【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种在读和/或写设备中定位信息载体的系统。本专利技术还涉及所述信息载体。本专利技术应用在光学数据存储领域。
技术介绍
光学存储解决方案的使用现在广泛地用于内容分配,例如,在基于DVD(数字多功能光盘)标准的存储系统。光存储比硬盘或固态存储具有显著优势,原因在于信息载体复制容易且便宜。然而,由于驱动中大量的移动元件,考虑这种操作过程中所述移动元件所需的稳定性,已知使用的光存储解决方案的应用对于在执行读/写操作时的冲击不够坚固。因此,光学存储解决方案不易且不能有效地用在易受冲击的应用中,例如在便携式装置中。已经研发了新的光学存储解决方案。这些方案结合了光学存储使用便宜和可移动信息载体的优点,以及固态存储的信息载体是静态且其读取需要有限数量移动元件的优点。
技术实现思路
本专利技术的一个目的是提供一种用于在读和/或写设备中相对于光点阵列精确定位信息载体的系统。根据本专利技术的系统包括-光学元件,用于产生将应用于信息载体的光点周期阵列,所述信息载体包括第一周期结构,用于与所述光点周期阵列发生干涉以产生第一莫尔图形;以及第二周期结构,用于与所述光点的周期阵列干涉以产生第二莫尔图形,所述第二周期结构与所述第一周期结构垂直放置,-第一分析装置,用于根据所述第一和第二莫尔图形得出所述光点周期阵列和所述信息载体之间的空间位置, -第一执行装置,基于根据所述空间位置得出的控制信号,调节所述信息载体相对于所述光点阵列的空间位置。光点阵列应用到信息载体,以读取存储在数据区域上的数据。信息载体对应于透明或不透明基本数据区域的矩阵;光点阵列是规则的并定义了周期栅格。根 ...
【技术保护点】
一种系统,包括:-光学元件(102),用于产生将应用于信息载体(101)的光点周期阵列(103),所述信息载体(101)包括第一周期结构(108),用于与所述光点周期阵列(103)发生干涉以产生第一莫尔图形;以及第二周期结构(109),用于与所述光点的周期阵列(103)干涉以产生第二莫尔图形,所述第二周期结构(109)与所述第一周期结构(108)垂直放置,-第一分析装置(118),用于根据所述第一和第二莫尔图形得出所述光点周期阵列(103)和所述信息载体(101)之间的空间位置(x,y),-第一执行装置(AC1-AC2),基于根据所述空间位置(x,y)得出的控制信号(122),调节所述信息载体(101)相对于所述光点阵列(103)的空间位置。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】EP 2004-4-28 04300240.11.一种系统,包括-光学元件(102),用于产生将应用于信息载体(101)的光点周期阵列(103),所述信息载体(101)包括第一周期结构(108),用于与所述光点周期阵列(103)发生干涉以产生第一莫尔图形;以及第二周期结构(109),用于与所述光点的周期阵列(103)干涉以产生第二莫尔图形,所述第二周期结构(109)与所述第一周期结构(108)垂直放置,-第一分析装置(118),用于根据所述第一和第二莫尔图形得出所述光点周期阵列(103)和所述信息载体(101)之间的空间位置(x,y),-第一执行装置(AC1-AC2),基于根据所述空间位置(x,y)得出的控制信号(122),调节所述信息载体(101)相对于所述光点阵列(103)的空间位置。2.如权利要求1所述的系统,其中所述信息载体还包括第三周期结构(112),用于与所述光点周期阵列(103)发生干涉以产生第三莫尔图形,所述第三周期结构(112)与所述第一周期结构(108)平行并相对放置,所述系统还包括-第二分析装置(119),用于根据所述第一和第三莫尔图形得出所述光点周期阵列(103)和所述信息载体(101)之间的角度值(θ),-第二执行装置(AC3-AC4-AC5),基于根据所述角度值(θ)得出的控制信号(123),来调整所述信息载体(101)相对于所述光点阵列(103)的角度位置。3.如权利要求1所述的系统,其中所述信息载体还包括第三周期结构(112),用于与所述光点周期阵列(103)发生干涉以产生第三莫尔图形,以及第四周期结构(114),用于与所述光点周期阵列(103)发生干涉以产生第四莫尔图形,所述第三周期结构(112)与所述第一周期结构(108)平行并相对放置,所述第四周期结构(114)与所述第二周期结构(109)平行并相对放置,所述系统还包括-第二分析装置(119),用于根据所述第一和第三莫尔图形以及所述第二和第四莫尔图形得出所述光点周期阵列(103)和所述信息载体(101)之间的角度值(θ),-第二执行装置(AC3-AC4-AC5),基于根据所述角度值(θ)得出的控制信号(123),来调整所述信息载体(101)相对于所述光点阵列(103)的角度位置。4.如权利要求2或3所述的系统,还包括-第三分析装置(120),用于根据所述光点周期阵列(103)的周期(p)、所述角度值(θ)以及所述第一、第二、第三或第四周期结构(108、109、112、114)与所述第一、第二、第三或第四莫尔图形之间的角度(φ),得出所述第一、第二、第三或第四周期结构(108、109、112、114)的周期(s)的测量。-第三执行装置(PF),基于根据所述周期(s)的测量得出的...
【专利技术属性】
技术研发人员:T德霍格,R亨德里克斯,A卡斯特利恩,P范德瓦勒,
申请(专利权)人:皇家飞利浦电子股份有限公司,
类型:发明
国别省市:NL[]
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