光学模组测试方法、装置、系统、计算机设备及存储介质制造方法及图纸

本申请涉及一种光学模组测试方法、装置、系统、计算机设备及存储介质，控制器首先进行测试设备是否正常接入测试板的检测，在测试设备正常接入测试板的情况下才会进行光学模组测试操作，并且在测试完成后再次进行测试设备是否正常接入测试板的检测，若正常则对下一个光学模组进行测试以及进行测试设备是否正常接入测试板的检测，直至所有预测试的光学模组的测试均完成。通过上述方案，在进行各个光学模组测试的过程中能够实时、多次进行测试设备是否正常接入测试板的检测操作，避免在测试过程中由于操作人员的误操作导致误判，直接将光学模组作为不良品的情况发生，能够有效地提高良品率，与传统的光学模组测试方案相比具有更强的测试可靠性。强的测试可靠性。强的测试可靠性。

【技术实现步骤摘要】
光学模组测试方法、装置、系统、计算机设备及存储介质


[0001]本申请涉及测试
，特别是涉及一种光学模组测试方法、装置、系统、计算机设备及存储介质。

技术介绍

[0002]随着科学技术的飞速发展，手机等电子产品的种类越来越多，手机等电子产品集摄像、拍照、通信等功能于一身，给人们的日常生活带来了极大的便利。手机等电子产品的摄像装置作为其中较为重要的一部分，相关光学模组的使用可靠性将直接影响到电子产品的质量。因此，手机等电子产品的生产过程中，往往需要对光学模组进行测试以保证最终运用到产品时不会出现问题。
[0003]传统的光学模组测试方案直接将光学模组连接到测试板，然后检测是否有测试设备接入，当有测试设备接入时直接进行相关的测试操作，若没有则退出连接进行故障检测。该种方式很容易导致测试过程中由于测试设备连接不上而误判光学模组为不良品，进而增加产品的不良率，降低了产能。因此，传统的光学模组测试方案具有测试可靠性差的缺点。

技术实现思路

[0004]基于此，有必要针对传统的光学模组测试方案测试可靠性差的问题，提供一种光学模组测试方法、装置、系统、计算机设备及存储介质。
[0005]一种光学模组测试方法，应用于控制器，所述方法包括：当与测试板连接时，检测测试设备是否正常接入所述测试板；当所述测试设备正常接入所述测试板时，控制所述测试设备进行第一个光学模组的测试；再次进行所述测试设备是否正常接入所述测试板的检测；所述测试设备连接所述测试板，所述测试板用于接入预测试的光学模组；若再次检测时所述测试设备正常接入所述测试板，则控制所述测试设备进行下一个光学模组的测试，并返回所述再次进行所述测试设备是否正常接入所述测试板的检测的步骤，直至所有预测试的光学模组的测试均完成。
[0006]上述光学模组测试方法，在控制器与测试板连接开始进行光学模组测试的过程中，控制器首先进行测试设备是否正常接入测试板的检测，只有在测试设备正常接入测试板的情况下才会进行对应的光学模组测试操作，并且在测试完成之后还会再次进行测试设备是否正常接入测试板的检测。在再次检测中测试设备正常接入测试板时，控制器控制测试设备进行下一个光学模组的测试，并在下一个光学模组测试完成后返回再次进行测试设备是否正常接入测试板的检测的操作，直至所有预测试的光学模组的测试均完成。通过上述方案，在进行各个光学模组测试的过程中能够实时、多次进行测试设备是否正常接入测试板的检测操作，避免在测试过程中由于操作人员的误操作导致误判，直接将光学模组作为不良品的情况发生，能够有效地提高良品率，与传统的光学模组测试方案相比具有更强的测试可靠性。
[0007]在一个实施例中，所述当与测试板连接时，检测测试设备是否正常接入所述测试
板的步骤之后，还包括：当所述测试设备未正常接入所述测试板时，再次检测所述测试设备是否正常接入所述测试板。
[0008]本实施例中，在控制器与测试板连接开始进行光学模组测试时，若第一次检测时测试设备未与测试板正常连接，控制器将会再次进行测试设备是否与测试板正常连接的检测操作，避免由于操作人员失误引起测试设备与测试板未正常连接的情况发生，进一步保证光学模组测试方法测试可靠性。
[0009]在一个实施例中，所述当所述测试设备未正常接入所述测试板时，再次进行所述测试设备是否正常接入所述测试板的检测的步骤之后，还包括：若再次检测时所述测试设备正常接入所述测试板，则执行所述控制所述测试设备进行第一个光学模组的测试，并再次进行所述测试设备是否正常接入所述测试板的检测的步骤。
[0010]本实施例中，若在第一次未检测到测试设备与测试板正常连接的情况下再次进行检测时，检测到测试设备与测试板正常连接，则表示上一次检测时为操作人员误操作，此时控制器将会控制测试设备开始进行对应光学模组的检测操作，以保证在测试设备与测试板连接的情况下，有效地实现对应光学模组的测试操作，避免误判的情况发生。
[0011]在一个实施例中，所述再次进行所述测试设备是否正常接入所述测试板的检测的步骤之后，或所述当所述测试设备未正常接入所述测试板时，再次检测所述测试设备是否正常接入所述测试板的步骤之后，还包括：若再次检测时所述测试设备未正常接入所述测试板，则检测控制器与所述测试板的连接是否正常。
[0012]本实施例中，无论是对光学模组进行测试之后进行测试设备与测试板的正常连接检测，还是在测试设备与测试板第一次检测为正常连接的基础上再次检测时，只要出现测试设备未与测试板正常连接的情况，控制器都会进行控制器与测试板连接是否正常的检测。通过该方案可以保证光学组件的测试过程在控制器与测试板正常连接的情况下进行，避免出现由于控制器与测试板不正常连接，使得控制器检测到测试设备未正常接入测试板，最终引起光学组件不合格的误判操作。
[0013]在一个实施例中，所述检测控制器与所述测试板的连接是否正常的步骤，包括：获取回调设备返回的测试板信号，所述回调设备连接所述测试板和所述控制器，所述测试板信号为所述回调设备对所述测试板与所述控制器的连接状态进行检测后得到的信号；根据所述测试板信号判断所述控制器与所述测试板的连接是否正常。
[0014]本实施例采用回调设备进行控制器与测试板之间通信的监测工具，通过回调设备监测控制器与测试板之间的信号传输与接收是否正常，来判断两者是否正常连接，具有监测准确度高的优点。
[0015]在一个实施例中，所述根据所述测试板信号判断所述控制器与所述测试板的连接是否正常的步骤，包括：当所述测试板信号为表征所述控制器与所述测试板未连接的信号时，得到所述控制器与所述测试板连接异常的信息；当所述测试板信号为表征所述控制器与所述测试板连接的信号时，得到所述控制器与所述测试板连接正常的信息。
[0016]本实施例控制器在根据接收的测试板信号进行控制器与测试板是否连接正常的判断时，根据接收到回调设备返回的信号的类型判断控制器与测试板之间的通信连接是否正常，具有判断条件简单和容易实现的优点。
[0017]一种光学模组测试装置，应用于控制器，所述装置包括：测试设备检测模块，用于
当与测试板连接时，检测测试设备是否正常接入所述测试板；第一测试模块，用于当所述测试设备正常接入所述测试板时，控制所述测试设备进行第一个光学模组的测试，并再次进行所述测试设备是否正常接入所述测试板的检测，所述测试设备连接所述测试板，所述测试板用于接入预测试的光学模组；第二测试模块，用于若再次检测时所述测试设备正常接入所述测试板，则控制所述测试设备进行下一个光学模组测试，并返回所述再次进行所述测试设备是否正常接入所述测试板的检测，直至所有预测试的光学模组的测试均完成。
[0018]上述光学模组测试装置，在控制器与测试板连接开始进行光学模组测试的过程中，控制器首先进行测试设备是否正常接入测试板的检测，只有在测试设备正常接入测试板的情况下才会进行对应的光学模组测试操作，并且在测试完成之后还会再次进行测试设备是否正常接入测试板的检测。在再次检测中测试设本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光学模组测试方法，其特征在于，应用于控制器，所述方法包括：当与测试板连接时，检测测试设备是否正常接入所述测试板；当所述测试设备正常接入所述测试板时，控制所述测试设备进行第一个光学模组的测试；再次进行所述测试设备是否正常接入所述测试板的检测；所述测试设备连接所述测试板，所述测试板用于接入预测试的光学模组；若再次检测时所述测试设备正常接入所述测试板，则控制所述测试设备进行下一个光学模组的测试，并返回所述再次进行所述测试设备是否正常接入所述测试板的检测的步骤，直至所有预测试的光学模组的测试均完成。2.根据权利要求1所述的光学模组测试方法，其特征在于，所述当与测试板连接时，检测测试设备是否正常接入所述测试板的步骤之后，还包括：当所述测试设备未正常接入所述测试板时，再次检测所述测试设备是否正常接入所述测试板。3.根据权利要求2所述的光学模组测试方法，其特征在于，所述当所述测试设备未正常接入所述测试板时，再次检测所述测试设备是否正常接入所述测试板的步骤之后，还包括：若再次检测时所述测试设备正常接入所述测试板，则执行所述控制所述测试设备进行第一个光学模组的测试的步骤。4.根据权利要求2所述的光学模组测试方法，其特征在于，所述再次进行所述测试设备是否正常接入所述测试板的检测的步骤之后，或所述当所述测试设备未正常接入所述测试板时，再次检测所述测试设备是否正常接入所述测试板的步骤之后，还包括：若再次检测时所述测试设备未正常接入所述测试板，则检测控制器与所述测试板的连接是否正常。5.根据权利要求4所述的光学模组测试方法，其特征在于，所述检测控制器与所述测试板的连接是否正常的步骤，包括：获取回调设备返回的测试板信号，所述回调设备连接所述测试板和所述控制器，所述测试板信号为所述回调设备对所述测试板与所述控制器的连接状态进行检测后得到的信号；根据所述测试板信号判断所述控制器与所述测试板的连接是否正常。6.根据权利要求5所述的光学模组测试方...

【专利技术属性】
技术研发人员：韩友德，
申请(专利权)人：江西欧迈斯微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：