光学记录媒体的缺陷管理方法及装置制造方法及图纸

技术编号:3057828 阅读:128 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种用于光学记录媒体的缺陷管理的方法,使用多个临时缺陷管理区域(TDMA)使缺陷管理信息可记录在诸如只写一次Blu-ray盘的光学记录媒体的指定区域,以包括在各临时缺陷管理区域中指定最后缺陷管理区域的位置的信息,以表示最近记录区域并因此包含最新的信息。缺陷管理信息记录(更新)在两个临时缺陷管理区域之一中,其中使用中盘的缺陷管理信息记录在一个TDMA中,而退出盘的缺陷管理信息记录在另一TDMA中,从而在退出该盘时记录使用中盘最后的缺陷管理信息。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及光学记录媒体,尤其涉及光学记录媒体的缺陷管理方法和使用该方法的光学记录媒体,其中多个临时缺陷管理区域用于缺陷管理。
技术介绍
光盘广泛用作长期存储大量数据的记录媒体。这种记录媒体可分为两大类,包括可重写盘和只写一次类型的盘。在使用只写一次类型盘来记录数据时,对任何给定区域只能执行一次写操作,而可重写盘就提供了大得多的灵活性,特别是在缺陷区域管理方面。缺陷区域是因光学记录媒体中的制造缺陷或后来对光学记录媒体表面上的破坏而导致的,它使得无法在一个或多个簇上记录数据。如果在数据记录到光盘的期间发现缺陷区域,则写入缺陷区域的数据被重写到由制造商分配的可选区域中。同时,标识缺陷区域及其替换记录区域的定位器信息被记录下来用于一给定盘的缺陷,作为缺陷管理区域(DMA)内的缺陷管理信息。因而,即使盘在记录表面上出现缺陷,记录在光盘上的数据仍可得到重现。然而,该技术通常应用于可重写盘,它允许对所有数据记录区域的自由访问。因此任何必需的缺陷管理都可用相对较小的DMA来完成,该DMA启用高速记录。另一方面,只写一次类型盘因为其固有的写功能限制而需要更大的DMA和更复杂的缺陷管理,且作为结果,数据记录操作通常需要多得多的时间。同时,称为HD-DVD的新型的高密度光学记录媒体已经用来记录并存储高质量的音频和视频数据。HD-DVD记录媒体的一个示例是蓝射线(Blu-ray)盘,这样命名是因为使用了蓝色射线(405纳米),它的密度比常规DVD使用的红色射线要大得多,因此可在标准尺寸的光盘上存储大得多的数据量。该技术的标准化正在进行之中,以包括只写一次Blu-ray盘(BD-WO)和可重写Blu-ray盘(BD-RE)的标准,特别是有关在数据记录操作期间检测的缺陷区域的检测和管理的标准。重要的是,对只写一次类型盘(例如BD-WO盘)的缺陷管理的任何标准应考虑使用可重写盘(例如BD-RE盘)的缺陷管理。因而,一个标准应当包括尽可能多的与另一个的共同特征,以在努力进行有效记录缺陷管理信息时维护一致性和兼容性,以便于稳定的数据重现操作。在任何情形中,缺陷区域的管理在数据记录期间是关键,特别是对于诸如Bluray盘的高密度DVD,但当前的BD WO标准并不充分。需要一种统一化的标准,它可以适应商业系统对光学数据存储的渐进需求。
技术实现思路
因此,本专利技术涉及用于光学记录媒体的缺陷管理方法,以及使用该方法的光学记录媒体,基本上解决了因为相关技术的限制和缺点而引起的一个或多个问题。现已设计成要解决前述问题的本专利技术的目标,在于提供一种方法和装置,通过它缺陷管理信息被记录在诸如只写一次Blu-ray盘的光学记录媒体的多个临时缺陷管理区域,以包括指定在临时缺陷管理区域中的上一个或最近缺陷管理区域的位置的信息,从而表示最近记录区域并因此包含最新信息。本专利技术的另一个目标是提供光学记录媒体的缺陷管理方法,其中记录时间减少。本专利技术的另一个目标是提供光学记录媒体的缺陷管理方法,它便于实时记录。本专利技术的另一个目标是提供只写一次光学记录媒体的统一化标准。本专利技术的另一个目标是提供与可重写光学记录媒体兼容的这种标准。本专利技术的另一个目标是提供在将数据记录在只写一次光学记录媒体期间用于管理缺陷区域的更有效方法。本专利技术的另一个目标是提供一种用于在光学记录媒体上进行记录的方法,其中提高了数据安全性和数据完整性。本专利技术的另一个目标是提供一种用于在光学记录媒体上记录管理信息的方法,它能使对媒体的连续版本的适应成为可能。本专利技术的另一个目标是提供一种采用以上方法的光学记录媒体。本专利技术的其它特征和优点将在随后描述中进行阐述,且对本领域技术人员而言在细读以下内容时这些特征和优点将部分地显而易见,或可从本专利技术的实践中学习。本专利技术的目标和其它优点将通过在说明书、权利要求书以及附图中特别指出的主题内容来实现并获取。为了根据本专利技术实现这些目标和其它优点,如在此包括并广泛描述的,提供了一种对具有多个临时缺陷管理区域的只写一次光学记录媒体进行缺陷管理的方法,该方法包括将盘的定义结构信息记录在多个临时缺陷管理区域的至少之一的步骤,其中该盘定义结构信息包括持续更新的缺陷管理信息以及用于访问持续更新的缺陷管理信息的定位器信息。多个临时缺陷管理区域包括第一临时缺陷管理区域,用于记录在记录期间持续更新的盘管理信息,以及第二临时缺陷管理区域,用于记录在记录时间终止时持续更新的盘管理信息。在本专利技术的另一方面中,提供了一种具有多个临时缺陷管理区域的只写一次光学记录媒体,其中缺陷管理信息在临时缺陷管理区域的至少之一中持续更新并记录。该持续更新的缺陷管理信息记录在每个临时缺陷管理区域中。对只写一次Blu ray盘具体作出以下详细描述。然而,其它只写一次类型盘记录媒体也可采用本专利技术的方法和装置。此外,尽管大多数适用于使用BD WO格式的光盘,本专利技术基本原理可由使用其它格式的光盘所采用,用于提高数据安全性和数据整体性。此外,尽管本专利技术各个实施例参照单层光学记录媒体进行描述,相同的一般盘结构和缺陷管理方法可应用于双层光学记录媒体,其中使用了两个主要TDMA(每层一个)以及三个附加TDMA。可以理解,本专利技术的前面描述和随后的详细描述都是示例性和解释性的,并旨在提供对所揭示的本专利技术的进一步解释。附图说明参阅附图,本专利技术的其它目的和优点可从以下详细描述中得到更全面的理解,在附图中图1是用于示出根据本专利技术用于光学记录媒体的缺陷管理方法的示图;图2A-2C是图1的TDMA的示图,其中图2A和2B示出本专利技术的缺陷管理方法的正常操作,且图2C示出一失败情形;图3A和3B是图1的TDMA的示图,示出记录缺陷管理信息的可选方案;以及图4是图1的TDMA的示图,示出根据本专利技术另一实施例记录缺陷管理信息。具体实施例方式现在将详细引用本专利技术的优选实施例,其示例在附图中示出。在这些附图中,类似元件使用相同或相似标号指示。图1示出诸如Blu-ray盘的只写一次光盘的记录区域,以根据本专利技术示出用于光学记录媒体的缺陷管理方法,其中缺陷管理信息被记录在临时缺陷管理区域(TDMA)。对于光盘记录媒体的每一层,都向光盘提供多个这种TDMA,其中每个TDMA占据至少一个簇。每个TDMA都包括临时盘定义结构(TDDS)信息和临时缺陷列表或TDFL,它们通常是串联记录的,但为了本专利技术略去了对TDFL的具体说明和讨论。除了持续更新的计数器之外,TDDS信息包括与缺陷管理的最后(最新)出现相对应的定位器信息(即物理簇号码或PSN)。因而,缺陷管理信息基于最后缺陷管理的定位器信息来记录并再现。这样做时,最后缺陷管理的定位器信息记录在TDMA中,该信息被记录为最后TDDS的第一PSN形式的新字段以便每个字段占据4个字节。在第一个优选实施例中,定位器信息可由单个记录表示,以在所有TDMA中指示最后记录的TDDS。在第二个优选实施例中,定位器信息可由多个记录表示,来为各个TDMA指示最后记录的TDDS。在此,假设两个TDMA为TDMA1和TDMA2,TDDS信息将包括TDMA1的最后记录TDDS的第一PSN,以及TDMA2的最后记录TDDS的第一PSN。在任一种情形中,定位器信息记录的一个实例对缺陷管理的每个实例执行,并与当前TDDS的位置相对应。同时,T本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种对具有多个临时缺陷管理区域的只写一次光学记录媒体的缺陷管理的方法,所述方法包括将盘定义结构信息记录在所述多个临时缺陷管理区域的至少之一的步骤,其特征在于,所述盘定义结构信息包括持续更新的缺陷管理信息和用于访问所述持续更新的缺陷管理信息的定位器信息。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】KR 2003-2-25 10-2003-0011831;KR 2003-4-15 10-2003-1.一种对具有多个临时缺陷管理区域的只写一次光学记录媒体的缺陷管理的方法,所述方法包括将盘定义结构信息记录在所述多个临时缺陷管理区域的至少之一的步骤,其特征在于,所述盘定义结构信息包括持续更新的缺陷管理信息和用于访问所述持续更新的缺陷管理信息的定位器信息。2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述定位器信息对应于所述多个临时缺陷管理区域之一。3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述定位器信息对应于所述多个临时缺陷管理区域的每一个。4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述临时缺陷管理区域的数量是两个。5.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述多个临时缺陷管理区域包括第一临时缺陷管理区域,用于记录在记录期间持续更新的盘管理信息,以及第二临时缺陷管理区域,用于记录在结束所述记录时间之后的持续更新的盘管理信息。6.如权利要求5所述的方法,其特征在于,所述定位器信息记录在所述记录媒体的预定区域。7.如权利要求6所述的方法,其特征在于,所述记录媒体的预定区域是所述第一和第二临时缺陷管理区域之一。8.如权利...

【专利技术属性】
技术研发人员:朴容彻金成大
申请(专利权)人:LG电子株式会社
类型:发明
国别省市:KR[韩国]

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