一种用于电子束流的能量测量系统技术方案

本实用新型专利技术提供一种用于电子束流的能量测量系统，包括：一种用于电子束流的能量测量系统，包括：铝基板，铝基板的下表面与一放置平面平行，上表面斜向上设置，且具有多个阶梯状的铝基阶级；电路板，设置于放置平面上且位于铝基板的下表面的下方，并与铝基板的下表面平行；电路板上设置有与铝基板上表面的铝基阶级一一对应的探测器，探测器用于探测从铝基板的上表面射入并穿过铝基板的下表面的电子束形成的电流；预处理模块，分别连接各个探测器，用于对探测器采集的电流进行预处理；数据分析模块，连接预处理模块，用于对预处理后的电流进行分析得到电子束流的最可几能量和平均能量。结构简单，测试成本低，测试方便。测试方便。测试方便。

【技术实现步骤摘要】
一种用于电子束流的能量测量系统


[0001]本技术涉及电子束辐照剂量测定技术，尤其涉及一种用于电子束流的能量测量系统。

技术介绍

[0002]众所周知，电子束辐射加工具有辐射功率大、剂量率高、加工速度快、成本低等优点，近年来在国内外发展很快。据不完全统计，目前我国电子加速器已增至200多台，而且还呈快速增长趋势。
[0003]现有技术一般都使用射程法即采用测量电子束在密度均匀物质中的射程R
p
来确定其能量。然而现有技术存在电子束流的能量测量系统成本高、测量复杂的技术问题。

技术实现思路

[0004]本技术提供一种用于电子束流的能量测量系统，旨在解决现有技术中能量测量系统成本高、测量复杂的技术问题。
[0005]一种用于电子束流的能量测量系统，其特征在于，
[0006]铝基板，铝基板的下表面与一放置平面平行，上表面斜向上设置，且具有多个阶梯状的铝基阶级；
[0007]电路板，设置于放置平面上且位于铝基板的下表面的下方，并与铝基板的下表面平行；
[0008]电路板上设置有与铝基板上表面的铝基阶级一一对应的探测器。
[0009]预处理模块，连接探测器。
[0010]进一步的，铝基板的上表面的相邻的铝基阶级之间具有相等的高度差。
[0011]进一步的，高度差为1mm。
[0012]进一步的，铝基板的下方放置有两个电路板，两个电路板彼此平行。
[0013]进一步的，铝基板的下表面的两侧边分别具有一支撑部，支撑部和铝基板的下表面之间形成一用于容纳电路板的容纳空间。
[0014]进一步的，探测器为PN结型半导体探测器。
[0015]进一步的，预处理模块包括：一采样电阻，采样电阻连接探测器。
[0016]进一步的，预处理模块还包括初级比例运算放大电路，初级比例运算放大电路连接采样电阻。
[0017]进一步的，预处理模块还包括次级比例运算放大电路，次级比例运算放大电路连接初级比例运算放大电路。
[0018]进一步的，预处理模块还包括模数转换电路，模数转换电路连接次级比例运算放大电路。
[0019]本技术的有益技术效果是：本技术提供的一种用于电子束流的能量测量系统，结构简单，测试成本低，测试方便。
附图说明
[0020]图1为本技术一种用于电子束流的能量测量系统的结构图；
[0021]图2为本技术一种用于电子束流的能量测量系统的预处理模块的结构连接示意图。
[0022]图3为本技术一种用于电子束流的能量测量系统的模块示意图。
[0023]其中，
[0024]1‑
铝基板；
[0025]2‑
探测器；
[0026]3‑
电路板；
[0027]4‑
采样电阻；
[0028]5‑
初级比例运算放大电路；
[0029]6‑
次级比例运算放大电路；
[0030]7‑
AD转换电路；
[0031]8‑
上位机；
[0032]9‑
预处理模块；
[0033]10
‑
控制模块。
具体实施方式
[0034]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0035]需要说明的是，在不冲突的情况下，本技术中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
[0036]下面结合附图和具体实施例对本技术作进一步说明，但不作为本技术的限定。
[0037]参见图1
‑
3，一种用于电子束流的能量测量系统，包括：
[0038]铝基板(1)，铝基板(1)的下表面与一放置平面平行，上表面斜向上设置，且具有多个阶梯状的铝基阶级；
[0039]电路板(3)，设置于放置平面上且位于铝基板(1)的下表面的下方，并与铝基板(1)的下表面平行；
[0040]电路板(3)上设置有与铝基板(1)上表面的铝基阶级一一对应的探测器(2)，探测器(2)用于探测从铝基板(1)的上表面射入并穿过铝基板(3)的下表面的电子束形成的电流信号；
[0041]预处理模块(9)，分别连接各个探测器(2)，用于对探测器(2)采集的电流信号进行预处理；
[0042]对预处理后的电流信号发送给上位机(8)进行分析得到电子束流的最可几能量和平均能量。
[0043]优选的，铝基板(1)的射程距离从5mm到34mm。
[0044]优选的，探测器(2)分辨率为1mm。
[0045]进一步的，铝基板(1)的上表面的相邻的铝基阶级之间具有相等的高度差。
[0046]更换不同的铝基板(1)，即可得到不同的射程距离，例如可以换一块射程距离从6mm到35mm或者从7mm到36mm等不同的铝基板。
[0047]进一步的，铝基板(1)的上表面相邻两阶梯的高度差均相同。
[0048]进一步的，高度差为1mm。
[0049]优选的，铝基板(1)的上表面有30个阶梯。对应的，电路板(3)上的探测器(2)也有30个。探测器(2)在电路板(3)上均匀分布。
[0050]进一步的，铝基板(1)的下表面的下方放置有两个电路板(3)，两个电路板(3)彼此平行。每一个电路板(3)上设置有与铝基板(1)的阶梯一一对应的探测器(2)，探测器(2)用于探测从铝基板(1)的上方射入并穿过铝基板(3)的电子束流。也就是说，铝基板(1)的一个阶梯同时由两个探测器捕获电子束流，获得电子束流的平均电流信号值。
[0051]进一步的，铝基板(1)的下表面的两侧边分别具有一支撑部，支撑部和铝基板(1)的下表面之间形成一用于容纳电路板(3)的容纳空间。
[0052]进一步的，预处理模块(9)包括一采样电阻(4)，采样电阻(4)连接探测器(2)，用于对电流信号进行采样得到电流信号；
[0053]一初级比例运算放大电路(5)，初级比例运算放大电路(5)的输入端连接采样电阻(4)，用于对电流信号进行第一次放大处理；
[0054]一次级比例运算放大电路(6)，次级比例运算放大电路(6)的输入端连接初级比例运算放大电路(5)的输出端，用于对电流信号进行第二次放大处理；
[0055]一模数转换电路(7)(即AD转换电路)，模数转换电路(7)的输入端连接次级比例运算放大电路(6)的输出端，模数转换电路(7)的输出端连接至数据分析模块，用于将电流信号由模拟信号转换成数字信号；
[0056]控制模块(10)，连接模数转换电路(7)，用于将电流信号发送至数据分析模块(8)。
[00本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于电子束流的能量测量系统，其特征在于，包括：铝基板(1)，所述铝基板(1)的下表面与一放置平面平行，上表面斜向上设置，且具有多个阶梯状的铝基阶级；电路板(3)，设置于所述放置平面上且位于所述铝基板(1)的所述下表面的下方，并与所述铝基板(1)的下表面平行；所述电路板(3)上设置有与所述铝基板(1)上表面的所述铝基阶级一一对应的探测器(2)；预处理模块(9)，连接所述探测器(2)。2.如权利要求1所述的一种用于电子束流的能量测量系统，其特征在于，所述铝基板(1)的上表面的相邻的所述铝基阶级之间具有相等的高度差。3.如权利要求2所述的一种用于电子束流的能量测量系统，其特征在于，所述高度差为1mm。4.如权利要求1所述的一种用于电子束流的能量测量系统，其特征在于，所述铝基板(1)的下方放置有两个所述电路板(3)，两个所述电路板(3)彼此平行。5.如权利要求1所述的一种用于电子束流的能量测量系统，其特征在于，所述铝基板(1)的所述下表面的两侧边分别具有一支撑部，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：叶斌，谭松清，高宁，单云，张海龙，黄敬松，封淼伟，王复涛，赵平，王凤涛，徐粒峰，
申请(专利权)人：上海高鹰科技有限公司，
类型：新型
国别省市：