一种ＴＦＴ的光电参数测试夹具制造技术

本发明专利技术适用于液晶显示领域，提供了一种ＴＦＴ的光电参数测试夹具，所述测试夹具包括：支架；由支架支撑的台板，所述台板上具有一与待测ＴＦＴ面板的显示区域大小相同的矩形空洞；位于所述矩形空洞一个边侧，通过滑杆与所述台板垂直活动连接的压头；以及固定于所述压头上的多个探针。本发明专利技术通过光电参数测试夹具对ＴＦＴ面板引脚上的相应测试点施加电压信号，可实现在光电特性测试装置中测绘出连续、准确的Ｖ－Ｔ曲线，进一步实现了在不需要绑定ＩＣ和ＦＰＣ的情况下测试其他的光电参数，有利于及早发现和解决问题，也避免了浪费ＩＣ和ＦＰＣ等元器件。

TFT photoelectric parameter testing clamp

The invention is applicable to liquid crystal display field, provides a TFT photoelectric parameter testing jig, the test fixture comprises a bracket; the bedplate is supported by a support frame, wherein the platen has a TFT display panel to be tested and a rectangular area of the same size in the rectangular hole; a hole in the side of the the sliding rod and the bedplate is vertically and movably connected with the head; and fixed on the pressure head of the multi probe. The present invention through the photoelectric parameter testing fixture applied voltage signal to the corresponding test point pin on the TFT panel, and can realize the photoelectric characteristic testing device in a continuous and accurate mapping of V - T curve, and further realize the tests of other electrical parameters without the need to bind IC and FPC, is conducive to early discovery and to solve the problem, but also to avoid the waste of the IC and FPC components.

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于液晶显示领域，尤其涉及一种TFT的光电参数测试夹具。
技术介绍
以液晶电视机、个人计算机、移动通信终端的应用为主，液晶显示器件市 场已经呈现出了快速的增，态势和良好的发展前景，液晶显示器件(Liquid Crystal Display, LCD)显示效果的好坏，即衡量LCD品质好坏的标准，通常 从对比度、响应时间、色度、视角、透光率等几个方面来判定。LCD的相对透光率(Tmnsmittance )随外加电压信号(Voltage)变化的特 性，即V-T曲线是其最重要的光电特性之一，对于超扭曲向列相液晶显示器 (Super Twisted Nematic LCD, STN LCD)和彩色超扭曲向列相液晶显示器 (Color Super Twisted Nematic LCD, CSTN LCD)的V_T曲线测试，由于 STN与CSTN的面板(panel)结构简单，通常只需要将STN/CSTN面板上所 有的行电极短接在一起，所有的列电极短接在一起，在行列电极之间施加一定 的电压，使整个LCD所有像素点的同时被点亮，改变电压的大小，就可以在 panel上实现从黑到白不同灰阶的显示，由LCD光电特性测试装置检测出被测 LCD的V-T曲线。由于薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor LCD， TFT LCD )的结 构较STN/CSTN LCD更为复杂，TFT面板的引脚上的电极走线非常细密，电极 之间的间隔也非常小，因此不可能像STN/CSTN panel那样将相同极性的电极 短接再通过改变电才及间电压的大小来进行V-T曲线的纟企测，目前测试TFT LCD 光电参数的方式一般都是在TFT面板引脚上的集成电路(Integrated Circuit, IC ) 位置绑定上驱动IC以及柔性印刷线路板(Flexible Printed Circuit, FPC )，由IC将外部的数字驱动信号转化为驱动合适的电压来实现TFT的显示，这样可以 在显示状态下测试一部分光电参数，如对比度等，但是由于V-T曲线的测试要 求所有像素点的驱动电压能够在一定范围内连续变化实现从白到黑的显示过程，而通过IC、FPC提供的驱动电压只能使TFT显示白黑之间的一些特定颜色， 而且受到IC的绑定工艺等因素的影响，也无法保证每个显示点的驱动电压完全 一致，因此无法测试出准确且连续变化的V-T曲线，另外在绑定好驱动IC和 FPC的TFT面板上测试其他的光电参数，也不利于及早发现和解决问题，可能 还会浪费IC和FPC等元器件
技术实现思路
'本专利技术实施例的目的在于提供一种TFT的光电参数测试夹具，旨在解决现 有技术在测试TFT面板的光电特性参数时无法准确的测出V-T曲线，以及只能 在绑定上IC和FPC的TFT面板上测试的问题。本专利技术实施例是这样实现的， 一种TFT的光电参数测试夹具，所述测试夹 具包括支架；由支架支撑的台板，所述台板上具有一与待测TFT面板的显示区域大小相 同的矩形空洞；位于所述矩形空洞一个边侧，通过滑杆与所述台板垂直活动连接的压头；以及固定于所述压头上的多个揮:针。电压信号，可实现在光电特性测试装置中测绘出准确的V-T曲线，进一步实现 了在不需要绑定IC和FPC的情况下测试其他的光电参数，有利于及早发现和 解决问题，也避免了浪费IC和FPC.等元器件。附图说明图1是本专利技术实施例提供的光电参数测试夹具适用的LCD光电特性测试装 置的结构原理图2是TFT面板的等效电路图3是本专利技术实施例提供的一个TFT面板示例的测试点示意图； 图4是本专利技术实施例提供的光电参数测试夹具的结构示意图； 图5是本专利技术实施例提供的基于三端可调稳压器LM317的测试电压产生电 路示意图。*具体实施例方式为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实 施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅 仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。本专利技术实施例中，通过光电参数测试夹具对TFT面板引脚上的相应测试点 施加电压信号，使各个像素点对应的晶体管的栅极同时处于打开状态，并在在 源极和公共电极之间施加一个连续变化的电压，保证TFT面板处于测试状态， 进而通过光电特性测试装置检测出TFT面板的V-T曲线及其他光电参数。图1示出了本专利技术实施例4是供的光电参数测试夹具适用的LCD光电特性测 试装置的结构原理，该光电特性测试装置主要由以下几部分组成计算机，电 机驱动装置，任意波形发生器，高速电力增幅器，光学系统包括光源、测光器、 物镜、光电倍增器PMT、分光光度计MCPD、恒温装置、摄像监视器等，其测 试原理如下(1) 将被测LCD面板固定在光电参数测试夹具中并一同置于载物台上，按 测量要求设置环境温度。(2) 由计算机控制电机驱动装置自动设置照明光源、测光器和载样台的位置。(3 )按被测LCD面板的驱动条件，利用任意波形发生器编制驱动波形ON 和OFF的波形，经高速电力增幅器放大后，将电压加到LCD面板上。(4)由测光器检测LCD面板的选择与非选择状态的光强度信号，由光导纤 维传入PMT/MCPD检出器、转换成电信号后，由数据控制器送入计算机处理， 这样可以一边改变受光角度或改变驱动电压，检测出显示单元的亮度变化，同 时检测出阈值特性、视角特性及对比度等特性。在不同温度下进行测试，可得 到LCD面板的温度特性。图2为典型的TFT面板的等效电路图，其中，每个显示点就是一个小的扭 曲向列相液晶显示器(Twisted Nematic LCD, TN LCD ),包括一个TFT、由 液晶所形成的平行板电容以及储存电容，其中平行板电容与储存电容并联，一 个基本的显示像素单元需要三个这样的显示点，分别对应红(Red)、绿(Green)、 蓝(Blue)三原色，具体显示时由栅极驱动器送出驱动脉冲，将当前行内的所 有的TFT打开，再由源极驱动器同时将这一行的显示点充电到各自所需的电压， 显示不同的灰阶，.当前行充电完毕后，栅极驱动器便将这一行的TFT关闭，并 打开下一行的TFT,继续对下一行进行充放电。在TFT面板的引线脚上均设置 有测试点，图3示出了 一个128x160像素的TFT面板，其引线脚共有7个测试 点，这7个测试点分别通过导电引线与panel内部的相应电极相连接，其中当 对测试点GG施加测试电压V—TEST时，TFT面板进入测试状态，G—ODD、 G—EVEN分别与奇数行、偶数行内各显示点TFT的栅极相连接，D一R、 D一G、 D一B连接到相应显示点的TFT的源极，且连接的显示点分别与彩色滤光膜中红 (Red)、绿(Green)、蓝(Blue)对应，VCOM为公共电极，接零电位，即 图3中的GND。当对G—ODD、 G_EVEN同时施加电压V—GATE时，整个TFT 面板内的显示点的TFT均被打开，将LCD光电特性测试装置产生的DATA电 位同时接到D一R、 D—G、 D—B三个测试点上，所有显示点均被同时充电至DATA 电位，使TFT面板处于全显示状态，改变DATA值，即可通过光电特性测试装 置测绘出TFT面板的V-T曲线，还可进一步测试出其他的光电特性参数。7应当理解，图3仅仅示出了某一特定型本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种ＴＦＴ的光电参数测试夹具，其特征在于，所述测试夹具包括：　支架；　由支架支撑的台板，所述台板上具有一与待测ＴＦＴ面板的显示区域大小相同的矩形空洞；　位于所述矩形空洞一个边侧，通过滑杆与所述台板垂直活动连接的压头；以及固定于所述压头上的多个探针。

【技术特征摘要】
1、一种TFT的光电参数测试夹具，其特征在于，所述测试夹具包括支架；由支架支撑的台板，所述台板上具有一与待测TFT面板的显示区域大小相同的矩形空洞；位于所述矩形空洞一个边侧，通过滑杆与所述台板垂直活动连接的压头；以及固定于所述压头上的多个探针。2、 戈。权利要求1所述的测试夹具，其特征在于，所述所述测试夹具进一步 包括 位于所述压头的正下方，固定于所述台板的磁铁；以及 固定于所述压头上，与所述磁铁通过磁力相吸的,兹性物件。3、 如权利要求1或2所述的测试夹具，其特征在于，所述夹具进一步包括 测试电压产生电路，其输入端与外接恒压源连接，通过所述探针对待测TFT面板的测试点施加电压。4、 如权利要求3所述的测试夹具，其特征在于，所述测试电压产生电路包括三端可调稳压器，其输入端与外接恒压源连接，其调整端通过可调变阻器 接地，其输出端通过电阻与调整端连接，输出端还与所述4果针连接。5、...

【专利技术属性】
技术研发人员：张春燕，余乘浪，
申请(专利权)人：比亚迪股份有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]