被测装置的自动化识别制造方法及图纸

本发明专利技术涉及被测装置的自动化识别。用于被测装置的自动化识别并基于该识别来检索与被测装置相关联的数据的系统和方法。系统和方法包括：接收基于被测装置的标识特性的识别密钥；将接收到的识别密钥与数据库中存储的密钥进行匹配；当接收到的识别密钥与所存储的密钥匹配时，检索与所存储的密钥相关的数据；基于检索到的数据传送在测试和测量装置上执行动作的指令；接收与被测装置相关的新数据；以及用新数据来更新数据库中的与所存储的密钥相关的数据。关的数据。关的数据。

【技术实现步骤摘要】
被测装置的自动化识别
[0001]优先权本公开要求对提交于2020年3月22日的题为“AUTOMATED RECOGNITION OF A DEVICE UNDER TEST（被测装置的自动化识别）”的美国临时申请号62/993,025和提交于2020年8月1日的题为“AUTOMATIC RECOGNITION OF SILICON IN A DEVICE UNDER TEST（被测装置中的硅的自动识别）”的美国临时申请号63/060,021的权益，通过引用将其全部内容结合于此。


[0002]本公开涉及与测试和测量系统相关的系统和方法，并且特别地涉及自动识别被测装置并组织与被测装置的识别相关的数据。

技术介绍

[0003]工程师和其他人员通常使用测试和测量仪器（如示波器）来测量被测装置（DUT）的各种信号和参数，以测试、测量、排除故障、或以其他方式表征和/或验证DUT的性能。用户通常采用测试和测量仪器来在DUT上在大量的测试点处采集测量数据，例如信号波形。例如，如果用户正在测量响应于输入信号的变化的参数的DUT的输出信号，则用户通常会针对单个测试点进行多次测量，即采集多次数据。
[0004]此外，在许多情况下，用户将需要针对给定的项目测试DUT设计的多个实例或副本。例如，工程师可能已针对一个项目构建了特定的印刷电路板组装件（PCBA）设计的十个原型，并且可能需要在这十个DUT中的每一个上对相同组的测试点执行相同组的测量，以便比较测得的数据、确定数据的统计属性、确定项目设计的操作性能范围等。随着测试点数量、在每个测试点处要执行的测试数量以及DUT数量的增加，针对一个项目管理和组织所有测得数据可能会变得充满挑战。特别地，需要用户能够容易地将一组测得数据与特定DUT和/或作为特定项目的一部分的一组DUT相关联。测得数据可以包括例如波形数据文件、设定文件、测试和测量仪器的显示器截屏等。
[0005]传统上，用户可以通过使用特定的命名方案保存数据来将测得数据与DUT相关联。然而，对共享项目工作的所有用户都必须记住并严格坚持这样的文件命名方案，否则数据可能会丢失或放错位置。
[0006]本公开的示例针对的是现有技术的这些和其他缺陷。
附图说明
[0007]本公开的示例的方面、特征和优点将从参考附图的对示例的以下描述中变得显而易见，在附图中：图1例示了根据本公开的一些示例的测试和测量系统的示例。
[0008]图2例示了图1的通信装置的示例。
[0009]图3是根据本公开的一些示例的用于生成DUT的识别密钥或标识符的示例框图。
[0010]图4是例示图1的测试和测量系统的操作的流程图。
[0011]图5是例示图1的测试和测量系统的另一操作的另一流程图。
具体实施方式
[0012]如上所述，用户通常使用测试和测量仪器（如示波器）来测量DUT的各种信号和参数，以测试、测量、排除故障、或以其他方式表征和/或验证DUT的性能。DUT可以是采用电、光、或测试和测量仪器可测得的其他类型的信号、或者具有测试和测量仪器可测得的其他物理参数的任何类型的装置。例如，DUT可以是印刷电路板组装件（PCBA），其可以包括各种子部分，如具有用于部件的特定焊盘图案、在部件焊盘图案之间的导电迹线的特定图案以及丝网印刷或其他印刷的元件名称或参考编号的裸印刷电路板（PCB）；分立部件，如电阻器、电容器、电感器、电线等；跳线，开关等；连接器，如各种类型的输入/输出（I/O）连接器、存储器插槽等；处理部件，如微处理器、微控制器、现场可编程门阵列（FPGA）等；集成电路，如专用集成电路（ASIC）、可编程逻辑器件（PLD）等；存储装置，如闪存、随机存取存储器（RAM）模块等；功率管理装置，如电源、功率转换器、滤波器等；散热器；输入装置；显示器、发光二极管（LED）、或其他指示器；以及众多不同形状因子的各种其他部件。
[0013]DUT的许多部件为测试和测量仪器提供测试点，以测量DUT的信号或参数。例如，测试和测量仪器可以联接到特定ASIC的特定引脚、或者如果ASIC被封装为球栅阵列（BGA）则联接到特定的球，以监视和测量该测试点处的电信号。通常使用被设计为与DUT上的测试点物理接触的测试和测量探针来将测试和测量仪器联接到DUT。
[0014]用户通常采用测试和测量仪器来在DUT上在大量的测试点处采集测量数据，例如信号波形。例如，如果用户正在测量响应于输入信号的变化的参数的DUT的输出信号，则用户通常会针对单个测试点进行多次测量，即采集多次数据。此外，在许多情况下，用户将需要针对给定的项目测试DUT设计的多个实例或副本。例如，工程师可能已针对一个项目构建了特定PCBA设计的多个原型，并且可能需要在这十个DUT中的每一个上对相同组的测试点执行相同组的测量，以便比较测得的数据、确定数据的统计属性、确定项目设计的操作性能范围等。有时，在这些测试期间或在使用DUT的其他点，DUT的部件还可能具有或需要可能会影响DUT的性能的更新。随着测试点数量、在每个测试点处要执行的测试数量以及DUT数量的增加，针对一个项目管理和组织所有测得数据可能会变得充满挑战。特别地，需要用户能够容易地将一组测得数据与特定DUT和/或作为特定项目的一部分的一组DUT相关联。测得数据可以包括例如波形数据文件、设定文件、测试和测量仪器的显示器截屏等。
[0015]传统上，用户可以通过使用特定的命名方案保存数据来将测得数据与DUT相关联。大多数测试和测量仪器都包括内部硬盘驱动器或其他存储装置，或者能够与外部存储装置（如USB闪驱或基于云的存储装置）对接。通常，用户给DUT一个名称，例如“prototypedevice1A”，然后使用反映该DUT名称的文件名或文件夹结构将测得数据保存到存储装置，例如“C:\prototype_data\prototypedevice1A
estdata1.wfm”。然而，对共享项目工作的所有用户都必须记住并严格坚持这样的文件命名方案，否则数据可能会丢失或放错位置。此外，在以下组织环境中坚持这样的命名方案变得指数级地愈发困难：在所述组织环境中，测试和测量仪器可能在对多个不同项目和/或DUT类型工作的多个用户之间共享、在组织中的多个实验室之间共享，来自DUT的测量数据可能是在多个物理位置采集的，
在这些物理位置处仪器的不同用户说的主要语言可能不同，等等。一些组织尝试维护其DUT的库存跟踪系统，但是这些系统需要手动更新和维护，并且容易出错。
[0016]所公开的技术的示例针对的是这些问题以及其他问题，这是通过提供自动为DUT创建唯一标识符或识别密钥并将与该DUT相关的数据与该唯一标识符相关联的技术。特别地，所公开的技术的示例可以包括一种系统，其基于DUT的物理特性来自动确定该DUT的身份或识别密钥，所述物理特性包括板的布局、板上的印刷代码、或板上的文本。在其他示例中，DUT可以包括用于标识的唯一电代码。本公开的其他方面提供了将针对该DUT的所有测得数据都链接到该识别密钥的方式，包括本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于识别被测装置的方法，包括：接收基于所述被测装置的标识特性的识别密钥；将接收到的识别密钥与数据库中存储的密钥进行匹配；当接收到的识别密钥与所存储的密钥匹配时，检索与所存储的密钥相关的数据；基于检索到的数据传送在测试和测量装置上执行动作的指令；接收与所述被测装置相关的新数据；以及用所述新数据来更新数据库中与所存储的密钥相关的数据。2.根据权利要求1所述的方法，还包括基于所述被测装置的物理特性来生成所述识别密钥。3.根据权利要求2所述的方法，其中，生成识别密钥包括分析所述被测装置的照片，并基于所述被测装置的所述照片来生成识别密钥。4.根据权利要求3所述的方法，其中，分析照片包括基于所述被测装置的物理布局来生成识别密钥。5.根据权利要求3所述的方法，其中，分析照片包括识别所述被测装置上的文本。6.根据权利要求2所述的方法，其中，生成识别密钥包括扫描印刷在所述被测装置上的快速响应码。7. 根据权利要求1所述的方法，还包括：接收在所述测试和测量仪器处执行动作的指令；以及基于接收到的指令来执行动作。8.根据权利要求7所述的方法，其中，所述动作包括基于与所述识别密钥一起存储的数据来修改所述测试和测量仪器的设定。9.根据权利要求7所述的方法，其中，所述动作包括基于所述数据生成给用户的消息。10.根据权利要求1所述的方法，还包括：接收基于所述被测装置的两个或更多个标识特性的多个识别密钥；将接收到的识别密钥与数据库中存储的密钥进行匹配；当接收到的识别密钥与所存储的密钥匹配时，检索与所存储的密钥相关的数据；基于检索到的数据传送在测试和测量仪器上执行动作的指令；接收与所述被测装置相关的新数据；以及用所述新数据来更新数据库中与所存储的密钥中的至少一个相关的数据。11.一种测试和测量仪器，包括：数据库，其被配置成存储多个识别密钥和与所述识别密钥相关联的数据；一个或多个处理器，其被配置成：...

【专利技术属性】
技术研发人员：S，
申请(专利权)人：特克特朗尼克公司，
类型：发明
国别省市：