一种定位试块中人工平底孔缺陷的方法技术

本发明专利技术涉及一种定位试块中人工平底孔缺陷的方法，包括将试块安放在水槽中，将超声检测用探头调垂直；将探头置于试块正上方，使试块表面回波达第一预定比例；沿横向方向向试块边缘移动探头，然后沿纵向方向向两侧移动，找到界面反射回波最高的点，如果该点的界面回波高于第二预定比例，则继续沿横向方向向试块边缘移动，再沿纵向方向向两侧移动，直至界面反射回波最高点反射回波高度为所述第二预定比例，即找到试块边缘切点，然后沿横向方向向中心移动半径距离，并微调探头位置，找到平底孔反射回波最高的点，即为平底孔的位置。本发明专利技术的方法操作简单可行，定位准确、快速，提高了后续自然缺陷当量评定及零件质量控制的效率。续自然缺陷当量评定及零件质量控制的效率。续自然缺陷当量评定及零件质量控制的效率。

【技术实现步骤摘要】
一种定位试块中人工平底孔缺陷的方法


[0001]本专利技术属于无损检测
，具体涉及一种定位试块中人工平底孔缺陷的方法。

技术介绍

[0002]探伤时采用自然缺陷回波与试块上的人工平底孔缺陷回波比较来获得自然缺陷的当量是一种常用的无损检测方法。对于性质和大小相同的缺陷，由于深度(声程)的不同，缺陷反射的回波高度也不同。实际工作中需要制作相同尺寸不同深度的人工反射体的距离
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波幅缺陷(DAC曲线)，来描述反射体回波高度随距离变化的关系。而制作DAC曲线需要定位到对比试块平底孔位置记录反射波的高度，而如何快速定位到试块中人工平底孔的位置(找孔)上显得尤为重要，目前制作DAC曲线测量试块上的人工平底孔缺陷回波时，采用在试块上无规律地不断移动探头来定位平底孔位置的方法，这种方式速度慢且盲目。

技术实现思路

[0003]鉴于现有技术的上述情况，针对制作DAC曲线时测量试块上的人工平底孔缺陷回波时，定位平底孔位置速度慢的问题，本专利技术的目的是提供一种定位试块中人工平底孔缺陷方法，其目的是快速找到平底孔位置及其回波，为本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种定位试块中人工平底孔缺陷的方法，包括如下步骤：将含有人工平底孔缺陷的圆柱形对比试块安放在装有水的水槽中，将超声检测用探头调垂直；将超声检测用探头置于对比试块正上方，使对比试块表面回波达超声检测满刻度的第一预定比例；沿对比试块上表面的横向方向向试块边缘缓慢移动探头，直至对比试块的界面反射回波降低，然后沿对比试块上表面的纵向方向向两侧移动，找到界面反射回波最高的点，如果该最高点的界面回波高于超声检测满刻度的第二预定比例，所述第二预定比例低于所述第一预定比例，则继续沿横向方向向对比试块边缘缓慢移动，找到界面反射回波最高点后再沿纵向方向向两侧移动，直至界面反射回...

【专利技术属性】
技术研发人员：林立志，王铮，王晓，梁菁，韩波，
申请(专利权)人：中国航发北京航空材料研究院，
类型：发明
国别省市：