【技术实现步骤摘要】
一种利用Pt系金属作为Ir缓冲层制备异质外延单晶金刚石的方法
[0001]本专利技术属于单晶金刚石外延生长
,尤其涉及一种利用Pt系金属作为Ir缓冲层制备异质外延单晶金刚石的方法。
技术介绍
[0002]金刚石是一种宽禁带半导体,其极端热导率为2200W/m/K,电子迁移率(电子4500,空穴3800cm2/Vs)对新型量子和高功率电子器件具有重要意义。由于金刚石在Ir薄膜上形核的特殊模式,使得Ir上外延生长的单晶金刚石具有成核密度高,结晶取向一致性好的特点,故而铱已经成为单晶金刚石晶圆制备的最重要镀层衬底材料。由于Ir具有很高弹性模量(538.3GPa),刚度大,脆性强,故而发生应变时应力也大,尤其当沉积在在氧化物衬底表面作为异质外延单晶金刚石的缓冲层,在高温生长环境下衬底与金刚石之间的Ir很容易脱落甚至断裂,不利于单晶金刚石异质外延的生长。
技术实现思路
[0003]本专利技术的目的是提供一种利用Pt系金属作为Ir缓冲层制备异质外延单晶金刚石的方法,利用Pd作为Ir与衬底之间的缓冲层缓冲层,可以有效 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种利用Pt系金属作为Ir缓冲层制备异质外延单晶金刚石的方法,其特征在于,该方法包括如下步骤:步骤一、在异质外延衬底(10)上制备出Pt系金属(001)取向薄膜(11);步骤二、在步骤一中所述的Pt系金属(001)取向薄膜(11)上外延生长Ir(001)取向薄膜(12);步骤三、在步骤二中所述的Ir(001)取向薄膜(12)上制备出(001)方向的金刚石核(13);步骤四、将步骤三中所述的(001)方向的金刚石核(13)在MP
‑
CVD中外延生长,得到连续(001)方向的金刚石薄膜(14)。2.根据权利要求1所述的一种利用Pt系金属作为Ir缓冲层制备异质外延单晶金刚石的方法,其特征在于,在所述步骤一中,Pt系金属为Pt或Pd。3.根据权利要求1或2所述的一种利用Pt系金属作为Ir缓冲层制备异质外延单晶金刚石的方法,其特征在于,所述Pt系金属(001)取向薄膜(11)的厚度为10纳米~1微米。4.根据权利要求3所述的一种利用Pt系金属作为Ir缓冲层制备异质外延单晶金刚石的方法,其特征在于,在步骤二中,所述Ir(001)取向薄膜(12)发热厚度为10纳米~1微米。5.根据权利要求4所述的一种利用Pt系金属作为Ir缓冲层制备异质外延单晶金刚石的方法,其特征在于,所述衬底选用Si、SrTiO3、MgO或Al2O3中的一种。6.根据权利要求5所述的一种利用Pt系金属作为Ir缓冲层制备异质外延单晶金刚石的方法,其特征在于,所述(001)方向的外延金刚石核(13)在微波等离子体系统MP
‑
CVD中外延生长的条件如下:放置于...
【专利技术属性】
技术研发人员:魏强,林芳,张晓凡,王若铮,陈根强,王宏兴,
申请(专利权)人:西安交通大学,
类型:发明
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。