【技术实现步骤摘要】
一种新型探针
[0001]本技术涉及检测探针
，具体为一种新型探针。
技术介绍
[0002]在集成电路及传感器制造过程中，需要进行各种电气性能的测试，测试用探针是一种常见的辅助工具，金属材料的探针一端顶在集成电路或传感器焊盘上，一端连接检测电路，就可以检测和收集集成电路及传感器的各项性能指标，由于集成电路本身的特性，待测试触点面积小，空间狭小，所以探针本身比较细长，现有的探针通常是通过护套进行存放，使用时再取出，尽管说有一定的保护作用，在使用的时候还是很容易被折弯，缩短了探针的使用寿命，增加了企业的检测成本，为此，我们提出一种新型探针解决上述问题。
技术实现思路
[0003]本技术要解决的技术问题是克服现有的缺陷，提供一种新型探针，结构新颖，使用方便，避免探针的端头被碰撞折弯，延长了使用寿命，提高了实用性能，可以有效解决
技术介绍
中的问题。
[0004]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种新型探针，包括套筒、换向板和限位组件；
[0005]套筒：其内弧面顶端固定连接有导向环，导向环的内...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种新型探针，其特征在于：包括套筒(1)、换向板(4)和限位组件(5)；套筒(1)：其内弧面顶端固定连接有导向环(2)，导向环(2)的内壁滑动连接有驱动板(3)，驱动板(3)的上表面中部固定连接有第一弹簧(9)，第一弹簧(9)的顶端与套筒(1)的顶板下表面固定连接，驱动板(3)的中部固定连接有连杆(6)，连杆(6)的外弧面与套筒(1)顶板设置的通孔内壁滑动连接，连杆(6)位于第一弹簧(9)的内部，连杆(6)的顶端设有盖帽(7)；换向板(4)：其下表面固定连接有平面轴承(10)，平面轴承(10)的下表面固定连接有第二弹簧(11)，第二弹簧(11)的底端固定连接有支撑板(12)，支撑板(12)的外弧面与套筒(1)的内壁固定连接，换向板(4)的下表面中心固定连接有探针本体(13)，探针本体(13)分别穿过平面轴承(10)和支撑板(12)中心的通孔；限位组件(5)：设置于套筒(1)的内壁下端；其中：换向板(4)分别与导向环(2)和驱动板(3)位置对应。2.根据权利要求1所述的一种新型探针，其特征在于：所述驱动板(3)的下表面设有等角度分布的顶...
【专利技术属性】
技术研发人员：卢绍宾，张欢，张国群，薛强力，
申请(专利权)人：昆山永芯禾光电科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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