一种星载微系统模块的静态总剂量试验方法和系统技术方案

本发明专利技术公开了一种星载微系统模块的静态总剂量试验方法和系统，属于微系统模块抗总剂量能力试验验证技术领域。根据微系统模块的管脚属性，确定最劣的偏置条件，进而达到最佳的试验效果。微系统模块无需运行功能程序，仅为对外引出的电源管脚施加拉偏电压激励、信号管脚施加上下拉激励。微系统模块无需软件操作，总剂量试验板无需晶振、接口器件等有源器件，仅需电阻电容，硬件设计简单，经济成本较低。具有一定的工程应用价值，可以评估空间航天器中备份机加电待机状态的抗总剂量能力。同时，辐照试验装置中的微系统模块供电电压可根据不同需求进行调整，具有一定的通用性。具有一定的通用性。具有一定的通用性。

【技术实现步骤摘要】
一种星载微系统模块的静态总剂量试验方法和系统


[0001]本专利技术属于微系统模块抗总剂量能力试验验证
，涉及一种星载微系 统模块的静态总剂量试验方法和系统。

技术介绍

[0002]微系统模块通过集成技术将多种功能芯片及无源器件封装在一个单元内形 成具有一定功能的系统或者子系统，随着航天器小型化、轻质化的发展趋势，微 系统模块越来越多的应用在航天器各个领域中。由于微系统模块是多芯片集成体 的特殊性，针对微系统模块的总剂量效应的评估方法一直未形成统一的标准。目 前主要通过两种方法进行评估：一种采用微系统模块内单芯片最小的抗总剂量能 力替代微系统模块的抗总剂量能力；一种采用地面模拟试验的方式，根据微系统 模块的功能特点，在辐射环境下运行微系统模块功能程序，同时监测程序运行结 果，最终根据试验结果评估微系统模块的抗总剂量能力。
[0003]微系统模块内单芯片不是简单的物理集成，模块内芯片间具有复杂的连接关 系，采用第一种替代评估的方法不能完全体现微系统模块的整体性。第二种试验 评估方法中微系统模块在辐照环境下运行各项模块功能，相当于在试本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种星载微系统模块的静态总剂量试验方法，其特征在于，包括如下步骤：基于微系统模块自身结构及微系统模块内的芯片结构，将微系统模块对外管脚进行区分，得到电源管脚和信号管脚，分别对电源管脚和信号管脚进行分析；基于电源管脚和信号管脚的属性，进行静态偏置设计，静态偏置设计具体是对电源管脚施加拉偏电压激励，同时对信号管脚施加上下拉激励；基于《宇航用半导体器件总剂量辐照试验方法》，对静态偏置设计后的微系统模块进行总剂量试验。2.根据权利要求1所述的星载微系统模块的静态总剂量试验方法，其特征在于，电源管脚包括供电管脚和地管脚；信号管脚包括普通输入信号管脚、带上拉输入信号管脚、带下拉输入信号管脚、带上拉输入输出双向信号管脚、带下拉输入输出信号管脚、输出信号管脚。3.根据权利要求2所述的星载微系统模块的静态总剂量试验方法，其特征在于，对电源管脚施加拉偏电压激励具体为：供电管脚上拉典型供电值的5％～10％。4.根据权利要求1所述的星载微系统模块的静态总剂量试验方法，其特征在于，对电源管脚施加拉偏电压激励具体为：基于微系统模块的使用手册选取供电电压的最大值。5.根据权利要求1所述的星载微系统模块的静态总剂量试验方法，其特征在于，对信号管脚施加上下拉激励是通过电阻进行的上下拉激励；上拉是将电阻上拉至对应的电源电压，下拉是将电阻下拉至对应的地。6.根据权利要求2所述的星载微系统模块的静态总剂量试验方法，其特征在于，静态偏置设计过程中，对于输出信号管脚不做配置，保持悬空状态。7.一种星载微系统模块的静态总剂量试验系统，其特征在于，包括分析单元，用于基于微系统模块自...

【专利技术属性】
技术研发人员：张庆学，唐磊，匡乃亮，刘曦，刘思婕，李逵，郭雁蓉，赵超，余国强，
申请(专利权)人：西安微电子技术研究所，
类型：发明
国别省市：