用于在X射线设备中进行剂量测量的方法和设备技术

本发明专利技术涉及一种用于剂量测量的设备，所述设备设计用于在X射线设备(1)中使用，所述设备包括：镜元件(2)，所述镜元件设计用于将光场(L)耦合输入到穿过镜元件的X射线(R)中；测量单元(3)，所述测量单元用于测量在载体材料(T)处的射线感生的变化，其中载体材料(T)是镜元件(2)的一部分和/或是设备的在X射线设备(1)中常规使用时处于X射线设备(1)的辐射场中的其他部件的一部分。本发明专利技术还涉及一种用于剂量测量的对应的方法以及一种X射线设备。测量的对应的方法以及一种X射线设备。测量的对应的方法以及一种X射线设备。

【技术实现步骤摘要】
用于在X射线设备中进行剂量测量的方法和设备


[0001]本专利技术涉及用于剂量测量的方法和设备，所述方法和设备设计用于在X射线设备中使用，尤其涉及一种具有集成的剂量测量系统的X射线准直器。

技术介绍

[0002]在X射线诊断和干预中必要的是，监控施加给患者的辐射剂量。为此，必须确定患者所经受的剂量，这例如通过如下方式实现：即测量或计算在患者前方的区域中的剂量率或剂量面积乘积。例如，这对于间接X射线照相是规范规定的。
[0003]当前，所述问题通过如下方式解决：直接在X射线准直器之后使用电离室，所述电离室测量关于面积的积分剂量(剂量面积乘积DFP或Dose Area Product DAP)。替选地，也可以从发生器参数，例如管电压、管电流和辐射持续时间中计算DFP(例如参见US 6,330,299)。
[0004]然而，这两种方法具有缺点。剂量的直接测量是成本密集的，并且需要不可忽略的附加的空间。因为必须使用脉冲形状的部分简化的假设，所以计算易受错误计算影响。此外，计算不能是实时的，因此不能在所涉及的时刻确定当前的剂量率或DFP率本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于剂量测量的设备，所述设备设计用于在X射线设备(1)中使用，所述设备包括：
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镜元件(2)，所述镜元件(2)设计用于将光场(L)耦合输入到穿过所述镜元件的X射线(R)中，
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测量单元(3)，所述测量单元(3)用于测量在载体材料(T)处的射线感生的变化，其中所述载体材料(T)是所述镜元件(2)的一部分，和/或是所述设备的在X射线设备(1)中常规使用时处于所述X射线设备(1)的辐射场中的其他部件的一部分。2.根据权利要求1所述的设备，其中所述镜元件(2)具有所述载体材料(T)，所述载体材料(T)是镜反射的并且用作为镜，或所述载体材料(T)施加在镜上。3.根据上述权利要求中任一项所述的设备，所述设备包括准直器板(4)作为其他部件，其中所述准直器板(4)具有所述载体材料(T)，其中所述载体材料(T)优选地至少施加在所述准直器板(4)的如下棱边上，所述棱边在常规使用中用于X射线(R)的准直。4.根据上述权利要求中任一项所述的设备，其中所述载体材料(T)在X射线辐射通过时改变所述载体材料(T)的电特性，和/或其中所述载体材料(T)包括闪烁体材料(S)，优选地包括闪烁的塑料或硫氧化钆、钨酸钙、碘化铯或聚乙烯甲苯。5.根据权利要求2至4中任一项所述的设备，其中所述测量单元(3)设计用于测量所述载体材料(T)的射线感生的变化，并且优选地，为了所述测量，所述测量单元直接地或经由信号导体与所述载体材料(T)连接。6.根据上述权利要求中任一项所述的设备，其中所述测量单元(3)在所述测量的范围内确定所述镜元件(2)的电特性的变化，优选地确定电导率和/或电容，其中所述镜元件(2)特别优选地具有电容层。7.根据上述权利要求中任一项所述的设备，其中所述测量单元(3)设计用于测量在X射线辐射通过时在载体材料(T)中产生的光，其中所述镜元件(2)特别优选地具有闪烁的载体材料(T)。8.根据上述权利要求中任一项所述的设备，其中所述测量单元(3)的元件存在于所述镜元件(2)上的载体材料(T)中，优选地以用于测量辐射剂量的、具有剂量测量场的剂量测量设备的形式，所述剂量测量场...

【专利技术属性】
技术研发人员：阿尔贝特，
申请(专利权)人：西门子医疗有限公司，
类型：发明
国别省市：