【技术实现步骤摘要】
提高抛光液循环利用率的方法及硅片抛光方法
[0001]本专利技术涉及化学机械抛光
,具体涉及一种提高抛光液循环利用率的方法及硅片抛光方法。
技术介绍
[0002]化学机械抛光(CMP)是目前最为普遍的半导体材料表面平整技术,它是将机械摩擦和化学腐蚀相结合的工艺,兼收了二者的优点,可以获得比较完美的晶片表面。硅片CMP一般采用的是碱性二氧化硅抛光液,利用碱与硅的化学腐蚀反应生成可溶性硅酸盐,再通过细小柔软,比表面积大、带有负电荷的SiO2胶粒的吸附作用及其与抛光垫和硅片间的机械摩擦作用,及时去除反应产物,从而达到去除晶片表面损伤层与玷污杂质的抛光目的,这种化学和机械的共同作用过程就是硅片的CMP过程。
[0003]目前,大多数硅片生产企业为节约生产成本,在硅片CMP粗抛过程中抛光液通常需要循环利用,伴随着机械摩擦及抛光垫表面温度升高,硅与抛光液中的碱性物质反应快速,抛光液的pH值下降极快。此外,伴随着抛光机的研磨作用,二氧化硅颗粒之间受机械力的作用将发生凝聚,这极大影响了抛光液的循环使用性能。为解决类似问题,CN109666410A在蓝宝石研磨循环过程中提出添加络合剂、表面活性剂进一步延长抛光液的使用寿命。然而,大量表面活性剂的引入,对延长硅片抛光液使用寿命效果甚微,且大量表面活性剂的加入容易引起硅片抛光速率的进一步降低。
[0004]因此,仍旧需要提供一种提高硅片抛光液循环利用率的方法,通过此方法,可以提高硅片抛光液的循环使用次数,有效延长硅片抛光液循环使用寿命。
技术实现思路
...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种提高抛光液循环利用率的方法,其特征在于,包括以下步骤:1)取待处理的抛光液A,在搅拌的条件下,向待处理的抛光液A中添加一定量的络合助剂,搅拌一定时间后形成抛光液B;2)在搅拌的条件下,向步骤1)形成的抛光液B中加入一定量的渗透剂,搅拌一定时间后形成抛光液C;3)在搅拌的条件下,向步骤2)形成的抛光液C中加入一定量的分散剂,搅拌一定时间后形成抛光液D;4)在搅拌的条件下,向步骤2)形成的抛光液D中加入一定量的pH值调节剂,调节pH值至9
‑
11后得到可循环利用的抛光液E。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述步骤1)中的络合助剂选自甲酸、乙酸、丙酸、衣康酸、琥珀酸、酒石酸、柠檬酸、马来酸、乙醇酸、丙二酸、草酸、苹果酸、葡萄糖酸、丙氨酸、甘氨酸、乳酸、三氟乙酸、乙二胺四乙酸、氮川三乙酸、二乙烯三胺五乙酸、三乙烯二胺、丙二胺四乙酸、羟乙基乙二胺、羟乙基乙二胺三乙酸、焦磷酸、2
‑
氨基乙基膦酸、1
‑
羟基乙叉1,1
‑
二膦酸、氨基三亚甲基膦酸、乙二胺四亚甲基膦酸、二亚乙基三胺五亚甲基膦酸、乙烷
‑
1,1
‑
二膦酸、乙烷
‑
1,1,2
‑
三膦酸、甲烷羟基膦酸、1
‑
膦酰基丁烷
‑
2,3,4
‑
三羧酸及其盐类中的至少任一种;优选地,所述络合助剂的加入量为抛光液A质量的0.01
‑
1wt%。3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述步骤2)中的渗透剂选自烷基磺酸及其盐类、烷基苯磺酸及其盐类、乙烯基磺酸及其盐类、烷基萘磺酸及其盐类、脂肪醇聚氧乙烯醚中的至少任一种;优选地,所述渗透剂的加入量为抛光液A质量的0.01
‑
0.1wt%。4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述步骤3)中的分散剂选自聚乙二醇、聚丙烯酸、聚甲基丙烯酸、马来亚酸酐—苯乙烯共聚物、甲基纤维素、羧甲基纤维素、羟丙基纤维素、羟乙基纤维素、明胶、蛋白质、淀粉、藻酸及其盐类中的至少任一种;优选...
【专利技术属性】
技术研发人员:王庆伟,卞鹏程,崔晓坤,卫旻嵩,李国庆,徐贺,王瑞芹,
申请(专利权)人:万华化学集团股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。