一种圆筒式超声波检测对比试块制造技术

本实用新型专利技术公开了一种圆筒式超声波检测对比试块，包括：圆筒本体，所述圆筒本体内径为15mm

【技术实现步骤摘要】
一种圆筒式超声波检测对比试块


[0001]本技术涉及超声波检测试块
，尤其涉及一种圆筒式超声波检测对比试块。

技术介绍

[0002]在无损检测中，常常采用与己知量相比较的方法来确定被检物的状况。采用各种条件己知的试块在超声波探伤中对仪器和探头性能进行测试，调节仪器参数，确定探伤灵敏度、评价缺陷大小。超声波探伤的发展，一直与试块的研制、使用分不开。根据试块的用途，可分为调节仪器及测试探头和提供当量缺陷确定探伤灵敏度及评价缺陷大小两大类。试块根据来历一般分为两类，一种是标准试块，标准试块是由权威机构制定的试块，试块材质、形状、尺寸及表面状态都由权威部门统一规定；另一种是参考试块，也称对比试块，是由各部门按某些具体探伤对象制定的试块。
[0003]目前对于圆筒状的检测工件，很多时候需要从圆筒内壁进行超声波检测，但现有的超声波对比试块都是平板型，所谓平板型对比试块为设有不同大小平底孔的平板，用于确定超声波探头的探伤灵敏度或者扫查灵敏度。然而对比试块对缺陷模拟的准确度，很大程度来源于对比试块与实际检测工件形状的相似度和材料的相似度，形状和材本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种圆筒式超声波检测对比试块，其特征在于，包括：圆筒本体（1），所述圆筒本体（1）内径为15mm
±
0.05mm，圆筒本体（1）外径为45mm
±
0.05mm，圆筒本体（1）的外壁上开有1组以上外平底孔组（1
‑
1），每组外平底孔组（1
‑
1）包括2个以上外平底孔，每组外平底孔组（1
‑
1）中的外平底孔直径互不相同，外平底孔的中轴线与圆筒本体（1）中轴线相交且垂直，不相同的两组外平底孔组（1
‑
1）中的外平底孔与圆筒本体（1）的内壁间距大于0且不相等。2.根据权利要求1所述的圆筒式超声波检测对比试块，其特征在于，每组外平底孔组（1
‑
1）中的外平底孔沿圆筒本体（1）中轴线方向分布，每组外平底孔组（1
‑
1）中相邻两外平底孔之间的间距相同，每组外平底孔组（1
‑
1）中的外平底孔沿圆筒本体（1）中轴线方向直径依次增大或减小。3.根据权利要求1所述的圆筒式超声波检测对比试块，其特征在于，每组外平底孔组（1
‑
1）包括3个外平底孔，3个外平底孔直径分别为0.8mm
±
0.05mm、1.2mm
±
0.05mm和2.0mm
±
0.05mm。4.根据权利要求1至3中任意一项所述的圆筒式超声波检测对比试块，其特征在于，圆筒本体（1）的外壁上开有2组外平底孔组（1
‑
1），其中一组外平底孔组（1
‑
1）中的外平底孔与圆筒本体（1）的内壁间距为1.5mm
±
0.05mm，另一组外平底孔组（1
‑
1）中的外平底孔与圆筒本体（1）的内壁间距为2.5mm
±
0.05mm。5.根据权利要求1所述的圆筒式超声波检测对比试块，其特征在于，所述圆筒本体（1）的内壁上开有1组以上...

【专利技术属性】
技术研发人员：闫彧，侯姗姗，纪帅帅，
申请(专利权)人：闫彧，
类型：新型
国别省市：