【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及，它们使得 读写头能够以高精度与存储介质接触而不会使读写头或存储装置受损。
技术介绍
在磁盘装置中，已知一种动态地控制诸如磁盘的存储介质的表面与 读写头元件之间的距离(更具体地说，读写头的面对磁盘的端部与存储介质之间的磁间隔)的技术(例如，日本专利申请特开No.2003-272335)。 根据该技术，在读写头中设置加热元件，以通过该加热元件产生的热而 使得读写头的一部分膨胀，从而使读写头更靠近存储介质，并且通过控 制加热值来控制存储介质的表面与读写头之间的距离。近年来，随着磁 盘装置的存储容量的显著提高，对读写头与磁盘之间的距离进行控制变 得更加重要。通过增加磁盘的记录密度来增加磁盘装置的存储容量。当向具有高 记录密度的磁盘写数据或从其读数据时，需要使读写头尽可能靠近磁盘 以增强其对信号的灵敏度。但是，如果读写头过于靠近磁盘，则由于读写头和磁盘的彼此接触而存在使读写头或磁盘或者二者受损的风险。因此，为了提高高密度磁盘装置的读写性能，必须精确地控制读写 头，以使得读写头保持得非常靠近磁盘但仍不与其接触。通过前述的热 膨胀来获得读写头控制的良好精度。为...
【技术保护点】
一种读写头控制装置，该读写头控制装置用于通过加热器的热膨胀来控制用于从存储介质读数据以及向存储介质写数据的读写头的位置，该读写头控制装置包括： 加热器控制单元，该加热器控制单元逐级地增加提供给所述加热器的电流； 外力抽样获取单元，该外力抽样获取单元获取分别表示沿所述读写头的读写头支撑机构的运动方向作用于所述读写头上的外力的大小的信号的抽样值； 外力评价单元，每当所述加热器控制单元增加所述电流时，该外力评价单元计算由所述外力抽样获取单元获取的抽样值的代表值，以评价所述外力的大小；以及 接触检测单元，该接触检测单元通过将由所述外力评价单元得到的各个评价结...
【技术特征摘要】
JP 2007-1-31 2007-0222231、一种读写头控制装置，该读写头控制装置用于通过加热器的热膨胀来控制用于从存储介质读数据以及向存储介质写数据的读写头的位置，该读写头控制装置包括加热器控制单元，该加热器控制单元逐级地增加提供给所述加热器的电流；外力抽样获取单元，该外力抽样获取单元获取分别表示沿所述读写头的读写头支撑机构的运动方向作用于所述读写头上的外力的大小的信号的抽样值；外力评价单元，每当所述加热器控制单元增加所述电流时，该外力评价单元计算由所述外力抽样获取单元获取的抽样值的代表值，以评价所述外力的大小；以及接触检测单元，该接触检测单元通过将由所述外力评价单元得到的各个评价结果与预定的阈值进行比较，来检测所述读写头与所述存储介质之间的接触。2、 根据权利要求1所述的读写头控制装置，其中，所述外力评价单 元计算由所述外力抽样获取单元获取的抽样值的方差作为所述代表值。3、 根据权利要求l所述的读写头控制装置，其中，所述外力评价单 元计算由所述外力抽样获取单元获取的抽样值的积分绝对值作为所述代 表值。4、 根据权利要求1所述的读写头控制装置，其中，所述外力抽样获 取单元获取分别表示相对于所述存储介质上的目标轨道的偏差的位置误 差信号的抽样值，所述位置误差信号表示所述外力的大小。5、 根据权利要求l所述的读写头控制装置，其中，所述外力抽样获 取单元获取对所述读写头支撑机构进行致动以跟随所述存储介质上的目 标轨道的驱动机构的驱动电流的抽样值，所述驱动电流表示所述外力的 大小。6、 根据权利要求1所述的读写头控制装置，其中，所述接触检测单元根据所述存储介质上的目标轨道的切线与所述读写头支撑机构之间的 偏航角的绝对值来改变所述阈值。7、 根据权利要求l所述的读写头控制装置，其中，当增加所述电流 时，所述加热器控制单元允许在至少一段持续时间内，减小所述电流， 同时保持所述电流的上限稳定。8、 根据权利要求7所述的读写头...
【专利技术属性】
技术研发人员：山下哲，齐藤俊二，阿部幸雄，柳茂知，
申请(专利权)人：富士通株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]
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