光盘装置和激光功率控制方法制造方法及图纸

在激光功率的控制中，进行光学部件或电子部件的温度特性的修正，可使记录再现特性更稳定。本发明专利技术具有：检测拾取器（３）产生的激光的功率的功率检测器（２６）；检测拾取器内的温度的温度检测器（２７）；根据检测到的温度，计算由拾取器产生的激光的功率的目标值运算部（６）；和进行控制，使得拾取器产生的激光功率为目标值的功率控制部（７）。运算部（６）根据拾取器内的物镜（２４）和功率检测器（２６）的温度特性，设定目标值，修正该温度特性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及高精度地控制照射在光盘上的激光功率的。
技术介绍
在光盘装置中，当在记录、再现时，将激光照射在光盘上时，为了使记录再现品质稳定，控制激光的功率为一定的值。由于这样，使用检测从激光光源射出的光的功率，使其强度为一定的反馈控制(APC＝自动功率控制)。 另外，在日本专利特开2005-228433号公报中，说明了监视器信号(功率检测信号)的放大电路特性因周围温度而变动的对策。即说明了在根据检测发光功率目标值和实际的发光功率的监视器信号，控制激光光源的发光功率的发光功率控制装置中，具有放大监视器信号的放大电路；检测放大电路附近的温度的温度检测模块，和根据温度检测模块的温度检测信号，将除去偏置成分的信号施加到放大电路的装置的结构。
技术实现思路
随着记录密度的高密度化，记录再现时的激光功率的最佳余量(Margin)狭窄，为了确保记录再现品质，必需更高精度地进行照射功率的控制。 由于这样，必需考虑构成光拾取器的光学部件和电子部件的温度特性，对周围温度的变动进行可靠的修正。例如，物镜的透射率因周围温度而变化，作为功率检测器的前端监视器检测器(FMD)的检测灵敏度也具有温度特性。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光盘装置，将激光照射在光盘上，记录或再现数据，其特征在于，具有：产生激光并照射在所述光盘上的拾取器；检测该拾取器产生的激光的功率的功率检测器；检测该拾取器内的温度的温度检测器；根据该检测到的温度，计算在所 述拾取器中产生的激光的功率的目标值的运算部；和比较由所述功率检测器检测到的功率与所述运算部计算出的目标值，并进行控制，使得所述拾取器产生的激光的功率为所述目标值的功率控制部。

【技术特征摘要】
JP 2005-12-28 2005-376852;JP 2006-11-7 2006-3013521.一种光盘装置，将激光照射在光盘上，记录或再现数据，其特征在于，具有产生激光并照射在所述光盘上的拾取器；检测该拾取器产生的激光的功率的功率检测器；检测该拾取器内的温度的温度检测器；根据该检测到的温度，计算在所述拾取器中产生的激光的功率的目标值的运算部；和比较由所述功率检测器检测到的功率与所述运算部计算出的目标值，并进行控制，使得所述拾取器产生的激光的功率为所述目标值的功率控制部。2.如权利要求1所述的光盘装置，其特征在于具有根据所述拾取器内的物镜的透射率的温度特性，存储对其进行修正的修正数据的存储器，所述运算部利用存储在该存储器中的修正数据，计算激光的功率的目标值。3.如权利要求1所述的光盘装置，其特征在于具有存放根据所述拾取器内的功率检测器的检测灵敏度的温度特性，对其进行修正的修正数据的存储器。所述运算部利用存储在该存储器中的修正数据，计算激光的功率的目标值。4.一种光盘装置，将激光照射在光盘上，记录或再现数据，其特征在于，具有在与主机装置之间进行记录或再现用数据的传送的接口，其中主机装置与外部连接；处理所述光盘上记录或再现的数据的信号处理部；使所述光盘旋转的主轴电动机；产生激光并照射在所述光盘上的拾取器；检测该拾取器产生的激光的功率的功率检测器；检测该拾取器内的温度的温度检测器；根据该检测到的温度，计算所述拾取器产生的激光的功率的目标值的运算部；和比较所述功率检测器检测到的功率与所述运算部计算出的目标值，进行控制，使得所述拾取器产生的激光的功率为所述目标值的功率控制部。5.一种光盘装置，将激光照射在光盘上，记录或再现数据，其特征在于，具有使所述光盘旋转的主轴电动机；产生激光并照射在所述光盘上的拾取器；检测该拾取器内的温度的温度检测器；进行控制，即使该检测到的温度改变，也可使得从所述拾取器发出的照射在所述光盘上的激光功率为一定的功率控制部。6.一种光盘装置中的激光功率的控制方法，其特征在于检测将激光照射在光盘上的拾取器内的温度，检测该拾取器产生的激光的功率，根据所述检测到的温度，设定所述激光的功率的目标值，进行控制，使得所述拾取器产生的激光的功率成为所述设定的目标值。7.如权利要求6所述的激光功率控制方法，其特征在于设定所述设定的激光的功率...

【专利技术属性】
技术研发人员：重田和俊，川前治，
申请(专利权)人：株式会社日立制作所，日立乐金资料储存股份有限公司，
类型：发明
国别省市：JP[日本]