光盘装置制造方法及图纸

在高密度光盘装置中，需要对因与光盘基板厚度误差有关的球面像差进行校正，但像差校正元件的处理动作需要时间，所以简单进行对应于光盘半径的校正使装置的操作性能恶化。本发明专利技术的特征是具有包括物镜和像差校正用透镜的光拾取单元、聚焦执行元件、跟踪执行元件、像差校正用电机、寻道电机、像差校正透镜控制单元、半径信息检测单元、系统控制单元。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种光盘装置。
技术介绍
作为本
的
技术介绍
，例如有日本专利公开2005-108334号公报。在本公报中，作为目的记载有“提供对因光盘个体差异而产生的球面像差进行校正的装置”，作为解决方法记载有“根据存储在存储装置中的半径位置上的控制信号数据，控制球面像差调整机构，并进行记录或再现”。
技术实现思路
作为在高密度光盘上提高记录密度的一种方法可以提高数值孔径，但这样则不能忽视因光盘基板厚度误差引起的球面像差的影响。在此，所谓光盘基板厚度是指光盘表面和信息面之间的覆盖层，或在多层光盘中的信息面之间的间隔层。因此，在高密度光盘上使用球面像差校正元件，根据光盘基板厚度的误差进行控制，以使球面像差减少。作为上述校正球面像差的方法有专利文献1等。如专利文献1所示，根据光盘的半径位置而改变球面像差的校正量的方法，可以校正因光盘半径方向的基板厚度变化而产生的球面像差，对于确保最合适的记录、再现性能是有效方法。可是，球面像差元件一般在使校正量改变的处理中花费时间，产生过大的校正量变化使装置的操作性能恶化的课题。所以本专利技术的目的在于提供一种操作性能优良的光盘装置。作为一个例子，可本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光盘装置，其特征在于：　　　　具有，　　　　物镜，把激光汇聚到光盘上；　　　　聚焦执行元件，在光盘转动轴方向上调整所述物镜的位置；　　　　跟踪执行元件，在光盘半径方向上调整所述物镜的位置；　　　　像差校正单元，校正由所述物镜汇聚在光盘上的光点的球面像差；　　　　检测单元，检测所述光点的光盘半径位置信息；　　　　其中，　　　　所述校正单元，在每个与光盘半径相对应的多个区上设定球面像差校正量，对该区边界的光盘半径信息ｒ，在光点从内周向外周移动的情况下，在光盘半径信息为ｒ＋△ｒ１时变更球面像差校正量，在光点从外周向内周移动的情况下，在光盘半径信息为ｒ－△ｒ２时变更球面像差校正量。

【技术特征摘要】
JP 2006-5-23 2006-1422301.一种光盘装置，其特征在于具有，物镜，把激光汇聚到光盘上；聚焦执行元件，在光盘转动轴方向上调整所述物镜的位置；跟踪执行元件，在光盘半径方向上调整所述物镜的位置；像差校正单元，校正由所述物镜汇聚在光盘上的光点的球面像差；检测单元，检测所述光点的光盘半径位置信息；其中，所述校正单元，在每个与光盘半径相对应的多个区上设定球面像差校正量，对该区边界的光盘半径信息r，在光点从内周向外周移动的情况下，在光盘半径信息为r+Δr1时变更球面像差校正量，在光点从外周向内周移动的情况下，在光盘半径信息为r-Δr2时变更球面像差校正量。2.如权利要求1所述的光盘装置，其特征在于，在进行所述激光的记录功率和/或由所述激光记录的数据的确认动作时，设光点移动的位移量为Δr3的情况下，Δr1+Δr2＞Δr3。3.如权利要求1所述的光盘装置，其特征在于，在设5轨道的光盘半径信息为Δr4的情况下，Δr1+Δr2＞Δr4。4.如权利要求1所述的光盘装置，其特征在于，所述像差校正单元，在记录动作中到达球面像差校正量的变更位置时，停止记录处理后，进行球面像差校正量的设定，在利用寻道使所述区发生变化的情况下，且在寻道后进行记录动作的情况下，在寻道中或直到寻道后的记录动作前，进行球面像差校正量的设定。5.如权利要求1所述的光盘装置，其特征在于，所述像差校正单元，在再现动作中到达球面像差校正量的变更位置时，与再现处理独立地进行球面像差校正量的设定，在利用寻道使所述区发生变化的情况下，且在寻道后进行再现动作的情况下，在寻道中或直到寻道后的再现动作前，进行球面像差校正量的设定。6.如权利要求1所述的光盘装置，其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员：今川制时，
申请(专利权)人：株式会社日立制作所，日立乐金资料储存股份有限公司，
类型：发明
国别省市：JP[日本]