【技术实现步骤摘要】
一种以花键为基准的同轴度检具
[0001]本技术涉及测量
,尤其涉及一种以花键为基准的同轴度检具。
技术介绍
[0002]同轴度就是定位公差,理论正确位置即为基准轴线;由于被测轴线对基准轴线的不同点可能在空间各个方向上出现,故其公差带为一以基准轴线为轴线的圆柱体,公差值为该圆柱体的直径;目前市场上花键为测量基准的检测方法只有三坐标,测量效率底,误差大。
技术实现思路
[0003]技术目的:为了克服现有技术中存在的不足,本技术提供一种以花键为基准的同轴度检具可以快速准确测得产品的同轴度。
[0004]技术方案:为实现上述目的,本技术的一种以花键为基准的同轴度检具,包括底板、轴承结构、花键通规和测量结构;所述轴承结构通过外圈压板可旋转式座设于底板;所述花键通规设于轴承结构顶部,所述轴承结构顶部周侧设有定位套,所述花键通规的台架插设于定位套中;所述测量结构座设于底板,所述测量结构包括手柄、气弹簧、表架和百分表;所述手柄通过气弹簧传动连接于表架;所述表架可通过导轨朝向花键通规圆心方向往复移动;所述百分表架设于表架,所述百分表的测量端对应于花键通规。
[0005]进一步地,所述轴承结构包括角接触球轴承、第一中间套、第二中间套、轴承套和定位轴;所述轴承套垂直贯穿于底板并与其过盈配合;所述角接触球轴承设于轴承套;所述第一中间套夹设于轴承套与角接触球轴承之间,所述第二中间套贴设于角接触球轴承内圈侧壁;所述定位轴插设于第二中间套;所述定位轴顶端对应于台架。
[0006]进一步地,所述第一中间套 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种以花键为基准的同轴度检具,其特征在于:包括底板(1)、轴承结构、花键通规和测量结构;所述轴承结构通过外圈压板(11)可旋转式座设于底板(1);所述花键通规设于轴承结构顶部,所述轴承结构顶部周侧设有定位套(21),所述花键通规的台架(22)插设于定位套(21)中;所述测量结构座设于底板(1),所述测量结构包括手柄(31)、气弹簧(32)、表架(33)和百分表(34);所述手柄(31)通过气弹簧(32)传动连接于表架(33);所述表架(33)可通过导轨朝向花键通规圆心方向往复移动;所述百分表(34)架设于表架(33),所述百分表(34)的测量端对应于花键通规。2.根据权利要求1所述的一种以花键为基准的同轴度检具,其特征在于:所述轴承结构包括角接触球轴承(41)、第一中间套(42)、第二中间套(43)、轴承套(44)和定位轴(45...
【专利技术属性】
技术研发人员:丁星发,王强,杨芾,
申请(专利权)人:无锡海格测控技术有限公司,
类型:新型
国别省市:
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