【技术实现步骤摘要】
射线检查系统及散射校正方法
[0001]本公开涉及射线检查领域，尤其涉及一种射线检查系统及散射校正方法。
技术介绍
[0002]在X射线检查领域，散射通常是造成图像质量下降和产生错误信号的主要原因。相关技术对散射校正的研究主要是针对于CT型的检查系统的研究，这种检查系统所使用的X射线能量一般在几百keV的级别，且X射线为锥形束。散射校正多采用复杂的算法分析实现。
[0003]在其他应用场景中，例如海关中使用的集装箱检查系统，往往使用能量级别更高的X射线，例如兆伏级的X射线。为了减少散射影响，相关技术中通过增加屏蔽和准直器来减少散射信号。
技术实现思路
[0004]在本公开的一个方面，提供一种射线检查系统，包括：
[0005]射线源，被配置为产生射线束流；
[0006]第一探测器阵列，至少部分位于所述射线束流的覆盖范围内；
[0007]第二探测器阵列，与所述第一探测器阵列位于所述射线检查系统的检查对象的同侧，且位于所述射线束流的覆盖范围外，所述第二探测器阵列被配置为接收所述射线束...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种射线检查系统，其特征在于，包括：射线源(1)，被配置为产生射线束流(10)；第一探测器阵列(2)，至少部分位于所述射线束流(10)的覆盖范围内；第二探测器阵列(3)，与所述第一探测器阵列(2)位于所述射线检查系统的检查对象(4)的同侧，且位于所述射线束流(10)的覆盖范围外，所述第二探测器阵列(3)被配置为接收所述射线束流(10)在透过所述检查对象(4)的过程中的散射信号；和处理器(5)，与所述第一探测器阵列(2)和所述第二探测器阵列(3)信号连接，被配置为根据所述散射信号对所述第一探测器阵列(2)的接收信号进行散射校正。2.根据权利要求1所述的射线检查系统，其特征在于，所述第一探测器阵列(2)包括至少一组第一探测器模块(20)，每组第一探测器模块(20)包括沿第一方向(x)排列的多个第一探测器模块(20)，所述第二探测器阵列(3)包括至少一组第二探测器模块(30)，每组第二探测器模块(30)包括沿第一方向(x)排列的多个第二探测器模块(30)；所述第一方向(x)与所述射线束流(10)的束流平面平行。3.根据权利要求2所述的射线检查系统，其特征在于，每组第一探测器模块(20)中的第一探测器模块(20)的数量与每组第二探测器模块(30)的数量相同，且每组第一探测器模块(20)中各个第一探测器模块(20)与每组第二探测器模块(30)中各个第二探测器模块(30)一一对应，且与对应的第二探测器模块(30)在所述第一方向(x)上的位置相同。4.根据权利要求2所述的射线检查系统，其特征在于，所述第二探测器阵列(3)包括一组第二探测器模块(30)，该组第二探测器模块(30)位于所述第一探测器阵列(2)在第二方向(y)的一侧；或者所述第二探测器阵列(3)包括两组第二探测器模块(30)，所述两组第二探测器模块(30)分别位于所述第一探测器阵列(2)在第二方向(y)的两侧；其中，所述第二方向(y)与所述射线束流(10)的束流平面垂直。5.根据权利要求2所述的射线检查系统，其特征在于，所述第一探测器阵列(2)包括的第一探测器模块(20)与所述第二探测器阵列(3)包括的第二探测器模块(30)在规格上均相同。6.根据权利要求2所述的射线检查系统，其特征在于，所述第一探测器阵列(2)包括的第一探测器模块(20)与所述第二探测器阵列(3)包括的第二探测器模块(30)在规格、数量和排列位置中的至少一种上不同。7.根据权利要求1所述的射线检查系统，其特征在于，所述第一探测器阵列(2)与所述第二探测器阵列(3)在第二方向(y)上的间距(d)大于所述第一探测器阵列(2)的灵敏区和所述第二探测器阵列(3)的灵敏区中的最小像素尺寸，所述第二方向(y)与所述射线束流(10)的束流平面垂直。8.根据权利要求1所述的射线检查系统，其特征在于，所述处理器(5)被配置为对所述第一探测器阵...
【专利技术属性】
技术研发人员：李树伟，张清军，邹湘，朱维彬，赵博震，李祥华，王钧效，
申请(专利权)人：同方威视技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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