位置核实装置和方法、位置测量装置和方法制造方法及图纸

一种位置核实装置（３００）具有：第一记录设备（３０２等），用于将信息记录到第一记录层（Ｌ０层）的第一区域（１０）中；第二记录设备（３０２等），用于（ｉｉｉ）通过穿过第一区域的激光将信息的一部分记录到下述第二记录层（Ｌ１层）的第二区域（１１）中，并且（ｉｖ）通过未穿过第一区域的激光将信息的另一部分也记录到下述第二记录层（Ｌ１层）的第二区域（１１）中，所述第二区域至少包括有与第一区域相对的部分区域（１１ａ）；重放设备（３０２等），用于对信息进行重放；以及判断设备（３０５），用于根据重放质量从重放的信息的一部分所表示的重放质量转变到重放的信息的另一部分所表示的重放质量的转变位置来判断相对移动是否在容限之内。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种例如诸如两层型DVD和CD (光盘)这样的多层 型信息记录介质中的用于对多个记录层中的相对移动进行核实的位置 核实装置和方法、位置测量装置和方法、以及用于位置核实或位置测 量的计算机程序。
技术介绍
例如，在诸如CD — ROM (只读光盘存储器)、CD — R (可记录 的光盘)、DVD —ROM、 DVD —R、 DVD —RW、以及DVD + R这样的信息记录介质中，如专利文献1和2等中所描述的，已开发了诸如 多层型或双层型光盘这样的多个记录层被层压或粘贴在相同衬底上的 信息记录介质。此后，在诸如DVD记录器这样的用于关于双层型，也 就是两层型光盘执行记录的信息记录装置上，使用于记录的激光聚焦 于从激光的照射侧来看位于前面(即较靠近光学拾取器的一侧)的记 录层上(在下文中必要时称为LO层)，从而按照通过加热的不可逆 变记录方法或可重写方法将信息记录到L0层中。此外，使激光穿过 L0层等而聚焦于从激光的照射侧来看位于L0层后面(即较远离光学 拾取器的一侧)的记录层上(在下文中必要时称为L1层)，从而将 信息记录到Ll层中。当将信息记录到构成了这种两层型光盘的L1层中时，如图18(a) 所示，穿过已记录的L0层而照射Ll层的激光的最佳记录功率例如是 44.5 (mW:毫瓦)，其处的抖动值在图18 (c)中的细线(具有白色 三角形)的抛物线上最小。另一方面，如图18 (b)所示，穿过具有与 已记录L0层不同透射率的未记录L0层而照射L1层的激光的最佳记录功率例如是46 (mW:毫瓦)，其处的抖动在图18 (c)中的粗线(具 有黑色三角形)的抛物线上最小。因此，在L1层中进行记录的情况下， 必须考虑LO层是否已记录。就此而言，设计或专利技术了一种满足所谓记 录顺序的记录方法，该记录方法是，例如，照射穿过处于已记录状态 的LO层的用于记录的激光。然而，在生产这种两层型信息记录介质的过程中，L0层和L1层 是通过不同压印(stampas)而形成的并且使其粘贴或层压。因此，存 在由于L0层和Ll层中的粘贴误差而引起偏心这样的可能性。或者， 因为L0层和Ll层是通过不同压印而形成的，因此可能会引起每个记 录层中的轨道间距的偏差，或者可能会引起关于每个记录层中的参考 地址的绝对径向位置的偏差，即所谓的尺寸误差。这会造成与LO层中 的记录区有关的L1层中的记录区的径向位移例如预格式地址这样的地 址信息，并且因此存在不一定会满足上述记录顺序的可能性。更具体地说，假定利用在穿过已记录LO层之后的记录中最佳的记 录功率来执行记录。当将信息记录到Ll层中时，如图19的左部分所 示，如果使穿过处于已记录状态的LO层的用于记录的激光照射单个轨 道，那么重放信号的幅度很大，并且可获得很好的信号品质。换句话 说，作为信号品质的一个实例的不对称度值是适当的。另一方面，如 图19的右部分所示，如果照射穿过处于未记录状态的L0层的用于记 录的激光，那么重放信号的幅度很小，并且无法获得很好的信号品质。 换句话说，不对称度值是不适当的。另一方面，如图19的中部所示， 如果照射穿过混杂有已记录区和未记录区的L0层的用于记录的激光， 那么重放信号的幅度根据偏心量或径向偏离的程度而变。换句话说， 不对称度值从适当级别和不适当级别当中的一个转变为另一个。为了消除由于相对移动所造成的最佳记录功率的偏差，如果记录 装置检测到与Ll层中的记录区有关的L0层中的记录区的记录状态， 那么记录控制处理变得很复杂，因为必须准确地识别上述相对移动。另一方面，如果对信息进行记录而不考虑由于相对移动所造成的最佳 记录功率的偏差，那么控制变得很复杂；例如，在用于对记录信息进 行重放的重放装置上，用于获得二进制信号的处理参数动态地变化， 这会使重放处理过程中的负荷增加。因此，本专利技术的专利技术人设计或专利技术了一种用于定义由于在容限范 围之内的上述相对移动所造成的地址信息与径向位置之间的误差的方 法。通常，为了测量在两层型光盘上所引起的相对移动，即位于L0层 中的一个地址的径向位置与位于与这一个地址相关的L1中的另一地址 的径向位置之间的误差，存在如下两种设计的或专利技术的方法。第一方法是对用于照射并接收激光的光头(必要时以下简称为 PU:拾取器)的径向位置进行测量。在该方法中，根据盘片的旋转 中心位置和PU的相对位置，可对与期望地址相关的径向位置进行检 测，同时通过L0层和Ll层每一个中的PU来读取期望地址。更具体 地说，诸如具有激光和编码器的位置传感器这样的位置测量设备对PU本体的位置或者用于使激光聚焦的物镜的位置进行测量。此外，通过按照时间序列来对所测量的物镜的位置进行分析，可分析出L0层的轨 道和L1层的轨道以偏心旋转的状态。如上所述，根据第一方法，可高 度准确地对L0层和Ll层中的任意地址处的径向位置进行测量。第二方法是使用可对二维坐标进行测量的显微镜。在该方法中， 在显微镜下对盘片上的轨道进行观察，并且对基本上环形轨道上的三 个任意点的平面坐标进行测量，从而对轨道的中心坐标和半径进行检 测。更具体地说，根据图20所示的三个点(Q1至Q3)可检测 出中心坐标OLl。此外，通过在L0层和L层中执行坐标测量，可 对两个轨道的相对位置关系进行检测。图20所示的距离d允许对L0 层与L1层之间的径向上的偏心进行检测。具体的说，预记录到包括有期望地址的轨道上便于在该坐标测量过程中对轨道进行检测。在第二 方法中，与第一方法一样，可容易地对任意地址处的径向位置进行测 量。此外，可同时对每层中的轨道的中心坐标和半径进行检测，因此 可直接知道相对位置关系。专利文献1:日本专利申请未决公开NO.2000 —311346 专利文献2:日本专利申请未决公开NO.2001—2323
技术实现思路
本专利技术所要解决的问题然而，在上述第一方法中，存在这样的技术问题，即使用下述排 它测量设备以便对任意地址处的径向位置进行高度准确地测量，在该 排它测量设备包括有诸如可对激光的位移进行测量的位置测量装置这 样的相对昂贵的测量装置。此外，在上述第二方法中，存在这样的技术问题，即因为使用可 对二维坐标进行测量的显微镜，使用相对昂贵的测量系统。此外，存 在这样的技术问题，即根据轨道上的三个任意点来计算中心坐标和半 径的计算处理过程中，很容易出现误差并且存在无法高度准确地执行 测量这样的可能性。因此，本专利技术的目的是提供一种可以低成本且很容易地对例如具 有多个记录层的信息记录介质上的相对移动进行核实的位置核实装置 和方法、位置测量装置和方法、以及可使计算机用作位置核实装置或 位置测量装置的计算机程序。解决该主题的方式(位置核实装置) 在下文中对本专利技术的位置核实装置进行说明。本专利技术的上述目的可以是通过一种位置核实装置来实现的，该位 置核实装置用于对下述信息记录介质中的(i)第一记录层与第二记录 层之间的或者(ii)第一轨道与第二轨道之间的径向上的相对移动的禾呈 度进行核实，所述信息记录介质至少具有第一记录层(L0层)，在 该第一记录层中形成有用于将信息记录在其中的第一轨道(可显示LO 层中的地址与径向位置之间的关系)；以及第二记录层(Ll层)，在 该第二记录层中形成有用于将信息记录在其中的第二轨道(可显本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种位置核实装置，该位置核实装置用于对下述信息记录介质中的（ｉ）第一记录层与第二记录层之间的或者（ｉｉ）第一轨道与第二轨道之间的径向上的相对移动的程度进行核实，所述信息记录介质至少包括：第一记录层，在该第一记录层中形成有用于将信息记录在其中的第一轨道；以及第二记录层，在该第二记录层中形成有用于将信息记录在其中的第二轨道，所述位置核实装置包括：第一记录设备，用于将信息记录到第一记录层的第一区域中；第二记录设备，用于（ｉｉｉ）通过穿过第一区域的激光将信息的 一部分记录到第二记录层的下述第二区域中，并且（ｉｖ）通过未穿过第一区域的激光将信息的另一部分也记录到第二记录层的下述第二区域中，所述第二区域至少包括有与第一区域相对的部分区域；重放设备，用于对记录在第二区域中的信息的一部分以及信息的 另一部分进行重放；以及判断设备，用于根据重放质量从重放的信息的一部分所表示的重放质量和重放的信息的另一部分所表示的重放质量当中的一个转变到另一个的转变位置来判断相对移动是否在容限之内。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】JP 2005-1-14 008470/20051.一种位置核实装置，该位置核实装置用于对下述信息记录介质中的(i)第一记录层与第二记录层之间的或者(ii)第一轨道与第二轨道之间的径向上的相对移动的程度进行核实，所述信息记录介质至少包括第一记录层，在该第一记录层中形成有用于将信息记录在其中的第一轨道；以及第二记录层，在该第二记录层中形成有用于将信息记录在其中的第二轨道，所述位置核实装置包括第一记录设备，用于将信息记录到第一记录层的第一区域中；第二记录设备，用于(iii)通过穿过第一区域的激光将信息的一部分记录到第二记录层的下述第二区域中，并且(iv)通过未穿过第一区域的激光将信息的另一部分也记录到第二记录层的下述第二区域中，所述第二区域至少包括有与第一区域相对的部分区域；重放设备，用于对记录在第二区域中的信息的一部分以及信息的另一部分进行重放；以及判断设备，用于根据重放质量从重放的信息的一部分所表示的重放质量和重放的信息的另一部分所表示的重放质量当中的一个转变到另一个的转变位置来判断相对移动是否在容限之内。2. 根据权利要求1的位置核实装置，其中可由用于表示从第一起始地址至第一结束地址的范围的第一地址 范围来指定第一区域，第二区域包括可由下述估计地址范围所指定的估计区，所述估计 地址范围表示理论上与第一地址范围相关的范围，并且所述判断设备根据估计区中的位置和转变位置来判断相对移动是 否在容限之内。3. 根据权利要求2的位置核实装置，其中，根据第一记录层和第 二记录层中的一个，由地址或径向位置来表示转变位置或估计区中的 位置。4. 根据权利要求2的位置核实装置，其中，可进一步指定估计区 以便包括有下述相对偏差，该相对偏差具有(i)由第一记录层和第二 记录层的每一个所保持的尺寸误差、(ii)由于第一记录层和第二记录 层中的粘合误差所引起的径向偏离、以及(iii)用于表示下述区域的半 径的透射光半径中的至少一个，在所述区域中当使激光照射以聚焦于 第二记录层上时，使激光照射以穿过第一记录层但并不聚焦于第一记 录层上。5. 根据权利要求2的位置核实装置，其中，至少通过与第一起始 地址相关的第二起始地址以及与第一结束地址相关的第二结束地址两 者来进一步指定估计区。6. 根据权利要求5的位置核实装置，其中，通过在第二起始地址 上加上或减去下述裕量地址所获得的裕量起始地址以及在第二结束地 址上减去或加上该裕量地址所获得的裕量结束地址来进一步指定估计 区，所述裕量地址表示与相对偏差相对应的地址。7. 根据权利要求l的位置核实装置，其中，根据下述记录行密度 可以数字方式标明第一记录层和第二记录层中的径向上的预定长度， 所述记录行密度表示第一轨道和第二轨道中的每单位长度的数据量并 且至少可在期望的范围中被计算。8. 根据权利要求7的位置核实装置，其中，与预定长度相关的数 据量由与预定长度除以预定系数相对应的区域大小来表示。9. 根据权利要求7的位置核实装置，其中，通过从用于表示预定 长度的起始边缘的地址至用于表示预定长度的结束边缘的地址所执行 的螺旋积分计算来表示与预定长度相关的数据量。10. 根据权利要求1的位置核实装置，其中，通过不对称度值来表示重放质量。11. 根据权利要求l的位置核实装置，其中 所述第一记录设备在第一记录区中的内圆周部分、中间圆周部分、以及外圆周部分当中的至少两个点处形成第一区域，所述第二记录设备在第二记录区中的至少两个点处形成第二区 域，并且所述判断设备判断是否至少在两个点处允许相对移动。12. —种位置核实装置中的位置核实方法，用于对下述信息记录 介质中的(i)第一记录层与第二记录层之间的或者(ii)第一轨道与第 二轨道之间的径向上的相对移动的程度进行核实，所述信息记录介质 至...

【专利技术属性】
技术研发人员：钟江彻，小川雅嗣，加藤正浩，川野英作，三浦雅浩，
申请(专利权)人：日本先锋公司，日本电气株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]