塑料光纤的芯径测量方法及用于该塑料光纤的芯径测量方法的塑料光纤的芯径测量装置、塑料光纤的缺陷检测方法及用于该塑料光纤的缺陷检测方法的塑料光纤的缺陷检测装置制造方法及图纸

为了提供一种能够准确地测量塑料光纤(POF)的芯径的POF的芯径测量方法及POF的芯径测量装置、POF的缺陷检测方法及用于该POF的缺陷检测方法的POF的缺陷检测装置，具备朝向POF(1)的侧面照射光的光照射机构(2、2')、设置于相对于上述POF(1)与上述光照射机构(2、2')相反的一侧的摄像机构(3、3')、以及对由上述摄像机构(3、3')得到的POF(1)的图像数据进行处理来计算POF(1)的芯径的数据处理机构，将上述光照射机构(2、2')的发光宽度设为W，将上述光照射机构(2、2')的发光位置与上述POF(1)的侧面之间的最短距离设为D，将上述光照射机构(2、2')配置为使最短距离D相对于上述发光宽度W的比(D/W)为0.9～1.3。比(D/W)为0.9～1.3。比(D/W)为0.9～1.3。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】塑料光纤的芯径测量方法及用于该塑料光纤的芯径测量方法的塑料光纤的芯径测量装置、塑料光纤的缺陷检测方法及用于该塑料光纤的缺陷检测方法的塑料光纤的缺陷检测装置


[0001]本专利技术涉及一种测量用于通信用途等的塑料光纤(以下有时称作“POF”)的芯径的方法及用于该方法的POF的芯径测量装置、POF的缺陷检测方法及用于该缺陷检测方法的POF的缺陷检测装置，更详细地说，涉及一种能够在POF的制造工序中在线上连续地测量POF的芯径的方法及其装置、能够检测POF的缺陷的方法及其装置。

技术介绍

[0002]POF由于材料为塑料而轻量且具有良好的可挠性，并且能够以低成本进行制造，因此近年来需求正逐渐扩大。一般来说，这样的POF是利用对通过熔融挤出成形、边界凝胶聚合法形成的预制件进行熔融加热延伸的方法等来制造。但是，当使用于制造POF的装置连续地长时间运转时，有时难以确保均匀的品质。
[0003]因此，例如在专利文献1中，提出了一种一边进行制造一边测量光传输损失以使制造出的POF的产品质量(光信号的传输损失)提高的检查装置。另外，在专利文献2中提出了一种检测聚合物包层光纤的覆盖的异常部的覆盖异常部检测方法，以应对可靠性的要求。
[0004]然而，专利文献1的检查装置是激光实际地通过POF的芯内来确认激光的散射的程度并测量POF的光损失，虽然能够判断芯是否产生了缺陷(异物、龟裂、气泡等)，但无法测量所形成的芯的直径。
[0005]另外，专利文献2的检测方法是使检查光入射于POF并通过POF的图像中的亮度的随时间的变化来判定是否从该覆盖包层的异常部向外部泄漏了检查光，基于此来检测异常部。但是，该检测方法也与上述专利文献1同样无法测量所形成的芯的直径。
[0006]现有技术文献
[0007]专利文献
[0008]专利文献1：日本特开2014
‑
2002号公报
[0009]专利文献2：日本特开2016
‑
85138号公报

技术实现思路

[0010]专利技术要解决的问题
[0011]另一方面，由于POF中的芯径的变动会引起带宽的减小，因此提供始终稳定的芯径的POF对于提高光通信的可靠性而言是重要的。因此，因为只要能够连续地进行芯径的准确的测量，就能够在线上仅将芯径偏离了规定的范围的POF排除，因此强烈要求确立该技术。另外，因为只要能够连续地进行POF的缺陷的检测，就能够在线上仅将具有缺陷的部位排除，因此也期待确立该技术。
[0012]本专利技术是鉴于这样的情况而完成的，提供一种能够准确地测量POF的芯径的POF的芯径测量方法及用于该芯径测量方法的POF的芯径测量装置、POF的缺陷检测方法及用于该
缺陷检测方法的POF的缺陷检测装置。
[0013]用于解决问题的方案
[0014]为了达成上述的目的，本专利技术提供以下的[1]～[14]。
[0015][1]一种POF的芯径测量方法，用于测量POF的芯径，所述POF的芯径测量方法包括以下工序：摄像工序，设置朝向所述POF的一个侧面照射光的光照射机构和拍摄所述POF的、被照射光的侧面的相反侧的侧面的摄像机构，从所述光照射机构向POF的侧面照射光，通过所述摄像机构来拍摄所述POF的相反侧的侧面，来得到图像数据；以及数据处理工序，对由所述摄像机构得到的POF的图像数据进行处理，其中，在所述摄像工序中，将所述光照射机构的发光宽度设为W，将光照射机构的发光位置与所述POF的侧面之间的最短距离设为D，将所述光照射机构和POF配置为使最短距离D相对于所述发光宽度W的比即D/W为0.9～1.3，在所述数据处理工序中，根据所述POF的图像数据来获取POF的侧面的光强度分布，基于所述光强度分布来计算所述POF的芯径。
[0016][2]在[1]所记载的POF的芯径测量方法中，在所述摄像工序中，从至少两个方向对所述POF进行光照射和拍摄来得到所述POF的、方向不同的至少两个侧面的图像数据，并且，在所述数据处理工序中，基于根据所述至少两个图像数据获取到的光强度分布来计算所述POF的芯径。
[0017][3]在[1]或[2]所记载的POF的芯径测量方法中，在所述数据处理工序中，基于根据所述POF的图像数据获取到的POF的径向上的光强度分布，来计算所述POF的芯径以及包层径。
[0018][4]在[3]所记载的POF的芯径测量方法中，在所述数据处理工序中，基于计算出的所述POF的芯径和包层径来计算所述POF的芯的偏心量。
[0019][5]一种POF的芯径测量装置，测量具有芯和包层的POF的芯径，所述芯径测量装置具备：光照射机构，其朝向所述POF的一个侧面照射光；摄像机构，其设置于相对于所述POF与所述光照射机构相反的一侧，所述光照射机构拍摄所述POF的、被照射光的侧面的相反侧的侧面；以及数据处理机构，其对由所述摄像机构得到的POF的图像数据进行处理，其中，将所述光照射机构的发光宽度设为W，将所述光照射机构的发光位置与所述POF的侧面之间的最短距离设为D，所述光照射机构被配置为使最短距离D相对于所述发光宽度W的比即D/W为0.9～1.3，所述数据处理机构被设定为：根据所述POF的图像数据来获取POF的径向上的光强度分布，基于所述光强度分布来计算所述POF的芯径。
[0020][6]在[5]所记载的POF的芯径测量装置中，对所述POF至少从两个方向进行利用所述光照射机构进行的光照射和利用摄像机构进行的拍摄，得到所述POF的、方向不同的至少两个侧面的图像数据，所述数据处理机构被设定为：基于根据所述至少两个图像数据获取到的光强度分布，来计算所述POF的芯径。
[0021][7]在[6]所记载的POF的芯径测量装置中，包括隔着所述POF相对的光照射机构和摄像机构的摄像单元以相对于POF而言方向不同的配置设置有至少两组。
[0022][8]在[6]所记载的POF的芯径测量装置中，包括隔着所述POF相对的光照射机构和摄像机构的摄像单元设置有单独一组，所述POF与所述摄像单元的相对配置能够变更。
[0023][9]在[5]～[8]中的任一项所记载的POF的芯径测量装置中，所述数据处理机构被设定为：基于根据所述POF的图像数据获取到的POF的径向上的光强度分布，来计算所述POF
的芯径和包层径。
[0024][10]在[9]所记载的POF的芯径测量装置中，所述数据处理机构被设定为：基于计算出的所述POF的芯径和包层径，来计算所述POF的芯的偏心量。
[0025][11]一种POF的缺陷检测方法，用于检测POF的缺陷，所述POF的缺陷检测方法包括以下工序：摄像工序，设置朝向所述POF的一个侧面照射光的光照射机构和所述光照射机构对应的拍摄所述POF的、被照射光的侧面的相反侧的侧面的摄像机构，所述光照射机构均向POF的侧面照射光，并通过与所述光照射机构对应的摄像机构来拍摄所述POF的相反侧的侧面，来得到图像数据；以及数据处理工序，对由所述摄像机构得到的图本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种塑料光纤的芯径测量方法，用于测量塑料光纤的芯径，所述塑料光纤的芯径测量方法的特征在于，包括以下工序：摄像工序，设置朝向所述塑料光纤的一个侧面照射光的光照射机构和拍摄所述塑料光纤的、被照射光的侧面的相反侧的侧面的摄像机构，从所述光照射机构向塑料光纤的侧面照射光，通过所述摄像机构来拍摄所述塑料光纤的相反侧的侧面，来得到图像数据；以及数据处理工序，对由所述摄像机构得到的塑料光纤的图像数据进行处理，其中，在所述摄像工序中，将所述光照射机构的发光宽度设为W，将光照射机构的发光位置与所述塑料光纤的侧面之间的最短距离设为D，将所述光照射机构和塑料光纤配置为使最短距离D相对于所述发光宽度W的比即D/W为0.9～1.3，在所述数据处理工序中，根据所述塑料光纤的图像数据来获取塑料光纤的侧面的光强度分布，基于所述光强度分布来计算所述塑料光纤的芯径。2.根据权利要求1所述的塑料光纤的芯径测量方法，其特征在于，在所述摄像工序中，从至少两个方向对所述塑料光纤进行光照射和拍摄来得到所述塑料光纤的、方向不同的至少两个侧面的图像数据，并且，在所述数据处理工序中，基于根据至少两个所述图像数据获取到的光强度分布来计算所述塑料光纤的芯径。3.根据权利要求1或2所述的塑料光纤的芯径测量方法，其特征在于，在所述数据处理工序中，基于根据所述塑料光纤的图像数据获取到的塑料光纤的径向上的光强度分布，来计算所述塑料光纤的芯径和包层径。4.根据权利要求3所述的塑料光纤的芯径测量方法，其特征在于，在所述数据处理工序中，基于计算出的所述塑料光纤的芯径和包层径来计算所述塑料光纤的偏心量。5.一种塑料光纤的芯径测量装置，测量具有芯和包层的塑料光纤的芯径，所述芯径测量装置的特征在于，具备：光照射机构，其朝向所述塑料光纤的一个侧面照射光；摄像机构，其设置于相对于所述塑料光纤与所述光照射机构相反的一侧，所述摄像机构拍摄所述塑料光纤的、被照射光的侧面的相反侧的侧面；以及数据处理机构，其对由所述摄像机构得到的塑料光纤的图像数据进行处理，将所述光照射机构的发光宽度设为W，将所述光照射机构的发光位置与所述塑料光纤的侧面之间的最短距离设为D，所述光照射机构被配置为使最短距离D相对于所述发光宽度W的比即D/W为0.9～1.3，所述数据处理机构被设定为：根据所述塑料光纤的图像数据来获取塑料光纤的径向上的光强度分布，基于所述光强度分布来计算所述塑料光纤的芯径。6.根据权利要求5所述的塑料光纤的芯径测量装置，其特征在于，对所述塑料光纤至少从两个方向进行利用所述光照射机构进行的光照射和利用摄像机构进行的拍摄，得到所述塑料光纤的、方向不同的至少两个侧面的图像数据，所述数据处理机构被设定为：基于根据至少两个所述图像数据获取到的光强度分布，来计算所述塑料光纤的芯径。7.根据权利要求6所述的塑料光纤的芯径测量装置，其特征在于，包括隔着所述塑料光纤相对的光照射机构和摄像机构的摄像单元以相对于塑料光纤
而言方向不同的配置设置有至少两组。8.根据权利要求6所述的塑料光纤的芯径测量装置，其特征在于，包括隔着所述塑料光纤相对的光照射机构和摄像机构的摄像单元设置有单独一组，所述塑料光纤与所述摄像单元的相对配置能够变更。9.根据权利要求5至8中的任一项所述的塑料光纤的芯径测量装置，其特征在于，所述数据处理机构被设定为：基于根据所述塑料光纤的图像数据获取到的塑料光纤的径向上的光强度分布，来计算所述塑料光纤的芯径和包层径。10.根据权利要求9所述的塑料光纤的芯径测量装置，其特征在于，所述数据处理机构被设定为：基于计算出的所述塑料光纤的芯径和包层径，来计算所述塑料光纤的偏心量。11.一种塑料光纤的缺陷检测方法，用于检测塑料光纤的缺陷，所述塑料光纤的缺陷检测方法的特征在于，包括以下工序：摄像工序，设置朝向所述塑料光纤的一个侧面照射光的光照射机构和与所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：坂本优，末广一郎，
申请(专利权)人：日东电工株式会社，
类型：发明
国别省市：