一种内存芯片测试治具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种内存芯片测试治具，包括芯片测试主板、用于固定芯片测试主板的主板固定夹具以及用于压紧待测内存芯片的若干芯片夹扣。芯片测试主板包括主板本体和设在主板本体一侧的金手指部，主板本体固定在主板固定夹具内，金手指部向外伸出主板固定夹具。主板本体的至少一面沿长度方向间隔设置有若干块芯片探针，主板固定夹具在每一块芯片探针对应的位置上开设有用于容置待测试内存芯片的容置槽。芯片夹扣的一端与主板固定夹具铰接，另一端通过锁扣件与主板固定夹具扣合连接。本实用新型专利技术的治具可同时对多个内存芯片进行测试，空间设计合理，芯片夹扣打开时省力，操作简单，芯片夹扣关闭时扣合稳定，稳固性强，内存芯片的取出和放入方便。片的取出和放入方便。片的取出和放入方便。

【技术实现步骤摘要】
一种内存芯片测试治具


[0001]本技术涉及芯片测试
，特别涉及一种内存芯片测试治具。

技术介绍

[0002]PCB即印制线路板，简称印制板，是电子工业的重要部件之一。几乎每种电子设备，只要有集成电路等电子元件，为了使各个元件之间的电气互连，都需要使用印制板。印制线路板通常由板体和焊接在板体上的若干内存芯片组成，内存芯片在焊接至板体上之前都需要进行性能测试。现有的内存芯片测试治具普遍存在操作不便且测试效率不高的问题，所以需要设计一款操作方便且测试效率高的内存芯片测试治具。

技术实现思路

[0003]针对
技术介绍
中所存在的技术问题，本技术的目的在于提供一种操作方便且测试效率高的内存芯片测试治具。
[0004]为了实现上述目的，本技术采用的技术方案如下：
[0005]一种内存芯片测试治具，包括芯片测试主板、用于固定所述芯片测试主板的主板固定夹具以及用于压紧待测内存芯片的若干芯片夹扣。所述的芯片测试主板包括主板本体和设在主板本体一侧的金手指部，所述的主板本体固定在所述主板固定夹具内，所述的金手指部向外伸出所述主板固定夹具。所述主板本体的至少一面沿长度方向间隔设置有若干块芯片探针，所述主板固定夹具在每一块芯片探针对应的位置上开设有用于容置待测试内存芯片的容置槽。所述芯片夹扣的一端与所述主板固定夹具铰接，另一端通过锁扣件与所述主板固定夹具扣合连接。
[0006]进一步地，所述主板固定夹具在靠近金手指部的一侧开设有锁扣槽，所述芯片夹扣的一端通过第一扭簧与所述主板固定夹具远离金手指部的一侧相连接。所述的锁扣件包括用于卡入所述锁扣槽内的锁扣片、与所述锁扣片的内侧面相抵接的推杆以及用于驱动所述推杆前后移动以实现锁扣片解锁的按压块。所述的锁扣片通过第二扭簧安装于芯片夹扣远离第一扭簧的一端，锁扣片的内侧设有卡钩。所述的按压块通过转轴安装在所述芯片夹扣顶部并与所述推杆相抵接。
[0007]其中，所述的按压块包括一体成型的按压部和旋转部，所述的按压部穿过所述芯片夹扣并与所述推杆的一端相抵接。所述旋转部设在所述按压部靠近锁扣片一侧端面的上部，所述旋转部上开设有供所述转轴穿过的通孔。
[0008]优选地，为了更好地实现对待测内存芯片的固定，所述芯片夹扣的底部的左右两侧各设有一个用于压紧待测内存芯片的压紧块，所述的压紧块与所述容置槽一一对应设置。
[0009]优选地，为了防止待测内存芯片因挤压力过大而造成损坏，所述压紧块的底部套设有缓冲橡胶块。
[0010]优选地，为了更好地实现对推杆的导向作用，所述芯片夹扣的底部固设有一导向
座，所述的导向座上开设有供所述推杆穿过的导向孔。
[0011]优选地，所述主板本体每一面上的芯片探针数量为8个或9个。
[0012]本技术具有如下有益效果：提供一种内存芯片测试治具，该治具可同时对多个内存芯片进行测试，空间设计合理，芯片夹扣打开时省力，操作简单，芯片夹扣关闭时扣合稳定，稳固性强，内存芯片的取出和放入方便，测试效率高。芯片夹扣通过设置在其顶部的按压块实现解锁，结构合理，方便省力，解锁方便快捷，操作简单。
附图说明
[0013]图1为本技术的立体结构示意图。
[0014]图2为芯片夹扣的解锁原理图。
[0015]主要组件符号说明：1、芯片测试主板；11、主板本体；110、芯片探针；12、金手指部； 2、主板固定夹具；20、容置槽；21、锁扣槽；3、芯片夹扣；30、第一扭簧；301、锁扣片； 302、推杆；303、按压块；304、第二扭簧；305、卡钩；306、转轴；307、按压部；308、旋转部；31、压紧块；310、缓冲橡胶块；32、导向座；320、导向孔。
具体实施方式
[0016]下面结合附图和具体实施方式，对本技术做进一步说明。
[0017]如图1、图2所示，一种内存芯片测试治具，包括芯片测试主板1、用于固定芯片测试主板1的主板固定夹具2以及用于压紧待测内存芯片的若干芯片夹扣3。芯片测试主板1包括主板本体11和设在主板本体11一侧的金手指部12，主板本体11固定在主板固定夹具2 内，金手指部12向外伸出主板固定夹具2。主板本体11的至少一面沿长度方向间隔设置有若干块芯片探针110，主板固定夹具2在每一块芯片探针110对应的位置上开设有用于容置待测试内存芯片的容置槽20。优选地，主板本体11每一面上的芯片探针110的数量为8个。芯片夹扣3的一端与主板固定夹具2铰接，另一端通过锁扣件与主板固定夹具2扣合连接。
[0018]主板固定夹具2在靠近金手指部12的一侧开设有锁扣槽21，芯片夹扣3的一端通过第一扭簧30与主板固定夹具2远离金手指部12的一侧相连接。锁扣件包括用于卡入锁扣槽 21内的锁扣片301、与锁扣片301的内侧面相抵接的推杆302以及用于驱动推杆302前后移动以实现锁扣片301解锁的按压块303。锁扣片301通过第二扭簧304安装于芯片夹扣3远离第一扭簧30的一端，锁扣片301的内侧设有卡钩305。按压块303通过转轴306安装在芯片夹扣3顶部并与推杆302相抵接。
[0019]按压块303包括一体成型的按压部307和旋转部308，按压部307穿过芯片夹扣3并与推杆302的一端相抵接。旋转部308设在按压部307靠近锁扣片301一侧端面的上部，旋转部308上开设有供转轴306穿过的通孔。优选地，芯片夹扣3的底部的左右两侧各设有一个用于压紧待测内存芯片的压紧块31，压紧块31与容置槽20一一对应设置。优选地，压紧块31的底部套设有缓冲橡胶块310。优选地，芯片夹扣3的底部固设有一导向座32，导向座32上开设有供推杆302穿过的导向孔320。
[0020]本技术的工作原理为：将芯片测试主板1通过螺丝锁付等方式固定在主板固定夹具 2内后，将若干个待测试内存芯片放入容置槽20内，将芯片夹扣3合上并通过末端卡钩305 与锁扣槽21的卡接配合实现对待测内存芯片的压紧固定；测试完成后，按压按压部
307带动推杆302向前移动，推杆302推动锁扣片301向外打开实现解锁，芯片夹扣3在第一扭簧 30自身的作用力下向上打开，取出测试完成的内存芯片，完成整个测试过程。
[0021]尽管结合优选实施方案具体展示和介绍了本技术，但所属领域的技术人员应该明白，在不脱离所附权利要求书所限定的本技术的精神和范围内，在形式上和细节上对本技术做出各种变化，均为本技术的保护范围。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种内存芯片测试治具，其特征在于：包括芯片测试主板、用于固定所述芯片测试主板的主板固定夹具以及用于压紧待测内存芯片的若干芯片夹扣，所述的芯片测试主板包括主板本体和设在主板本体一侧的金手指部，所述的主板本体固定在所述主板固定夹具内，所述的金手指部向外伸出所述主板固定夹具，所述主板本体的至少一面沿长度方向间隔设置有若干块芯片探针，所述主板固定夹具在每一块芯片探针对应的位置上开设有用于容置待测试内存芯片的容置槽，所述芯片夹扣的一端与所述主板固定夹具铰接，另一端通过锁扣件与所述主板固定夹具扣合连接。2.如权利要求1所述的一种内存芯片测试治具，其特征在于：所述主板固定夹具在靠近金手指部的一侧开设有锁扣槽，所述芯片夹扣的一端通过第一扭簧与所述主板固定夹具远离金手指部的一侧相连接，所述的锁扣件包括用于卡入所述锁扣槽内的锁扣片、与所述锁扣片的内侧面相抵接的推杆以及用于驱动所述推杆前后移动以实现锁扣片解锁的按压块，所述的锁扣片通过第二扭簧安装于芯片夹扣...

【专利技术属性】
技术研发人员：袁嘉玲，孔凡平，杨京，谢棋，杨松青，
申请(专利权)人：厦门市原子通电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：