选择模块,电连接于该延迟模块,用来依据该测试延迟参数,自该多个延迟讯号中选择出一测试延迟讯号,并依据该测试延迟讯号来产生一测试输出讯号。3.如权利要求2所述的多相位波形产生器,其中在产生该第一、第二参考值时,该选择模块直接以该第一、第二预定讯号作为该输出讯号。4.如权利要求2所述的多相位波形产生器,其中该校正模块包含有一相位量测模块,电连接于该选择模块以接收该输出讯号,用来产生该第一、第二参考值与一实际相位数值;以及一控制模块,电连接于该相位量测模块,用来依据该第一、第二参考值来决定对应该测试延迟参数的理想相位数值,并比较该理想相位数值与该实际相位数值以校正该测试延迟参数所对应的实际延迟时间;其中,在该选择模块以该第一预定讯号作为该输出讯号时,该相位量测模块产生对应该第一预定讯号的第一参考值;在该选择模块以该第二预定讯号作为该输出讯号时,该相位量测模块产生对应该第二预定讯号的第二参考值;在该选择模块以该测试输出讯号作为该输出讯号时,该相位量测模块产生对应该测试输出讯号的实际相位数值。5.如权利要求4所述的多相位波形产生器,其中该相位量测模块包含有一平均电路,电连接于该选择模块,用来量测该输出讯号的平均电压;以及一模拟至数字转换器,电连接于该平均电路与该控制模块,用来依据该输出讯号的平均电压产生该第一、第二参考值与该实际相位数值;其中,该第一参考值对应于该第一预定讯号的平均电压;该第二参考值对应于该第二预定讯号的平均电压;该实际相位数值对应于该测试输出讯号的平均电压。6.如权利要求5所述的多相位波形产生器,其中该平均电路为一低通滤波器。7.如权利要求4所述的多相位波形产生器,其中该相位量测模块包含有一反相器,电连接于该选择模块,用来产生该输出讯号的反相讯号;一第一平均电路,电连接于该选择模块,用来产生该输出讯号的平均电压;一第二平均电路,电连接于该反相器,用来产生该反相讯号的平均电压;以及一减法器,电连接于该第一、第二平均电路,用来产生该输出讯号的平均电压与该反相讯号的平均电压间的电压差;以及一模拟至数字转换器,电连接于该减法器与该控制模块,用来依据该输出讯号的平均电压与该反相讯号的平均电压间的电压差产生该第一、第二参考值与该实际相位数值;其中,在该选择模块以该第一预定讯号作为该输出讯号时,该模拟至数字转换器产生该第一参考值;在该选择模块以该第二预定讯号作为该输出讯号时,该模拟至数字转换器产生该第二参考值;在该选择模块以该测试输出讯号作为该输出讯号时,该模拟至数字转换器产生该实际相位数值。8.如权利要求7所述的多相位波形产生器,其中该第一与该第二平均电路皆为低通滤波器。9.如权利要求1所述的多相位波形产生器,其中该第一预定讯...

【专利技术属性】
技术研发人员:徐哲祥凃维轩
申请(专利权)人:联发科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:71[中国|台湾]

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