一种LED光源特性测试装置制造方法及图纸

一种LED光源特性测试装置，包括:微处理器、晶体振荡电路、复位电路、通信模块、灯光强度采集模块、测试电路和被测发光二极管，所述微处理器的振荡信号端与晶体振荡电路的信号输出端相连接，微处理器的复位信号端与复位电路信号输出端相连接，微处理器的通讯信号端与通信模块的通信端相连接，所述被测发光二极管连接在测试电路上，测试电路的灯电压信号采集端与微处理器的灯电压信号输入端相连接，测试电路的灯电流信号采集端与微处理器的灯电流信号输入端相连接；所述灯光强度采集模块的光强信号输出端与微处理器的光强信号端相连接。本设计能够同时测试LED的电压、电流、温度和光强特性。强特性。强特性。

【技术实现步骤摘要】
一种LED光源特性测试装置


[0001]本技术涉及一种测试装置，尤其涉及一种LED光源特性测试装置，具体适用于测试LED发光二极管的发光性能。

技术介绍

[0002]LED即发光二极管(light emitting diode)的缩写，是一种能发光的半导体电子元件，它的基本结构是一块电致发光的半导体材料芯片，LED发光二极管的功耗低、寿命长、不易破损、高亮度且绿色环保，LED发光二极管的运用领域广泛，广泛的应用于到手机、台灯、家电等日常家电和机械生产等各个行业。
[0003]LED光源的性能受到电压、电流以及环境温度等因素的影响，因此需要一种能够检测LED光源的电压、电流、温度及光强的LED光源特性测试装置。

技术实现思路

[0004]本技术提供了一种能同时测试LED的电压、电流、温度和光强特性的LED光源特性测试装置。
[0005]为实现以上目的，本技术的技术解决方案是：
[0006]一种LED光源特性测试装置，包括：微处理器、晶体振荡电路、复位电路、通信模块、灯光强度采集模块、测试电路和被测发光二极管本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种LED光源特性测试装置，其特征在于：所述光源特性测试装置包括：微处理器（1）、晶体振荡电路（2）、复位电路（3）、通信模块（5）、灯光强度采集模块（8）、测试电路（11）和被测发光二极管（12），所述微处理器（1）的振荡信号端与晶体振荡电路（2）的信号输出端相连接，微处理器（1）的复位信号端与复位电路（3）信号输出端相连接，微处理器（1）的通讯信号端与通信模块（5）相连接；所述被测发光二极管（12）与测试电路（11）电连接，所述测试电路（11）的灯电压信号采集端（ad1）与微处理器（1）的灯电压信号输入端相连接，测试电路（11）的灯电流信号采集端（ad0）与微处理器（1）的灯电流信号输入端相连接；所述灯光强度采集模块（8）的光强信号输出端（ad3）与微处理器（1）的光强信号端相连接。2.根据权利要求1所述的一种LED光源特性测试装置，其特征在于：所述光源特性测试装置还包括USB下载模块（4），所述USB下载模块（4）与微处理器（1）的下载信号端相连接，下载模块（4）包括USB数据下载接口与USB信号转换电路，微处理器（1）通过USB信号转换电路与USB数据下载接口信号连接。3.根据权利要求2所述的一种LED光源特性测试装置，其特征在于：所述微处理器（1）通过通信模块（5）与上位机信号连接，所述通信模块（5）包括单电源电平转换芯片与九针串口，所述微处理器（1）通过单电源电平转换芯片与九针串口信号连接。4.根据权利要求3所述的一种LED光源特性测试装置，其特征在于：所述光源特性测试装置还包括显示模块（6），所述显示模块（6）包括显示器（61）与显示控制电路（62），所述显示器（61）的信号输入端与微处理器（1）的显示信号输出端相连接；所述显示控制电路（62）的显示信号控制端（ad2）与微处理器（1）的显示控制信号输入端相连接；所述显示控制电路（62）通过第二电位器（R2）对显示信号控制端（ad2）的电压进行调节...

【专利技术属性】
技术研发人员：古智锋，阳小燕，李芳，
申请(专利权)人：广州软件学院，
类型：新型
国别省市：