通过近红外高光谱成像进行测量的薄膜厚度测量仪制造技术

本发明专利技术教导包含测量整个薄膜厚度的方法。所述方法可以包含形成聚合物薄膜(10)以及用同时采集多个点的空间图像和光谱图像的相机(20)来测量所述薄膜(10)的厚度。所述相机可以从所述薄膜的某条线采集线图像。所述相机可以是高光谱近红外相机。在分析在所述测量步骤期间采集的原始数据时，可以使用经典最小二乘分析来校正所述原始数据的条纹。析来校正所述原始数据的条纹。析来校正所述原始数据的条纹。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】通过近红外高光谱成像进行测量的薄膜厚度测量仪


[0001]总体上，本专利技术教导涉及对薄膜的厚度的测量。更具体地，本专利技术教导涉及高光谱相机和其用于测量薄膜的厚度的用途。

技术介绍

[0002]聚合物薄膜材料用于宽范围的产品和包装中。这些薄膜材料通常被归类为包装或非包装。包装薄膜可以用于食品应用、非食品应用和其它应用。食品包装薄膜可以用于例如产品袋、烘焙食品、面包和糖果；用于包裹肉类、家禽、海鲜或糖果；或用于盒装袋或沸腾袋。非食品包装薄膜可以用于例如装货麻袋、气泡布、信封和工业衬垫。其它包装可以包含拉伸和收缩包裹。非包装薄膜应用包含食品杂货袋、罐头衬垫、农业薄膜、建筑薄膜、医疗保健薄膜、服装袋、家用包裹以及甚至作为一次性尿布的组成部分。
[0003]在生产这些薄膜时，重要的是维持期望的厚度和减小薄膜的测量仪变化。提供多个数据点也很重要，因为在采集到的数据点较少时，可能会遗漏薄膜的弱点。
[0004]生产这些薄膜的一种方法是通过吹塑薄膜工艺。在吹塑薄膜工艺中测量薄膜的厚度的系统依赖于在线厚度测量装置将实时薄膜厚度发送到自动模具或本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种方法，其包括以下步骤：a.获得聚合物薄膜、薄片或薄板；以及b.测量所述薄膜、薄片或薄板的厚度，其中所述测量步骤是使用同时采集多个点的空间图像和光谱图像两者的相机来执行的。2.根据权利要求1所述的方法，其中所述相机从所述薄膜、薄片或薄板的某条线采集线图像。3.根据权利要求1所述的方法，其中所述薄膜、薄片或薄板的厚度为2mm或更小。4.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中所述相机采集波长为780nm或更大到2500nm的光。5.根据权利要求4所述的方法，其中在所述聚合物薄膜、薄片或薄板的与...

【专利技术属性】
技术研发人员：X，
申请(专利权)人：陶氏环球技术有限责任公司，
类型：发明
国别省市：