一种基于最小实体要求任意方向上的直线度快速评定方法技术

本发明专利技术属于精密计量与计算机应用领域，具体涉及一种处于最小实体状态下、给定任意方向的直线度快速评定方法，由以下步骤组成：1：获取测量零件测点集，建立特征行向量集、状态元素集和边界元素集；2：获得初始关键序号集，将其加入到关键点集中；3：建立分析矩阵和分析列向量；4：对分析矩阵及其增广矩阵进行秩分析，进行秩比较，确定寻优方向；5：求测点与边界的运动向量；6：根据追及问题求解新的关键点，更新测点状态集元素；进入下一次寻优；7：结束寻优，求解零件此时的实效尺寸，与最小实体实效尺寸对比，判断零件合格性。判断零件合格性。判断零件合格性。

【技术实现步骤摘要】
一种基于最小实体要求任意方向上的直线度快速评定方法


[0001]本专利技术属于精密计量与计算机应用领域，具体涉及一种处于最小实体状态下、给定任意方向的直线度快速评定方法，可用于轴孔类零件直线度误差合格性的检测与评定，评定结果可以为加工工艺的改进提供指导。

技术介绍

[0002]尺寸误差、形位误差（形状误差和位置误差的简称）直接影响产品质量、装配及其使用寿命，快速、准确地计算零件误差，具有重要的意义。轴孔在机械零件中是一种十分常见的几何特征，轴孔类零件应用最小实体要求时直线度误差的合格与否将直接影响产品的装配质量、工作精度、及使用寿命。所以高效正确的评定零件有最小实体要求时直线度误差，对缩短产品生命周期和降低产品检测成本具有重要意义。
[0003]尺寸公差（公差即误差的允许范围）和形位公差之间的关系称为公差原则，使用不同的公差原则，可以满足不同特殊的功能要求，例如最小实体要求(LMR)可以在满足零件可装配性的条件下使用，当零件的基准应用LMR时，允许基准相对于基准的最小实体实效边界浮动，即相当于增大了被测要素的几何公差值，从而提高零件合格本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于最小实体要求下任意方向的直线度误差快速评定方法，其特征在于，通过以下步骤实现：步骤1：将待测零件通过测量仪器获得其表面测点集{ p
k
}，然后根据{ p
k
}建立相应的特征行向量集{ A
k
},边界元素集{ b
k
}和状态元素集{t
k
}，其中；k=1,2,3
…
， N；i为测点序号，N表示零件表面测点总数；p
k
={x
k
, y
k
, z
k
}是被测要素测点k的空间直角坐标；且被测轴轴线接近z轴，被测轴底面的中心平面与坐标系XOY平面接近；所有状态元素t
k
的集合为状态元素集{t
k
}；A
k
=([x
i
，y
i
，
‑
y
i
z
i
，x
i
z
i
])/t
k ，为特征行向量，所有的特征行向量A
k
的集合为特征行向量集{ A
k
}；b
k
=b，是一个大于0的实数，所有的边界元素b
k
的集合为边界元素集{ b
k
}；步骤1结束后进行步骤2；步骤2：将t
k
最小值对应的关键测点p
k
作为关键点，并将其测点序号k1加入到关键点集{k}中；步骤2结束后进行步骤3；步骤3：根据关键点集{ k}建立分析矩阵A和分析列向量b，其中：A=[
…
, A
pT
,
ꢀ…
, A
qT
,
ꢀ…
]
T
，是个M行4列的矩阵，M为关键序号集{k}中的元素个数，p, q为关键序号集{k}中的元素；b=[
…
, b
p
,
ꢀ…
, b
q
,
ꢀ…
]
T
，是个M行的列向量；步骤3结束后进行步骤4；步骤4：对分析矩阵A和增广矩阵[A, b]进行秩分析；计算分析矩阵A的秩r
A
=rank(A)，增广分析矩阵[A, b] 的秩r
Ab
=rank（[A, b]），并比较r
A
和r
Ab
，只有以下两种情况：情况一：r
A
=r
Ab
，那么，应当继续寻优，跳到步骤5；情况二：r
A
< r
Ab
，那么，则试着从分析矩阵A与分析列向量b中删去关键点集{k}中的某个元素k对应行得到{ k s
}，再根据{ k s
}得到缩小矩阵A
k
‑
和缩小列向量b
k
‑
，求线性方程A
k
‑
v
k
‑
= b
k
‑
的解v
k
‑
= v
k
‑0，然后计算b
k
‑
= A
k
‑
v
k
‑0；当关键点集{k}中的元素一一尝试都没有任何一个b
k
‑
> b
k
，则停止寻优，跳到步骤7；如果有b
k
‑
> b
k
，将缩小矩阵A
k
‑
与缩小列向量b
k
‑
分别作为新的A矩阵和列向量b，并将元素k从关键点集{ k}中去掉，然后跳到步骤5；其中，v
k
‑
= [v...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄美发，苟国秋，唐哲敏，
申请(专利权)人：桂林电子科技大学，
类型：发明
国别省市：