图像缺陷检测方法和装置、存储介质以及医疗成像系统制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种图像缺陷检测方法和装置、存储介质以及医疗成像系统。根据一实施方式，平板探测器的图像缺陷检测方法包括：确定平板探测器所获取的一图像上的疑似缺陷像素；将所述疑似缺陷像素标记于一疑似缺陷图；基于所述疑似缺陷图确定缺陷像素；以及将所述缺陷像素标记于一缺陷图。本发明专利技术提供的方案能够在不影响正常医疗使用的情况下，自动识别新出现的缺陷像素并且将这些缺陷像素增加到缺陷图中进行校正，提高用户使用体验，降低维护成本。降低维护成本。降低维护成本。

【技术实现步骤摘要】
图像缺陷检测方法和装置、存储介质以及医疗成像系统


[0001]本专利技术涉及医疗器械
，特别是一种平板探测器的图像缺陷检测方法、计算机存储介质、平板探测器的图像缺陷检测装置以及X-射线医疗成像系统。

技术介绍

[0002]平板探测器是X-射线医疗成像常用的成像部件，由于生产工艺和部件老化等原因造成的缺陷像素(如完全不显示图像的坏点或只在特定曝光剂量下正常成像而在其他剂量下表现异常的线性度较差的像素等)是平板探测器难以避免的影响成像质量的问题。从而，需要对平板探测器进行校准。
[0003]目前，常规的校准过程分为平板探测器出厂前校准和使用阶段的校准。在出厂前，可以识别已有的缺陷像素并完成校准。在使用阶段，随着时间的推移，仍需要不断进行校准以提高图像质量，往往需要工程师在现场完成相关的校准工作。然而，这种校准方式费时费力，并且在下次校准前会产生新的缺陷像素，影像成像质量。
[0004]针对上述问题，需要提供相应的解决方案以省时省力地完成平板探测器的缺陷检测和校准。

技术实现思路

[0005]有鉴于此，本专利技术一方面提出了一种平板探测器的图像缺陷检测方法，包括：确定平板探测器所获取的一图像上的疑似缺陷像素；将所述疑似缺陷像素标记于一疑似缺陷图；基于所述疑似缺陷图确定缺陷像素；以及将所述缺陷像素标记于一缺陷图。
[0006]其中，确定缺陷像素的步骤包括：针对所述平板探测器分预定次数所获取的不同图像，分别确定每个图像上的疑似缺陷像素；将每个疑似缺陷像素都标记于所述疑似缺陷图；以及将所述疑似缺陷图上被标记次数满足预定条件的疑似缺陷像素确定为缺陷像素。
[0007]其中，所述图像为一曝光图像或一暗场图像，确定疑似缺陷像素的步骤包括：将所述曝光图像或所述暗场图像上灰度值突变的像素确定为疑似缺陷像素。
[0008]其中，所述灰度值突变的像素的灰度值与其预定邻域内的像素的平均灰度值的差值超过一预定阈值。
[0009]其中，所述图像为一曝光图像，确定疑似缺陷像素的步骤包括：检查所述平板探测器的曝光区域内部和曝光区域外部的异常响应像素，并将所述异常响应像素确定为疑似缺陷像素。
[0010]其中，所述图像为一暗场图像，确定疑似缺陷像素的步骤包括：基于所述暗场图像的读取增益特征识别疑似缺陷像素或疑似缺陷像素段。
[0011]如前所述的平板探测器的图像缺陷检测方法还包括：基于所述缺陷图对所述平板探测器后续的曝光图像进行校正。
[0012]本专利技术另一方面提出了一种计算机存储介质，所述计算机存储介质中存储有程序指令，所述程序指令能够被运行来实现如前所述的任一种方法。
[0013]本专利技术再一方面提出了一种平板探测器的图像缺陷检测装置，包括：一检测单元，所述检测单元用于确定平板探测器所获取的一图像上的疑似缺陷像素；一第一标记单元，所述第一标记单元用于将所述疑似缺陷像素标记于一疑似缺陷图；一确定单元，所述确定单元用于基于所述疑似缺陷图确定缺陷像素；以及一第二标记单元，所述第二标记单元用于将所述缺陷像素标记于一缺陷图。
[0014]本专利技术又一方面提出了一种X-射线医疗成像系统，包括：一平板探测器；一如上所述的平板探测器的图像缺陷检测装置；以及一控制系统，所述控制系统用于根据所述图像缺陷检测装置反馈的缺陷图对所述平板探测器后续的曝光图像进行校正。
[0015]本专利技术提供的方案能够在不影响正常医疗使用的情况下，自动识别新出现的缺陷像素并且将这些缺陷像素增加到缺陷图中进行校正，提高用户使用体验，降低维护成本。
附图说明
[0016]下面将通过参照附图详细描述本专利技术的实施例，使本领域的普通技术人员更清楚本专利技术的上述及其他特征和优点，附图中：
[0017]图1为根据本专利技术一实施方式的平板探测器的图像缺陷检测方法的示意性流程图。
[0018]图2为根据本专利技术一实施方式的缺陷图的示意图。
[0019]图3为根据本专利技术一实施方式的预设邻域的示意图。
[0020]图4为根据本专利技术一实施方式的暗场图像示意图。
[0021]图5为根据本专利技术一实施方式的疑似缺陷图的示意图。
[0022]图6为根据本专利技术一实施方式的平板探测器的图像缺陷检测装置的示意性框图。
[0023]图7为根据本专利技术一实施方式的X-射线医疗成像系统的示意性框图。
[0024]其中，附图标记如下：
[0025]100
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平板探测器的图像缺陷检测方法
[0026]S110-S140
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方法
[0027]P
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缺陷图
[0028]R1
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疑似缺陷像素段
[0029]600
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平板探测器的图像缺陷检测装置
[0030]610
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检测单元
[0031]620
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第一标记单元
[0032]630
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确定单元
[0033]640
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第二标记单元
[0034]700
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X-射线医疗成像系统
[0035]710
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平板探测器
[0036]720
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平板探测器的图像缺陷检测装置
[0037]730
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控制系统
具体实施方式
[0038]为了对本专利技术的技术特征、目的和效果有更加清楚的理解，现对照附图说明本发
明的具体实施方式，在各图中相同的标号表示相同的部分。
[0039]在本文中，“示意性”表示“充当实例、例子或说明”，不应将在本文中被描述为“示意性”的任何图示、实施方式解释为一种更优选的或更具优点的技术方案。
[0040]为使图面简洁，各图中只示意性地表示出了与本专利技术相关的部分，它们并不代表其作为产品的实际结构。另外，以使图面简洁便于理解，在有些图中具有相同结构或功能的部件，仅示意性地绘示了其中的一个，或仅标出了其中的一个。
[0041]在本文中，“一”、“一个”不仅表示“仅此一个”，也可以表示“多于一个”的情形。在本文中，“第一”、“第二”等仅用于彼此的区分，而非表示它们的重要程度及顺序、以及互为存在的前提等。
[0042]在本文本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种平板探测器的图像缺陷检测方法，包括：确定平板探测器所获取的一图像上的疑似缺陷像素；将所述疑似缺陷像素标记于一疑似缺陷图；基于所述疑似缺陷图确定缺陷像素；以及将所述缺陷像素标记于一缺陷图。2.如权利要求1所述的平板探测器的图像缺陷检测方法，其中，确定缺陷像素的步骤包括：针对所述平板探测器分预定次数所获取的不同图像，分别确定每个图像上的疑似缺陷像素；将每个疑似缺陷像素都标记于所述疑似缺陷图；以及将所述疑似缺陷图上被标记次数满足预定条件的疑似缺陷像素确定为缺陷像素。3.如权利要求1所述的平板探测器的图像缺陷检测方法，其中，所述图像为一曝光图像或一暗场图像，确定疑似缺陷像素的步骤包括：将所述曝光图像或所述暗场图像上灰度值突变的像素确定为疑似缺陷像素。4.如权利要求3所述的平板探测器的图像缺陷检测方法，其中，所述灰度值突变的像素的灰度值与其预定邻域内的像素的平均灰度值的差值超过一预定阈值。5.如权利要求1所述的平板探测器的图像缺陷检测方法，其中，所述图像为一曝光图像，确定疑似缺陷像素的步骤包括：检查所述平板探测器的曝光区域内部和曝光区域外部的异常响应像素，并将所述异常响应像素...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘洁清，
申请(专利权)人：上海西门子医疗器械有限公司，
类型：发明
国别省市：