一种单分子膜测定仪制造技术

本实用新型专利技术涉及分子膜表征技术领域，尤其是一种单分子膜测定仪。包括减震装置(1)、测样装置(2)、红外反射吸收光谱装置(3)、电位测定装置(4)、原子力显微镜(5)、流变测定装置(6)、控制系统(7)；测样装置(2)位于减震面(101)上；红外反射吸收光谱装置(3)、电位测定装置(4)、原子力显微镜(5)均位于无尘罩(103)内侧面；流变测定装置(6)位于无尘罩(103)内顶端且在轨道(201)上方；沿轨道(201)方向依次为红外反射吸收光谱装置(3)、电位测定装置(4)、原子力显微镜(5)、流变测定装置(6)。加载不同模块，实现对单分子膜的结构、组成、电性能、表面形貌、力学性能、流变性能等分析测定。流变性能等分析测定。流变性能等分析测定。

【技术实现步骤摘要】
一种单分子膜测定仪


[0001]本技术涉及分子膜表征
，尤其是一种单分子膜测定仪。

技术介绍

[0002]单分子膜的研发，对新型电子学器件及仿生学元件的研发有重大意义。通过对单分子膜的研究，发展仿生膜，可以建立细胞膜的模型，理解细胞膜在细胞活动中的作用，进一步研究生物膜的生命学机理和功能。
[0003]现有多种单分子膜制备方法，在对单分子膜的研究方面，不仅涉及单分子膜的制备，而且涉及单分子膜的表征和应用，其中表征是重要的一个环节，表征的效果有利于理解单分子膜对宏观应用的影响。目前，在一些高端的单分子膜制备设备中，附带有表征测定模块，能够对刚制备出来的单分子膜进行分子取向、组成、表面形貌、粘弹性、表面电位等进行测定。然而，这类设备一般都为进口产品，价格较贵；此外，单分子膜检测对环境要求较高，手环境影响较大。

技术实现思路

[0004]本技术的目的是提供一种单分子膜测定仪，加载不同模块，实现对固体基底上单分子膜的结构、组成、电性能、表面形貌、力学性能、流变性能等的分析测定。
[0005]为了达到上述目的，本技术提供如下技术方案：
[0006]一种单分子膜测定仪，包括：
[0007]减震装置，所述减震装置设置有减震面、支撑脚和无尘罩，所述支撑脚位于减震面的底角处；所述无尘罩为立体空腔，位于减震面上，覆盖减震面；
[0008]测样装置，所述测样装置设置有轨道和样品台；所述样品台与轨道啮合连接，在轨道上移动；
[0009]红外反射吸收光谱装置，所述红外反射吸收光谱装置为界面红外反射吸收光谱，设置有光源和检测器；
[0010]电位测定装置，所述电位测定装置为探针式表面电位测定装置；
[0011]原子力显微镜，所述原子力显微镜设置有探针、压电陶瓷、调节装置一、反馈装置、微悬臂；所述探针与微悬臂螺纹连接，微悬臂与调节装置一螺纹连接；所述探针与调节装置一螺纹连接；所述反馈装置分别与探针、压电陶瓷电性连接；
[0012]流变测定装置，所述流变测定装置设置有电动机、转子、力传感器、调节装置二；所述电动机与转子啮合连接；所述力传感器位于转子与电动机啮合连接处；所述调节装置二的一端固定在无尘罩顶端，另一端连接电动机；
[0013]控制系统，所述控制系统分别与测样装置、红外反射吸收光谱装置、电位测定装置、原子力显微镜、流变测定装置电性连接；
[0014]所述测样装置位于减震面上，其中轨道分别连接减震面的两条短边，与减震面的长边平行；所述红外反射吸收光谱装置、电位测定装置、原子力显微镜均位于无尘罩的内侧
面；所述流变测定装置位于无尘罩内的顶端且在轨道上方；沿轨道方向由前往后依次为红外反射吸收光谱装置、电位测定装置、原子力显微镜、流变测定装置。
[0015]所述红外反射吸收光谱装置在光源出口端还设置有单色器；在检测器前端还设置有信号放大器。
[0016]所述光源和检测器分别位于无尘罩的不同侧面上，光源发射光束照射在样品台，反射光束反射到检测器。
[0017]所述减震面内腔安装有减震器。
[0018]所述压电陶瓷位于样品台上，样品置于压电陶瓷上。
[0019]所述反馈装置设置有两个，一个反馈装置位于样品台底端与压电陶瓷电性连接，另一个反馈装置位于探针上且与探针电性连接。
[0020]本技术的工作原理：
[0021]将单分子膜转移到样品台上，并放置于防尘罩内，沿着轨道前进，界面红外反射吸收光谱装置的光源发射光照射到样品表面，经样品反射的光由检测器接收，依据光信号的改变得到相应的光谱图，根据光谱图可分析分子的取向和化学组成；
[0022]样品台前进，电位测定装置对样品表面电荷进行测定；
[0023]样品台前进，原子力显微镜的调节装置一调节探针，反馈装置进行反馈，从而对样品表面形貌、力学等性能进行分析测定；
[0024]样品台继续前进，流变测定装置的调节装置二调节转子压住样品，转子旋转，对样品的粘弹性进行测定。
[0025]本技术的优点：
[0026]1、区别于单分子膜制备设备附带的检测设备，该设备能够加载不同模块，实现对固体基底上单分子膜的结构、组成、电性能、表面形貌、力学性能、流变性能等的分析测定。
[0027]2、减震面的设计，使得样品处于一个较高的稳定平台，有效防止由于横向振动、纵向振动对样品测试产生的影响。
[0028]3、先经过无损测试，得到较为全面的样品信息，最后进行流变性能测试，使得样品经过一个流程可以得到较多的信息。
[0029]4、单色器和信号放大器的设计，使得样品微弱的反射信号可以检测，且对信号变化情况更加灵敏。
[0030]5、反馈装置设置有两个，两个反馈装置相互配合，准确控制探针感受样品表面情况。
附图说明
[0031]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0032]图1是本技术的结构示意图；
[0033]图2是本技术的红外反射吸收光谱装置结构示意图；
[0034]图3是本技术的原子力显微镜结构示意图；
[0035]1、减震装置，101、减震面，102、支撑脚，103、无尘罩，2、测样装置，201、轨道，202、样品台，3、红外反射吸收光谱装置，301、光源，302、检测器，303、单色器，304、信号放大器，4、电位测定装置，5、原子力显微镜，501、探针，502、压电陶瓷，503、调节装置一，504、反馈装置，505、微悬臂，6、流变测定装置，601、电动机，602、转子，603、力传感器，604、调节装置二，7、控制系统。
具体实施方式
[0036]下面将结合本技术的附图，对本技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0037]实施例1
[0038]根据图1所示，一种单分子膜测定仪，包括：
[0039]减震装置1，所述减震装置1设置有减震面101、支撑脚102和无尘罩103，所述支撑脚102位于减震面101的底角处；所述无尘罩103为立体空腔，位于减震面101上，覆盖减震面101；
[0040]测样装置2，所述测样装置2设置有轨道201和样品台202；所述样品台202与轨道201啮合连接，在轨道201上移动；
[0041]红外反射吸收光谱装置3，所述红外反射吸收光谱装置3为界面红外反射吸收光谱，设置有光源301和检测器302；
[0042]电位测定装本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种单分子膜测定仪，其特征在于，包括：减震装置(1)，所述减震装置(1)设置有减震面(101)、支撑脚(102)和无尘罩(103)，所述支撑脚(102)位于减震面(101)的底角处；所述无尘罩(103)为立体空腔，位于减震面(101)上，覆盖减震面(101)；测样装置(2)，所述测样装置(2)设置有轨道(201)和样品台(202)；所述样品台(202)与轨道(201)啮合连接，在轨道(201)上移动；红外反射吸收光谱装置(3)，所述红外反射吸收光谱装置(3)为界面红外反射吸收光谱，设置有光源(301)和检测器(302)；电位测定装置(4)，所述电位测定装置(4)为探针式表面电位测定装置；原子力显微镜(5)，所述原子力显微镜(5)设置有探针(501)、压电陶瓷(502)、调节装置一(503)、反馈装置(504)、微悬臂(505)；所述探针(501)与微悬臂(505)螺纹连接，微悬臂(505)与调节装置一(503)螺纹连接；所述反馈装置(504)分别与探针(501)、压电陶瓷(502)电性连接；流变测定装置(6)，所述流变测定装置(6)设置有电动机(601)、转子(602)、力传感器(603)、调节装置二(604)；所述电动机(601)与转子(602)啮合连接；所述力传感器(603)位于转子(602)与电动机(601)啮合连接处；所述调节装置二(604)一端固定在无尘罩(103)顶端，另一端连接电动机(601)；控制系统(7)，所述控制系统(7)分别与测样装置(2)、红外反射吸收光谱装置(3)、电位测定装置(...

【专利技术属性】
技术研发人员：李坤泽，
申请(专利权)人：李坤泽，
类型：新型
国别省市：