小型双极化宽带EMI测试天线制造技术

本申请公开了一种小型双极化宽带EMI测试天线，包括有天线主体，所述天线主体包括有杆天线、水平极化双锥天线和垂直极化双锥天线，所述水平极化双锥天线和所述垂直极化双锥天线均设置在所述杆天线上，且所述天线主体的尺寸小于300mm*500mm*200mm。如此设置，将杆天线、水平极化双锥天线和垂直极化双锥天线组合起来，构成一个天线组，以覆盖整个试验的频段，方便试验，并且达到了双极化和宽频带的目的，使用该小型双极化宽带EMI测试天线，提高了整改效率，节省了试验费用，解决了在常规的EMI试验中天线的尺寸较大不能满足小型化EMI试验平台的要求的问题。台的要求的问题。台的要求的问题。

【技术实现步骤摘要】
小型双极化宽带EMI测试天线


[0001]本申请涉及EMI试验
，更具体地说，涉及一种小型双极化宽带EMI测试天线。

技术介绍

[0002]EMI试验是电子产品电磁兼容中最基本的项目。在一个产品的过程中，往往伴随着整改，需要频繁地对整改效果进行验证。为了提高整改效率，节省试验费用，需要在一个较小的屏蔽柜内进行EMI试验，而常规的EMI试验，占用空间较大，并且在试验过程中，需要调整天线的极化方向，而由于天线的尺寸较大而不能满足小型化EMI试验平台的要求。
[0003]因此，如何解决在常规的EMI试验中天线的尺寸较大不能满足小型化EMI试验平台的要求的问题，是本领域技术人员所要解决的关键技术问题。

技术实现思路

[0004]为至少在一定程度上克服相关技术中存在的问题，本申请的目的在于提供一种小型双极化宽带EMI测试天线，其能够解决在常规的EMI试验中天线的尺寸较大不能满足小型化EMI试验平台的要求的问题。
[0005]本申请提供了一种小型双极化宽带EMI测试天线，包括有天线主体，所述天线主体包括有杆天线、水平极化双锥天线和垂直极化双锥天线，所述水平极化双锥天线和所述垂直极化双锥天线均设置在所述杆天线上，且所述天线主体的尺寸小于300mm*500mm*200mm。
[0006]优选地，所述天线主体还包括有与所述杆天线电连接的第一低噪声放大器、与所述水平极化双锥天线电连接的第二低噪声放大器和与所述垂直极化双锥天线电连接的第三低噪声放大器。
[0007]优选地，所述天线主体还包括有用于固定所述杆天线的支架、用于固定所述水平极化双锥天线的第一外壳和用于固定所述垂直极化双锥天线的第二外壳，所述第一外壳和所述第二外壳均安装在所述支架上。
[0008]优选地，所述杆天线设置在所述支架内，所述水平极化双锥天线设置在所述第一外壳内，所述垂直极化双锥天线设置在所述第二外壳内。
[0009]优选地，所述第一外壳位于所述第二外壳的上方。
[0010]优选地，所述支架包括有底座和固定连接在所述底座上的两个支脚，所述第一外壳和所述第二外壳安装在所述两个支脚上。
[0011]优选地，所述第一外壳和所述第二外壳均通过螺栓安装在所述支架上。
[0012]优选地，所述第一低噪声放大器、所述第二低噪声放大器和所述第三低噪声放大器均通过线缆与控制电路板电连接。
[0013]优选地，所述支脚的底端与所述底座通过螺栓固定连接。
[0014]优选地，所述第一外壳和所述第二外壳均为长方体结构。
[0015]本申请提供的技术方案可以包括以下有益效果：
[0016]本申请提供了一种小型双极化宽带EMI测试天线，包括有天线主体，天线主体包括有杆天线、水平极化双锥天线和垂直极化双锥天线，并且水平极化双锥天线和垂直双锥天线均设置在杆天线上，以将杆天线、水平极化双锥天线和垂直极化双锥天线组合起来，构成一个天线组，以覆盖整个试验的频段，方便试验，并且达到了双极化和宽频带的目的。水平极化双锥天线和垂直双锥天线均设置在杆天线上，减小了天线主体的占用空间，从而使该小型双极化宽带EMI测试天线的体积减小，天线主体的尺寸小于300mm*500mm*200mm，即天线主体的长度小于300mm，天线主体的高度小于500mm，天线主体的宽度小于200mm，这样，达到小型化的目的，使其能够在一个较小的屏蔽柜内进行EMI试验。
[0017]如此设置，使用该小型双极化宽带EMI测试天线，提高了整改效率，节省了试验费用，解决了在常规的EMI试验中天线的尺寸较大不能满足小型化EMI试验平台的要求的问题。
[0018]应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本申请。
附图说明
[0019]此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本申请的实施例，并与说明书一起用于解释本申请的原理。
[0020]图1是根据一些示例性实施例示出的本小型双极化宽带EMI测试天线的立体图；
[0021]图2是根据一些示例性实施例示出的杆天线与第一低噪声放大器的连接关系图；
[0022]图3是根据一些示例性实施例示出的水平极化双锥天线天线与第二低噪声放大器的连接关系图；
[0023]图4是根据一些示例性实施例示出的垂直极化双锥天线与第三低噪声放大器的连接关系图。
[0024]图中：
[0025]1、杆天线；2、水平极化双锥天线；3、垂直极化双锥天线；4、第一低噪声放大器；5、第二低噪声放大器；6、第三低噪声放大器；7、第一外壳；8、第二外壳；9、支脚；10、底座。
具体实施方式
[0026]这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本申请相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本申请的一些方面相一致的装置的例子。
[0027]参考图1
‑
图4，本具体实施方式提供了一种小型双极化宽带EMI测试天线，包括有天线主体，天线主体包括有杆天线1、水平极化双锥天线2和垂直极化双锥天线3，并且水平极化双锥天线2和垂直双锥天线均设置在杆天线1上，以将杆天线1、水平极化双锥天线2和垂直极化双锥天线3组合起来，构成一个天线组，以覆盖整个试验的频段，方便试验，并且达到了双极化和宽频带的目的。
[0028]需要说明的是，本小型双极化宽度EMI测试天线可以覆盖2MHz
‑
2GHz的频段。
[0029]水平极化双锥天线2和垂直双锥天线均设置在杆天线1上，减小了天线主体的占用
空间，从而使该小型双极化宽带EMI测试天线的体积减小，达到小型化的目的，使其能够在一个较小的屏蔽柜内进行EMI试验。
[0030]其中，天线主体的尺寸小于300mm*500mm*200mm，即天线主体的长度小于300mm，天线主体的高度小于500mm，天线主体的宽度小于200mm，这样，达到小型化的目的，使其能够在一个较小的屏蔽柜内进行EMI试验。
[0031]如此设置，使用该小型双极化宽带EMI测试天线，提高了整改效率，节省了试验费用，解决了在常规的EMI试验中天线的尺寸较大不能满足小型化EMI试验平台的要求的问题。
[0032]本实施例中，如图2
‑
图4所示，天线主体还包括有第一低噪声放大器4、第二低噪声放大器5和第三低噪声放大器6，其中，第一低噪声放大器4与杆天线1电连接，第二低噪声放大器5与水平极化双锥天线2电连接，第三低噪声放大器6与垂直极化双锥天线3电连接，这样，由于使天线小型化会降低接收灵敏度，从而通过低噪声放大器能够弥补天线主体灵敏度损失。
[0033]这里，第一低噪声放大器4、第二低噪声放大器5和第三低噪声放大器6分别设置在杆天线1、水平极化双锥天线2和垂直本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种小型双极化宽带EMI测试天线，其特征在于，包括有天线主体，所述天线主体包括有杆天线(1)、水平极化双锥天线(2)和垂直极化双锥天线(3)，所述水平极化双锥天线(2)和所述垂直极化双锥天线(3)均设置在所述杆天线(1)上，且所述天线主体的尺寸小于300mm*500mm*200mm。2.根据权利要求1所述的小型双极化宽带EMI测试天线，其特征在于，所述天线主体还包括有与所述杆天线(1)电连接的第一低噪声放大器(4)、与所述水平极化双锥天线(2)电连接的第二低噪声放大器(5)和与所述垂直极化双锥天线(3)电连接的第三低噪声放大器(6)。3.根据权利要求1所述的小型双极化宽带EMI测试天线，其特征在于，所述天线主体还包括有用于固定所述杆天线(1)的支架、用于固定所述水平极化双锥天线(2)的第一外壳(7)和用于固定所述垂直极化双锥天线(3)的第二外壳(8)，所述第一外壳(7)和所述第二外壳(8)均安装在所述支架上。4.根据权利要求3所述的小型双极化宽带EMI测试天线，其特征在于，所述杆天线(1)设置在所述支架内，所述水平极化双锥天线(2)设置在所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨继深，高长春，
申请(专利权)人：东展科博北京技术有限公司，
类型：新型
国别省市：