一种高分辨率成像系统技术方案

技术编号:30340915 阅读:20 留言:0更新日期:2021-10-12 23:09
本实用新型专利技术公开了一种高分辨率成像系统,该系统包括物镜、STORM成像单元和像差探测单元;像差探测单元包括第一分光平板玻璃和像差探测器;物镜设置在待成像样品的正下方,成像单元设置物镜的正下方,第一分光平板玻璃设置在物镜和成像单元之间,且倾斜设置在物镜的正下方,像差探测器水平位于第一分光平板玻璃反射面的一侧。本实用新型专利技术只有像差探测部分,没有像差校正部分。通过测量样品固有的像差即可满足改善成像效果需求。且只利用一个像差探测器离线探测样品引入的像差,进而校正成像图片,这种方式不会导致光损失能量,且系统简单,成本低。成本低。成本低。

【技术实现步骤摘要】
一种高分辨率成像系统


[0001]本技术涉及显微镜成像
,具体涉及一种高分辨率成像系统。

技术介绍

[0002]在TIRF照明样品,STORM显微镜对样品超分辨成像的系统中,TIRF照明属于全反射并产生倏逝波,也就是在全反射时光会在光密介质中内反射,根据物理光学部分,光会在光疏介质中产生薄薄的一层倏逝波。典型的有效照明下渗透度只有50nm到100nm,只有临近盖玻片表面(进场)的荧光分子才能被激发,远场分子不受激发。TIRF照明过程中,倏逝波在照射样品时,样品上的荧光物质发出荧光,荧光透过样品被STORM显微镜成像。但是由于样品密度不均匀,样品发出的荧光透过样品时,会引入成像像差,进而导致成像的分辨率降低。
[0003]现有技术采用自适应光学的方案来提高成像的分辨率。自适应光学的方案包括两个部分,分别是像差探测部分和像差校正部分。但是像差校正补偿过程中,光路会引入到像差校正器件,这会导致光损失能量,且系统复杂,成本高。

技术实现思路

[0004]本技术的目的是为了克服以上现有技术存在的不足,提供了一种有像差探测部分,没本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种高分辨率成像系统,其特征在于,包括:物镜、STORM成像单元和像差探测单元;像差探测单元包括第一分光平板玻璃和像差探测器;物镜设置在待成像样品的正下方,成像单元设置物镜的正下方,第一分光平板玻璃设置在物镜和成像单元之间,且倾斜设置在物镜的正下方,像差探测器水平位于第一分光平板玻璃反射面的一侧。2.根据权利要求1所述的高分辨率成像系统,其特征在于,ST...

【专利技术属性】
技术研发人员:杨乐宝王宏达
申请(专利权)人:广东粤港澳大湾区黄埔材料研究院
类型:新型
国别省市:

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