阵列基板的检测装置、检测系统和检测方法制造方法及图纸

本申请实施例涉及一种阵列基板的检测装置、检测系统和检测方法，所述阵列基板的检测装置，包括：像素基板；机械臂，设有与所述像素基板连接的阴极引线以向所述像素基板传输第一电位，所述机械臂用于移动所述像素基板，以使所述像素基板与阵列基板连接并接收来自所述阵列基板的第二电位，所述第一电位与所述第二电位之间的电位差用于驱动所述像素基板发光；探针，用于向所述阵列基板传输所述第二电位；和光学检测设备，对应于所述像素基板的发光区而设置，用于检测所述像素基板的亮态光学性能以确定所述阵列基板是否存在异常。性能以确定所述阵列基板是否存在异常。性能以确定所述阵列基板是否存在异常。

【技术实现步骤摘要】
阵列基板的检测装置、检测系统和检测方法


[0001]本申请实施例涉及检测
，特别是涉及阵列基板的检测装置、检测系统和检测方法。

技术介绍

[0002]在制作显示设备的阵列基板时，需要在制备完成阵列基板中的各个电路结构后，对阵列基板输出的信号波形进行检测，以确定阵列基板中的信号线和元件是否存在电性不良。但是，阵列基板包括阵列排布的多个驱动电路，而每个驱动电路都包括多个薄膜晶体管(Thin Film Transistor，TFT)，每个TFT都会导致信号波形发生变化，从而造成检测结果的准确性不足。

技术实现思路

[0003]本申请实施例提供了一种阵列基板的检测装置、检测系统和检测方法，可以优化阵列基板的接触准确性。
[0004]一种阵列基板的检测装置，包括：
[0005]像素基板；
[0006]机械臂，设有与所述像素基板连接的阴极引线以向所述像素基板传输第一电位，所述机械臂用于移动所述像素基板，以使所述像素基板与阵列基板连接并接收来自所述阵列基板的第二电位，所述第一电位与所述第二电位之间的电位差用于驱动本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种阵列基板的检测装置，其特征在于，包括：像素基板；机械臂，设有与所述像素基板连接的阴极引线以向所述像素基板传输第一电位，所述机械臂用于移动所述像素基板，以使所述像素基板与阵列基板连接并接收来自所述阵列基板的第二电位，所述第一电位与所述第二电位之间的电位差用于驱动所述像素基板发光；探针，用于向所述阵列基板传输所述第二电位；和光学检测设备，对应于所述像素基板的发光区而设置，用于检测所述像素基板的亮态光学性能以确定所述阵列基板是否存在异常。2.根据权利要求1所述的阵列基板的检测装置，其特征在于，所述像素基板包括：阴极，与所述阴极引线连接，用于通过所述阴极引线接收所述第一电位；发光层，层叠设于所述阴极上，所述发光层用于连接所述阵列基板，接收来自所述阵列基板的所述第二电位，并在所述第一电位与所述第二电位之间的电位差下发光。3.根据权利要求2所述的阵列基板的检测装置，其特征在于，所述发光层的材料为有机发光材料。4.根据权利要求2所述的阵列基板的检测装置，其特征在于，还包括：电流测试线，设于所述机械臂且与所述阴极连接，用于传输所述阴极输出的电流信号，所述电流信号用于表征所述像素基板的电学性能。5.根据权利要求1所述的阵列基板的检测装置，其特征在于，所述像素基板设有第一对位标记，所述光学检测设备还用于获取所述第一对位标记的对位图像，并根据所述对位图像控制所述机械臂移动，以使所述第一对位标记与所述阵列基板上的第二对位标记在投影方向上重合，所述投影方向垂直于所述像素基板。6.根据权利要求1所述的阵列基板的检测装置，其特征在于，还包括：连接件，所述连接件的一端与所述像素基板连接，所述连接件的另一端用于与所述阵列基板可拆卸连接，所述连接件连接于所述阵列基板时，用于限制所述阵列基板的移动。7.根据权利要求1所述的阵列基板的检测装置，其特征在于，所述光学检测设备设于所述机械臂，所述机械臂还用于移动所...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵凯祥，
申请(专利权)人：OPPO广东移动通信有限公司，
类型：发明
国别省市：