电波吸收体及电波吸收体用套件制造技术

电波吸收体(1a)具备第一电波吸收部(10)和第二电波吸收部(20)。在第一电波吸收部(10)中，基于JIS R 1679∶2007测定的特定频率(f)的电波的反射吸收量在0

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】电波吸收体及电波吸收体用套件


[0001]本专利技术涉及电波吸收体及电波吸收体用套件。

技术介绍

[0002]以往，研究了用于对以宽范围的入射角度入射的电波、各种偏振波发挥预定的吸收性能的电波吸收体。
[0003]例如，在专利文献1中记载了一种电波吸收体，由在表面分布形成有凸部和凹部中的至少一方的反射层和沿着反射层的表面层叠的吸收层构成。就吸收层而言，在反射层的表面，沿着该反射层的表面形状以恒定的厚度形成有吸收层。
[0004]现有技术文献
[0005]专利文献
[0006]专利文献1：日本特开2004－207506号公报

技术实现思路

[0007]专利技术所要解决的课题
[0008]根据专利文献1所记载的技术，需要在反射层的表面分布形成凸部和凹部中的至少一方，并且需要沿着反射层的表面形状以恒定的厚度形成吸收层。
[0009]鉴于这样的情况，本专利技术提供一种电波吸收体，即使在反射电波的导电体的表面没有形成凸部和凹部中的至少一方，也有利于对以宽范围的入射角度入射的电波、各种偏振波发挥所期望的吸收性能。另外，本专利技术提供一种有利于构成这样的电波吸收体的电波吸收体用套件。
[0010]用于解决课题的技术方案
[0011]本专利技术提供一种电波吸收体，具备：第一电波吸收部，基于日本工业标准(JIS)R 1679∶2007测定的特定频率的电波的反射吸收量在0
°
～80
°
的入射角度中的第一入射角度下成为最大；及第二电波吸收部，在0
°
～80
°
的入射角度中的第二入射角度下所述电波的反射吸收量成为最大，所述第二入射角度的大小与所述第一入射角度的大小不同，或者以所述第二入射角度入射的所述电波的偏振波的种类与以所述第一入射角度入射的所述电波的偏振波的种类不同，所述第一电波吸收部和所述第二电波吸收部沿着预定的面配置。
[0012]另外，本专利技术提供一种电波吸收体用套件，具备：第一构件，用于形成第一电波吸收部，在该第一电波吸收部中，基于JIS R 1679∶2007测定的特定频率的电波的反射吸收量在0
°
～80
°
的入射角度中的第一入射角度下成为最大；及第二构件，用于形成第二电波吸收部，在该第二电波吸收部中，在0
°
～80
°
的入射角度中的第二入射角度下所述电波的反射吸收量成为最大，所述第二入射角度的大小与所述第一入射角度的大小不同，或者以所述第二入射角度入射的所述电波的偏振波的种类与以所述第一入射角度入射的所述电波的偏振波的种类不同。
[0013]专利技术效果
[0014]上述电波吸收体即使在反射电波的导电体的表面没有形成凸部和凹部中的至少一方，也有利于对以宽范围的入射角度入射的电波、各种偏振波发挥所期望的吸收性能。
附图说明
[0015]图1A是表示本专利技术所涉及的电波吸收体的一例的俯视图。
[0016]图1B是沿着图1A中的IB
‑
IB线的电波吸收体的剖视图。
[0017]图2是表示本专利技术所涉及的电波吸收体用套件的一例的剖视图。
[0018]图3是表示本专利技术所涉及的电波吸收体用套件的另一例的俯视图。
[0019]图4是表示本专利技术所涉及的电波吸收体的另一例的图。
[0020]图5是表示本专利技术所涉及的电波吸收体的又一例的图。
具体实施方式
[0021]参照附图对本专利技术的实施方式进行说明。另外，本专利技术并不限定于以下的实施方式。
[0022]如图1A和图1B所示，电波吸收体1a具备第一电波吸收部10和第二电波吸收部20。在第一电波吸收部10中，基于JIS R 1679∶2007测定的特定频率f的电波的反射吸收量在0
°
～80
°
的入射角度中的第一入射角度θ1下成为最大。反射吸收量例如与由下述式(1)定义的反射衰减量S(dB)的绝对值同义。式(1)中的P0是基于金属板的反射的接收功率(W/m2)，P
i
是基于试样的反射的接收功率(W/m2)。另外，反射吸收量相当于JIS R 1679∶2007中的反射量的绝对值。在第二电波吸收部20中，基于JIS R 1679∶2007测定的特定频率f的电波的反射量的绝对值在0
°
～80
°
的入射角度中的第二入射角度θ2下成为最大。第二入射角度θ2的大小与第一入射角度θ1的大小不同，或者以第二入射角度θ2入射的电波的偏振波的种类与以第一入射角度θ1入射的电波的偏振波的种类不同。在电波吸收体1a中，第一电波吸收部10和第二电波吸收部20沿着预定的面F配置。预定的面F可以是平面，也可以是曲面，还可以是具有凹凸的面，更可以是具有角部的面。在电波吸收部中，频率f的电波的反射吸收量例如使用具有200mm见方的正方形的平面形状的试样来测定。即，在本说明书中，“电波的反射吸收量”意味着将电波吸收部构成为200mm见方的正方形的平面形状时的值。
[0023]【数学式1】
[0024][0025]根据电波吸收体1a，发挥所期望的吸收性能的入射角度的范围容易变大，或者对不同种类的偏振波发挥所期望的吸收性能。此外，在电波吸收体1a中，也可以不在用于反射电波的导电体的表面形成凸部和凹部中的至少一方。
[0026]电波吸收体1a能够吸收的电波的频率f并不限定于特定频率。电波吸收体1a能够吸收的斜入射的电波可以是TM波，也可以是TE波。
[0027]在电波吸收体1a中，在以第二入射角度θ2入射的电波的偏振波的种类与以第一入射角度θ1入射的电波的偏振波的种类相同或者第一入射角度θ1为0
°
的情况下，从第二入射角度θ2减去第一入射角度θ1所得的值例如为5
°
以上。由此，在电波吸收体1a中，发挥所期望
的吸收性能的入射角度的范围容易变大。
[0028]在以第二入射角度θ2入射的电波的偏振波的种类与以第一入射角度θ1入射的电波的偏振波的种类相同或者第一入射角度θ1为0
°
的情况下，从第二入射角度θ2减去第一入射角度θ1所得的值可以是10
°
以上，也可以是30
°
以上，还可以是50
°
以上。
[0029]在以第二入射角度θ2入射的电波的偏振波的种类与以第一入射角度θ1入射的电波的偏振波的种类相同或者第一入射角度θ1为0
°
的情况下，从第二入射角度θ2减去第一入射角度θ1所得的值例如为70
°
以下。由此，在电波吸收体1a中，发挥所期望的吸收性能的入射角度的范围容易变大。
[0030]在以第二入射角度θ2入射的电波的偏振波的种类与以第一入射角度θ1入射的电波的偏振波的种类相同或者第一入射角度θ1为0
°
的情况下，从第二入射角度θ2减去第一入射角度θ1所得本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种电波吸收体，具备：第一电波吸收部，基于日本工业标准JIS R 1679∶2007测定的特定频率的电波的反射吸收量在0
°
～80
°
的入射角度中的第一入射角度下成为最大；及第二电波吸收部，在0
°
～80
°
的入射角度中的第二入射角度下所述电波的反射吸收量成为最大，所述第二入射角度的大小与所述第一入射角度的大小不同，或者以所述第二入射角度入射的所述电波的偏振波的种类与以所述第一入射角度入射的所述电波的偏振波的种类不同，所述第一电波吸收部和所述第二电波吸收部沿着预定的面配置。2.根据权利要求1所述的电波吸收体，其中，以所述第二入射角度入射的所述电波的偏振波的种类与以所述第一入射角度入射的所述电波的偏振波的种类相同，或者所述第一入射角度为0
°
，从所述第二入射角度减去所述第一入射角度所得的值为5
°
以上。3.根据权利要求1或2所述的电波吸收体，其中，以所述第二入射角度入射的所述电波的偏振波的种类与以所述第一入射角度入射的所述电波的偏振波的种类相同，或者所述第一入射角度为0
°
，从所述第二入射角度减去所述第一入射角度所得的值为70
°
以下。4.根据权利要求1至3中任一项所述的电波吸收体，其中，所述第二电波吸收部覆盖所述预定的面的面积相对于所述第一电波吸收部覆盖所述预定的面的面积之比为1/10～10。5.根据权利要求1至4中任一项所述的电波吸收体，其中，所述电波吸收体具备多个所述第一电波吸收部和多个所述第二电波吸收部，多个所述第一电波吸收部和多个所述第二电波吸收部沿着所述预定的面规则地或随机地配置。6.根据权利要求5所述的电波吸收体，其中，多个所述第一电波吸收部和多个所述第二电波...

【专利技术属性】
技术研发人员：福家一浩，古曾将嗣，松崎悠也，
申请(专利权)人：日东电工株式会社，
类型：发明
国别省市：