磁盘存储装置及其控制方法制造方法及图纸

提供一种磁盘存储装置和用于该磁盘存储装置的控制方法，该磁盘存储装置能够消除由热变形引起的粘－滑所产生的偏离－磁道写入。一种磁盘装置１设有磁盘１０，对磁盘１０进行写入的磁头１１，以及检测磁盘装置１内部的温度的温度传感器２０。而且，磁盘装置１基于由温度传感器２０检测到的测量温度以及使用该测量温度计算的温度变化量，改变用来判定是否禁止通过磁头１１对磁盘１０进行写入的判定条件。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种磁盘存储装置，典型的为磁盘装置，更具体地说，涉及一种排除由于受振动影响的错误写入的技术，该振动由配置磁盘存储装置的部件的热变形所引起。
技术介绍
在由每个具有不同热膨胀系数的多个部件配置的磁盘装置中，这些部件之间的热膨胀系数的差异对部件的连接部分引起应力，也就是热变形。如果由该热变形引起的应力被集中在特定的部分，那么这将导致称作“颤振”或“粘-滑”的振动。众所周知随着快速温度变化超过固定温度梯度，容易发生源于热变形的粘-滑。这里该温度梯度意思是每单位时间的温度变化量。因为最近以更高密度压缩用于记录的磁盘装置，因此即使轻微的粘-滑，记录磁头也易于振动，且因此产生偏离-磁道写入。因此有引起任意相邻磁道中记录的数据的毁坏的问题。为了减小源于组成部件当中的热膨胀系数差异引起的热变形的目的，例如，专利文献1描述了通过减小由用于磁盘装置的镁合金制成的支撑架的热膨胀系数，以及通过减小由用于组合使用的其他材料的热膨胀系数差异引起的热应力和热变形，提供一种可靠性高的支撑架的技术。专利文献1中描述的技术实际上提供减小热变形的效果。但是，随着高度-压缩用于记录的磁盘装置，存在即使轻微的粘-滑，也引起记录数据毁坏的可能性，以及具有完全防止由于热变形而发生的粘-滑的困难，因为该磁盘装置由多个部件构成。因此仍然留下由于粘-滑导致记录数据毁坏的可能性。另一方面，关于用于磁盘装置的典型即磁盘存储装置的技术，迄今为止已经提交了很多项专利申请，旨在保护记录数据和增加装置可靠性，而与温度环境无关。例如，专利文献2描述了这样的技术设置有温度传感器，其用于检测磁盘装置内的温度，并根据该温度是否在用于磁盘装置的操作保证温度范围内来改变写处理的方法。更详细地，当磁盘装置的温度不属于操作保证温度的范围内时，在对磁盘进行写入之后进行验证，以查看该写入是否用正常方法进行。当通过这种验证发现任意误差时，再次重试该写入，以及该重试被进行预定次数之后，该写入处理被禁止。专利文献3描述了，为了防止访问时间被延长，检测磁盘装置的周围环境中的温度(下面，被称为环境温度)，以及当该温度等于或高于固定值时，停止长时间的寻找操作，减小用于信号处理IC的传送率，以及当该温度等于或高于固定值时，禁止该写操作。专利文献3还描述了基于关于该温度变化的过去记录预测在片刻之后达到的温度，以及基于此，在近距离范围内对风扇和加热器进行控制，以及执行对于磁盘装置的控制。更详细地，当温度被预测较高时，对磁盘装置和风扇进行控制，以及当该温度被预测较低时，对加热器进行控制。注意利用高温预测在磁盘装置上进行控制应用的特定细节类似于利用高温检测的控制应用，例如，写禁止、长期-寻找操作的禁止和其他。但是，利用每个由具有不同热膨胀系数的多个部件配置的磁盘存储装置，即使当该温度在用于该装置的操作保证温度的范围内时，如果温度迅速地变化，即，大于固定温度梯度，那么发生粘-滑。专利文献2和3中描述的技术都是检测用于磁盘装置的操作的补偿温度的技术，并不考虑由热变形引起的粘-滑。因此，在其中没有描述用于防止由于粘-滑引起的偏离-磁道写入的方法。因而，利用用于检测磁盘装置的操作保证温度的专利文献2和3所描述的先前技术，不可能有效地防止由粘-滑引起的偏离-磁道写入的产生。JP-A-6-325508[专利文献2]JP-A-2003-297025[专利文献3]JP-A-10-199120
技术实现思路
[本专利技术解决的问题]如上文所述，利用由多个每个具有不同热膨胀系数的部件配置的磁盘存储装置，即使当该温度在用于该装置的操作保证温度范围内时，如果温度迅速地变化，即，大于固定温度梯度，那么由于热变形会发生粘-滑，由此通过偏离-磁道写入，容易导致记录数据的毁坏。考虑到上述问题提出了本专利技术，以及其目的是提供一种磁盘存储装置及用于该磁盘存储装置的控制方法，其能够防止由热变形所导致的粘-滑引起的偏离-磁道写入。本专利技术的磁盘存储装置是一种磁盘装置，包括记录磁盘；用于对记录磁盘进行写入的磁头；以及检测该装置内部的温度的温度传感器。该装置的特征在于，基于由温度传感器检测的测量温度和使用该测量温度计算的温度变化量，改变判定条件，该判定条件用来判定是否禁止磁头对记录磁盘进行写入。由该测量温度和温度变化量，可以判定由热变形引起粘-滑的可能性。因此，利用上述结构，当测量温度和温度变化量显示环境由热变形容易引起粘-滑时，可以改变用于写入的禁止条件。例如，当热变形容易引起粘-滑时，关于写禁止的判定条件可以被如此改变，当与磁头的位置波动具有相关性的测量量没有变化那么多时，禁止该写入。这样，在粘-滑的最初发生阶段，即使测量量很轻微地变化，记录磁盘也可以被禁止写入，以便可以防止由于粘-滑而产生的偏离-磁道写入。上面的磁盘存储装置也可以被配置为，由该测量温度和温度变化量，计算预期在将来将达到的估计温度，以及当该测量温度高于第一基准温度时，以及当该估计温度高于第二基准温度时，改变该判定条件，该第二基准温度高于第一基准温度。当温度在其中温度等于或高于预定温度的高温区中迅速地增加时，常常发生粘-滑。利用以上结构，通过该测量温度和第一基准温度之间的比较，判定温度区是否可能引起粘-滑，以及通过该估计温度和第二基准温度之间的比较，估计其中的温度增加，如果有的话，是否是快速的。以此方式，可以肯定地判定该区域是由于热变形容易引起粘-滑的高温区，以及可以为写入改变该禁止条件。这有效地防止偏离-磁道发生。上面的磁盘存储装置也可以被配置为，由该测量温度和温度梯度计算预期在将来将达到的估计温度，以及当该测量温度低于第三基准温度时，以及当该估计温度低于第四基准温度时，改变该判定条件，该第四基准温度低于第三基准温度。对于温度下降的情况，当温度在其中温度等于或低于预定温度的低温区中迅速地减小时，粘-滑常常发生。利用以上结构，通过该测量温度和第三基准温度之间的比较，该温度区被判定它是否可能引起粘-滑，以及通过该估计温度和第四基准温度之间的比较，估计其中的温度下降，如果有的话，是否是快速的。以此方式，可以肯定地判定该区域是容易由于热变形引起粘-滑的低温区，以及可以为写入改变该禁止条件。这有效地防止偏离-磁道发生。在上面的磁盘存储装置中，通过在阈值和与磁头的位置波动具有相关性的测量量之间进行比较，判定是否禁止对磁盘进行写入，以及通过改变该阈值改变该判定条件。而且，上面的磁盘存储装置也可以被配置为包括支撑磁头的支撑架；检测机械冲击的冲击传感器；用冲击传感器的输出反映的驱动电压或驱动电流驱动，并将支撑架置于摇动的音圈电机；以及检测该驱动电压或驱动电流的检测部分。在该装置中，根据由检测部分检测到的电压是否超过阈值，判定是否禁止对磁盘进行写入，以及通过改变用于与该电压比较的阈值，改变该判定条件。音圈电机的驱动电压或驱动电流常常经受粘-滑振动，比磁头更快，以由于粘-滑来改变位置。因此，监视音圈电机的驱动电压的任何变化，以及当判定粘-滑可能发生时，对驱动电压观察到的轻微变化被用作提示，以停止写入，以便与检测位置误差信号或表示磁头位置变化的其它信号的情况相比，可以更早地检测到粘-滑。因此这能够可靠地防止产生偏离-磁道写入。本专利技术的另一实施例的磁盘存储装置是一种磁盘存储装置，包括记录本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种磁盘存储装置，包括：记录磁盘；用于对该记录磁盘进行写入的磁头；以及检测该装置内部的温度的温度传感器，其中基于由温度传感器检测到的测量温度和使用该测量温度计算的温度变化量，改变用来判定是否对记录磁盘进行写入的判定条件。

【技术特征摘要】
JP 2005-10-27 2005-3124461.一种磁盘存储装置，包括记录磁盘；用于对该记录磁盘进行写入的磁头；以及检测该装置内部的温度的温度传感器，其中基于由温度传感器检测到的测量温度和使用该测量温度计算的温度变化量，改变用来判定是否对记录磁盘进行写入的判定条件。2.根据权利要求1的磁盘存储装置，其中由该测量温度和温度变化量，计算预计在将来将达到的估计温度，以及当测量温度高于第一基准温度时，以及当该估计温度高于第二基准温度时，改变该判定条件，该第二基准温度高于第一基准温度。3.根据权利要求1的用于磁盘存储装置的控制方法，其中由该测量温度和温度梯度，计算预计在将来将达到的估计温度，以及当该测量温度低于第三基准温度时，以及当该估计温度低于第四基准温度时，改变该判定条件，该第四基准温度低于第三基准温度。4.根据权利要求1的磁盘存储装置，其中通过在阈值和与磁头的位置波动具有相关性的测量量之间的比较，判定是否禁止对磁盘进行写入，以及通过改变该阈值，改变该判定条件。5.根据权利要求1的磁盘存储装置，还包括支撑磁头的支撑架；检测机械冲击的冲击传感器；由用冲击传感器的输出反映的驱动电压或驱动电流驱动，并将支撑架置于摇摆的音圈电机；以及检测该驱动电压或驱动电流的检测部分，其中根据由检测部分检测到的驱动电压或驱动电流是否超过阈值，决定是否禁止对磁盘写入，以及通过改变用于与电压比较的阈值，改变该判定条件。6.一种磁盘存储装置，包括记录磁盘；用于对记录磁盘进行写入的磁头；检测该装置内部的温度的温度传感器；判定处理部分，其检测与磁头的位置波动具有相关性的测量的波动量，以及判定是否禁止磁头对记录磁盘进行写入；以及条件改变处理部分，改变应用于判定处理部分的判定条件，其中基于由温度传感器检测到的测量温度和使用该测量温度计算的温度变化量，该条件改变处理部分判定该装置是否处于可能由热变形引起振动的温度区，以及当判定该温度区可能通过热变形引起振动时，改变应用于判定处理部分的判定条件。7.根据权利要求6的磁盘存储装置，还包括估计温度计算部分，其使用该测量温度和温度变化量计算预计在将来将达到的估计温度，其中当该测量温度高于第一基准温度时，以及当该估计温度高于第二基准温度时，该条件改变处理部分改变该判定条件，第二基准温度高于第一基准温度。8.根据权利要求6的磁盘存储装置，还包括估计温度计算部分，使用该测量温度和温度变化量，计算预计在将来将达到的估计温度，其中当该测量温度低于第三基准温度时，以及当该估计温度低于第四基准温度时，该条件改变处理部分改变该判定条件，该第四基准温度低于第三基准温度。9.根据权利要求6的磁盘存储装置，其中该判定处理部分检测...

【专利技术属性】
技术研发人员：武田澄江，小野山胜元，滨田洋介，大泽弘幸，
申请(专利权)人：日立环球储存科技荷兰有限公司，
类型：发明
国别省市：NL[荷兰]