用于检测流体中颗粒的存在的系统和方法技术方案

本发明专利技术涉及一种用于无标记检测流体中颗粒(106)的存在的系统(10，20)。该系统(10，20)包括：纳米通道(102)，该纳米通道被配置成接收流体；光源(110)；光传感器(120)，该光传感器被布置成确定来自纳米通道(102)的区段的散射光(108)的量。光被纳米通道(102)的区段、纳米通道(102)的区段中的流体散射、并且如果纳米通道(102)的区段中存在颗粒(106)则还被颗粒散射。处理单元(130)被布置成与光传感器(120)通信，并且基于来自光传感器(120)的接收到的数据而确定纳米通道(102)的区段中的流体中颗粒(106)的存在。还披露了一种用于确定流体中颗粒(106)的存在的方法(30)。粒(106)的存在的方法(30)。粒(106)的存在的方法(30)。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于检测流体中颗粒的存在的系统和方法


[0001]本专利技术涉及一种用于检测流体中颗粒的存在的系统。

技术介绍

[0002]在若干不同
，比如化学、生物、医学和环境监测等等，检测少量颗粒是很重要的。然而，检测少量颗粒典型地是困难的。有若干方法能够检测少量颗粒乃至单个颗粒，然而它们需要标记，无法在低分析物浓度下操作，并且当需要单个颗粒检测时，它们与纳米体积不兼容，或者需要特定波长的激发光源，并且成本高。
[0003]最常见的标记方法是用具有已知特性的纳米颗粒或分子标记颗粒的方法。通常，颗粒既而是使用利用例如荧光的光学技术而可检测的。因此，它是一种基本上检测附着到颗粒自身的标记的间接检测技术。然而，由于许多原因，这种标记的存在是有问题的。主要缺点是标记自身可能改变目标颗粒的特性，并且测量速率受到荧光团固有的低发射速率的限制，这意味着无法测量快速过程。此外，将标记附着到待检测的颗粒可能是困难且麻烦的。
[0004]因此，需要用于颗粒检测的改进的技术。

技术实现思路

[0005]鉴于以上所述，本专利技术的目的是提供本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种用于无标记确定流体中颗粒(106)的存在的系统(10，20)，该系统(10，20)包括：纳米通道(102)，该纳米通道被配置成接收该流体，其中该流体包括颗粒(106)；光源(110)，该光源被配置成照射该纳米通道(102)；光传感器(120)，该光传感器被布置成确定来自该纳米通道(102)的区段的散射光(108)的量，该光被该纳米通道(102)的区段、该纳米通道(102)的区段中的该流体散射、并且如果该纳米通道(102)的区段中存在该颗粒(106)则还被该颗粒散射，并且该光传感器输出基于散射光(108)的该量的数据；以及处理单元(130)，该处理单元被布置成与该光传感器(120)通信，以接收基于散射光(108)的该量的该数据，并基于该接收到的数据而确定该纳米通道(102)的区段中的该流体中该颗粒(106)的存在。2.根据权利要求1所述的系统(10，20)，其中，该处理单元(130)被进一步配置成通过将基于与第一时间点相关的散射光(108)的该量的该数据与基于与第二时间点相关的散射光(108)的该量的该数据进行比较而确定该颗粒(106)的存在。3.根据权利要求1或2所述的系统(10，20)，其中，该系统(10，20)进一步包括光学器件(140，240)，该光学器件被布置成将该纳米通道(102)的区段成像在该光传感器(120)的成像表面(122)上。4.根据权利要求3所述的系统(10，20)，其中，该处理单元(130)被配置成基于该接收到的数据而创建该纳米通道(102)的所成像的区段的数字表示。5.根据权利要求4所述的系统(10，20)，其中，该处理单元(130)被进一步配置成基于该数字表示而确定来自该纳米通道(102)的区段的该散射光(108)的空间分布。6.根据权利要求5所述的系统(10，20)，其中，该处理单元(130)被进一步配置成基于该空间分布而确定该颗粒(106)沿着该纳米通道(102)的区段的位置。7.根据权利要求1或2所述的系统(10，20)，其中，该系统(10，20)进一步包括光学器件(140，240)，该光学器件被布置成将该纳米通道(102)的区段成像在该光传感器(120)的成像表面(122)的一部分上。8.根据权利要求7所述的系统(10，20)，进一步包括：参考纳米通道(104)，该参考纳米通道被配置成接收参考流体，其中该参考流体不包括颗粒；其中该光源(110)被进一步配置成照射该参考纳米通道(104)；其中该光学器件(140，240)被进一步布置成将该参考纳米通道(104)的区段成像在该成像表面(122)的又一部分上，该成像表面(122)的又一部分不同于该成像表面(122)的部分；其中该光传感器(120)被进一步布置成确定来自该参考纳米通道(104)的区段的散射光的参考量，该光被该参考纳米通道(104)的区段和该参考纳米通道(104)的区段中的该参考流体散射，并且输出基于散射光的该参考量的参考数据；并且其中该处理单元(130)被进一步布置成与该光传感器(120)通信以接收该参考数据，并且基于该接收到的数据和该接收到的参考数据而确定该纳米通道(102)的区段中的该流体中该颗粒(106)的存在。9.根据权利要求8所述的系统(10，20)，其中，该处理单元(130)被配置成基于该接收到
的数据而创建该纳米通道(102)的所成像的区段的数字表示，并且基于该接收到的参考数据而创建该参考纳米通道(104)的所成像的区段的参考数字表示。10.根据权利要求9所述的系统(10，20)，其中，该处理单元(130)被进一步配置成基于该数字表示和该参考数字表示而确定来自该纳米通道...

【专利技术属性】
技术研发人员：克里斯多佛，
申请(专利权)人：克里斯多佛，
类型：发明
国别省市：