【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种一次写入型记录介质、用于对其将被记录在一次写入型记录介质上的数据进行记录的记录装置和记录方法、以及用于对记录在一次写入型记录介质上的记录数据进行重放的重放装置和重放方法。
技术介绍
作为其可改善将记录数据记录在诸如光盘、磁盘、以及磁光盘这样的高密度记录介质上并读取该记录数据的可靠性的技术,存在缺陷管理。也就是说,当记录介质上存在划痕或粉尘或者磨损(其被整体称为“缺陷”)时,将要记录在或者已记录在该缺陷位置上的数据记录在记录介质的另一区域(其被称为“备用区”)中。如上所述,通过将由于该缺陷而可能不完全或者不完善记录的或者读取的记录数据撤离到备用区,可改善记录及读取记录数据的可靠性(参考公开号为NO.Hei 11-185390的日本专利申请)。通常,形成了缺陷列表以执行缺陷管理。在缺陷列表上,存在有所记录的用于表示缺陷在记录介质上的位置的地址信息以及这样的地址信息,该地址信息用于表示将要记录在或者已记录在缺陷位置上的数据所要撤离到的备用区中的一位置(例如,备用区中的记录位置)。通常,当对记录介质进行初始化或者格式化时形成缺陷列表。当将记录数据记录 ...
【技术保护点】
一种一次写入型记录介质,包括多个记录层,所述多个记录层的每一层包括:数据区,该数据区用于将记录数据记录在其中;位于所述数据区的内圆周侧的第一控制信息记录区,该第一控制信息记录区将用于对所述数据区中的记录和/或读取操作进行控制的信息记录在其中,所述控制信息记录区包括用于将所述数据区的缺陷管理信息记录在其中的确定的缺陷管理区;位于所述数据区的外圆周侧的第二控制信息记录区,该第二控制信息记录区将用于对所述数据区中的记录和/或读取操作进行控制的信息记录在其中,所述控制信息记录区包括用于将所述数据区的缺陷管理信息记录在其中的确定的缺陷管理区;第一临时缺陷管理区,该第一临时缺陷管理区用 ...
【技术特征摘要】
JP 2003-2-28 2003-0549871.一种一次写入型记录介质,包括多个记录层,所述多个记录层的每一层包括数据区,该数据区用于将记录数据记录在其中;位于所述数据区的内圆周侧的第一控制信息记录区,该第一控制信息记录区将用于对所述数据区中的记录和/或读取操作进行控制的信息记录在其中,所述控制信息记录区包括用于将所述数据区的缺陷管理信息记录在其中的确定的缺陷管理区;位于所述数据区的外圆周侧的第二控制信息记录区,该第二控制信息记录区将用于对所述数据区中的记录和/或读取操作进行控制的信息记录在其中,所述控制信息记录区包括用于将所述数据区的缺陷管理信息记录在其中的确定的缺陷管理区;第一临时缺陷管理区,该第一临时缺陷管理区用于临时将所述数据区的缺陷管理信息记录在其中,所述临时缺陷管理区位于所述第一控制信息记录区与所述数据区之间;以及第二临时缺陷管理区,该第二临时缺陷管理区用于临时将所述数据区的缺陷管理信息记录在其中,所述临时缺陷管理区位于所述第二控制信息记录区与所述数据区之间。2.根据权利要求1的一次写入型记录介质,其中所述数据区包括用户数据区,该用户数据区用于将记录数据记录在其中;以及位于所述数据区的内圆周侧和外圆周侧的备用区,用于记录从缺陷中撤离出的记录数据。3.一种用于将记录数据记录在下述一次写入型记录介质上的记录装置,所述记录介质包括多个记录层,所述多个记录层的每一层包括(i)数据区,该数据区用于将记录数据记录在其中;(ii)位于所述数据区的内圆周侧的第一控制信息记录区,该第一控制信息记录区将用于对所述数据区中的记录和/或读取操作进行控制的信息记录在其中,所述控制信息记录区包括用于将所述数据区的缺陷管理信息记录在其中的确定的缺陷管理区;(iii)位于所述数据区的外圆周侧的第二控制信息记录区,该第二控制信息记录区将用于对所述数据区中的记录和/或读取操作进行控制的信息记录在其中,所述控制信息记录区包括用于将所述数据区的缺陷管理信息记录在其中的确定的缺陷管理区;(iv)第一临时缺陷管理区,该第一临时缺陷管理区用于临时将所述数据区的缺陷管理信息记录在其中,所述临时缺陷管理区位于所述第一控制信息记录区与所述数据区之间;以及(v)第二临时缺陷管理区,该第二临时缺陷管理区用于临时将所述数据区的缺陷管理信息记录在其中,所述临时缺陷管理区位于所述第二控制信息记录区与所述数据区之间,所述记录装置包括第一记录设备,该第一记录设备将记录数据记录在所述数据区中;产生设备,该产生设备用于产生缺陷管理信息;第二记录设备,该第二记录设备将由所述产生设备产生的缺陷管理信息记录在所述第一或第二临时缺陷管理区中;以及第三记录设备,该第三记录设备用于将缺陷管理信息记录在所述确定的缺陷管理区中。4....
【专利技术属性】
技术研发人员:吉田昌义,幸田健志,
申请(专利权)人:日本先锋公司,
类型:发明
国别省市:JP[日本]
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