基于Fourier插值的远场方向图快速测量方法技术

本发明专利技术公开了一种基于Fourier插值的远场方向图快速测量方法，解决了远场测量需求采样间隔小才能准确重构天线远场方向图的问题。根据天线的远场测量条件确定待测天线的远场距离；用本发明专利技术的待测天线的远场测量间隔准则确定采样间隔；抽测出天线某个表面上辐射远场的幅度和相位，依次计算和得到待测天线远场的Fourier展开系数、远场方向图函数和待测天线的幅度方向图和相位方向图，实现了远场方向图快速测量。本发明专利技术基于带限周期函数的Fourier插值法，快速准确的重构出角度间隔任意小的方向图，提高了测试效率。本发明专利技术适用于多通道、多波束、扫频测试中，可大大减少采样点数，显著提高测试效率。高测试效率。高测试效率。

【技术实现步骤摘要】
基于Fourier插值的远场方向图快速测量方法


[0001]本专利技术属于天线
，主要涉及天线远场测量，具体是一种基于Fourier插值的远场方向图快速测量方法，用于远场测量且能够显著提高测试效率。

技术介绍

[0002]现有的天线测量方法一般可分为远场测量和近场测量。近场测量是在微波暗室内，利用计算机控制一个特性已知的测试探头，抽测出距离天线表面3～5个波长的某个表面上场的幅度和相位分布，然后由近场测量数据、测试探头特性和扫描面的形状，通过近远场变换算法计算出天线的远场特性。根据扫描面的形状，天线近场测量一般分为平面近场测量、柱面场测量和球面场测量。近场测量的好处是能够得到天线远场的三维方向图数据，缺点是系统成本高且测量时间长。如果只需要得到某一切面的方向图数据，并且场地条件满足天线远场距离，往往采用远场法对天线进行测量。远场测量由于其测试方法简单、直观，测量设备简单，测试成本相对较低，能很快的得到天线某一切面测试结果等因素成为大多数天线测试的首选，在天线测量中被大量应用。
[0003]由远场测量的基本理论可知，为了能够精确地确本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于Fourier插值的远场方向图快速测量方法，测量过程中涉及到天线测量系统中的测试仪器、位于远场的置于转台之上的待测天线、控制计算机、测试探头等，所有的测试探头测试前均特性已知，其特征在于：结合带限周期函数的Fourier插值法进行天线远场测量，包括有如下步骤：步骤一 确定待测天线的远场距离：根据天线的远场测量条件计算出待测天线与测试探头之间的距离，将天线放置于该距离处的转台上；步骤二 确定待测天线的采样间隔：根据待测天线的远场测量间隔准则，利用间隔准则计算公式计算出待测天线的采样间隔，该测量间隔准则为待测天线的半功率波瓣宽度量级；步骤三 抽测出天线某个表面上辐射远场的幅度和相位：根据待测天线采样间隔，利用控制计算机控制一个与待测天线工作频率一致且特性已知的测试探头，抽测出天线某个表面上辐射远场的幅度和相位分布；步骤四 得到待测天线远场的Fourier展开系数：根据待测天线辐射场的幅度和相位，通过快速傅里叶变换法，利用Fourier展开系数公式计算得到待测天线远场的Fourier展开系数；步骤五 得到待测天线的远场方向图函数：根据天线远场Fourier展开系数，通过逆快速傅里叶变换法，利用远场方向图函数公式计算得到待测天线的远场方向图函数；步骤六 得到待测天线的幅度方向图和相位方向图：根据待测天线的远场方向图函数，对待测天线的远场方向图函数取绝对值获得待测天线的幅度方向图，对待测天线的远场方向图函数取角度获得待测天线的相位方向图，完成对天线的远场测量。2.根据权利要求1所述的一种基于F...

【专利技术属性】
技术研发人员：栗曦，王可阳，杨林，郜静逸，杨钰，
申请(专利权)人：西安电子科技大学，
类型：发明
国别省市：