局部产生子数模转换器参考电压的模数转换器制造技术

本发明专利技术涉及模拟集成电路设计领域，为改变现有技术由电压源直接为ADC结构中的子数模转换器提供参考电压的方式，改为局部产生每列ADC中子数模转换器的参考电压，从而避免读出电路列与列之间的串扰、降低噪声、提高精度。本发明专利技术，局部产生子数模转换器参考电压的模数转换器，每个子数模转换器的输入连接一个对应的子模数转换器输出的数字码，该数字码决定了子数模转换器输出的理论参考电压大小；采样电容和运放构成乘二放大电路，一组采样电容的一端连接运放输入端、另一端连接实际参考电压，即子数模转换器的输出。本发明专利技术主要应用于模拟集成电路设计制造场合。成电路设计制造场合。成电路设计制造场合。

【技术实现步骤摘要】
局部产生子数模转换器参考电压的模数转换器


[0001]模拟集成电路设计领域，特别涉及图像传感读出电路的设计领域。具体涉及模数转换器中的子数模转换器装置。

技术介绍

[0002]图像传感器的的像素能够感应光信号，并输出模拟电学信号，但是获取图像信息需要对数字信号进行处理，因此模数转换器(Analog to Digital Converter,ADC)在图像传感器中发挥着至关重要的作用。图像传感器的常用ADC主要分为芯片级ADC、列级ADC和像素级ADC，芯片级ADC是指所有像素共用一个ADC，对ADC的工作速度要求较高，一般用于小规模像素阵列的读出电路；列级ADC是指每一列像素共用一个ADC，对ADC的速度要求相对较低，设计难度相对较小；像素级ADC是指每个像素或相邻几个像素集成一个ADC，像素级ADC的优点是信噪比高，缺点是会增加芯片的面积和功耗、降低像素的填充因子。当前常用的列级ADC主要有四种：单斜ADC(Single
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Slope ADC,SS
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ADC)、过采样ADC(sigma<br/>‑
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种局部产生子数模转换器参考电压的模数转换器，其特征是，每个子数模转换器的输入连接一个对应的子模数转换器输出的数字码，该数字码决定了子数模转换器输出的理论参考电压大小；采样电容和运放构成乘二放大电路，一组采样电容的一端连接运放输入端、另一端连接实际参考电压，即子数模转换器的输出。2.如权利要求1所述的局部产生子数模转换器参考电压的模数转换器，其特征是，电容1+和电容1
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是Cyclic ADC的精确乘二电路的采样电容，其中电容1+的一端连接运放的同相输入端，另一端连接子数模转换器的输出2，电容1
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的一端连接运放的反相输入端，另一端连接子数模转换器的输出1。3.如权利要求1所述的局部产生子数模转换器参考电压的模数转换器，其特征是，由子模数转换器中的逻辑控制电路根据子模数转换器输出的数字码决定当前模数转换周期中参考电压的大小，由子模数转换器中的比较器判断子数模转换器输出的实际参考电压和理论参考电压的大小关系，若采样电容采样端的电压小于此次转换所需的参考电压，则连接列电流源和采样电容的开关闭合、连接电源地和采样电容...

【专利技术属性】
技术研发人员：聂凯明，潘志红，高志远，徐江涛，高静，王耕耘，张旭，
申请(专利权)人：天津大学，
类型：发明
国别省市：