芯片的内核切换方法、芯片、电子设备及存储介质技术

本申请涉及芯片控制的技术领域，提供一种芯片的内核切换方法、芯片、电子设备及存储介质，该方法包括：获取多个第一内核的工作参数；根据工作参数，从多个第一内核中确定待去激活的至少一个目标内核；获取至少一个第二内核的目标配置文件，并将至少一个目标配置文件写入与芯片外接的存储介质；基于存储介质中的至少一个目标配置文件激活至少一个第二内核，并对至少一个目标内核进行去激活。本申请旨在保障芯片内核的磨损均衡，有效提高老化芯片的性能。能。能。

【技术实现步骤摘要】
芯片的内核切换方法、芯片、电子设备及存储介质


[0001]本申请涉及芯片控制的
，尤其涉及一种芯片的内核切换方法、芯片、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]随着芯片工艺沿着摩尔定律发展，追求多任务处理功能和处理速度提升成为了芯片设计的目标，芯片慢慢从单内核演进到多内核。当前，随着芯片工作时间的增加，不可避免的有退化或者老化的内核出现。为防止芯片的老化，现有技术在芯片老化过程中，可以基于内核的配置文件和分组信息将任务分配给最适合执行任务的那些内核。然而，固定的配置文件会成为系统的性能瓶颈，仍然容易导致多核芯片各内核的磨损不均衡，影响芯片性能的发挥。

技术实现思路

[0003]本申请的主要目的在于提供一种芯片的内核切换方法、芯片、电子设备及存储介质，旨在保障多核芯片各内核的磨损均衡，有效提高老化芯片的性能。
[0004]第一方面，本申请提供一种芯片的内核切换方法，所述芯片包括多个内核，所述多个内核包括激活的多个第一内核和未激活的至少一个第二内核，所述方法包括：
[0005]获取多个所述第一内核的工作参数本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片的内核切换方法，其特征在于，所述芯片包括多个内核，所述多个内核包括激活的多个第一内核和未激活的至少一个第二内核，所述方法包括：获取多个所述第一内核的工作参数；根据所述工作参数，从所述多个第一内核中确定待去激活的至少一个目标内核；获取至少一个所述第二内核的目标配置文件，并将至少一个所述目标配置文件写入与所述芯片外接的存储介质；基于所述存储介质中的至少一个所述目标配置文件激活至少一个所述第二内核，并对至少一个所述目标内核进行去激活。2.如权利要求1所述的内核切换方法，其特征在于，所述根据所述工作参数，从所述多个第一内核中确定待去激活的至少一个目标内核，包括：根据所述工作参数确定所述芯片是否满足预设的内核切换条件；若确定所述芯片满足预设的内核切换条件，则根据所述工作参数，从所述多个第一内核中选取至少一个第一内核作为待去激活的目标内核。3.如权利要求2所述的内核切换方法，其特征在于，所述工作参数包括所述第一内核的工作电压、工作电流和/或输出的nonce参数；所述预设的内核切换条件包括：至少一个所述第一内核的工作电压大于或等于预设电压阈值、所述工作电流大于或等于预设电流阈值、和/或输出的所述nonce参数大于或等于预设数值。4.如权利要求2所述的内核切换方法，其特征在于，所述根据所述工作参数，从所述多个第一内核中选取至少一个第一内核作为待去激活的目标内核，包括：根据所述工作参数确定每个所述第一内核的去激活优先级；根据每个所述第一内核的去激活优先级，从所述多个第一内核中选取待去激活的至少一个目标内核。5.如权利要求1
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4中任一项所述的内核切换方法，其特征在于，所述获取多个所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴超，
申请(专利权)人：北京比特大陆科技有限公司，
类型：发明
国别省市：