一种微波综合测试仪制造技术

本实用新型专利技术提供一种微波综合测试仪，包括支撑座，支撑座的顶部分别固定连接有调节机构和支撑件，调节机构在远离支撑座的一端固定连接有连接件，连接件的侧壁固定连接有固定机构，固定机构在远离连接件的一端活动连接有微波综合测试仪，微波综合测试仪位于连接件的内部，连接件的顶部固定连接有手提架。本实用新型专利技术具备能够轻松的带动微波综合测试仪移动，且微波综合测试仪在进行测试时，测试人员能够对微波综合测试仪的角度进行调节，促使微波综合测试仪使用时灵敏性提升，微波综合测试仪显示屏直观显示测试人员眼球下，测试人员能够清晰的观察到测试数值，提升微波综合测试仪工作效率。率。率。

【技术实现步骤摘要】
一种微波综合测试仪


[0001]本技术涉及微波综合测试仪
，特指一种微波综合测试仪。

技术介绍

[0002]微波测量是对微波信号和微波电路有关参数的测量技术。主要测量对象有：功率、频率或波长、波形与频谱、噪声电平、驻波、衰减和相移等。采用微波测量、自动控制和计算机等技术构成的快速、精确、多参数、多功能的综合测量系统，主要有两种结构类型：自动网络分析仪和六端口网络分析仪，现有微波综合测试仪采用小型机箱，便携式结构设计，由嵌入式ARM硬件控制平台、频谱分析模块、信号发生模块等多个整部件组成；具有体积小、重量轻、用户界面友好、操作简单、易学易用等特点，在测量中，除按系统总体设计选用符合测量精度要求的仪表外，在室内环测中，要重点注意衰落模拟器的仿真性能，使之尽量与实际电路传输情况相接近，这样才能正确判断系统、设备存在的质量问题。所获测试结果对总体设计的修订、设备的改进以及尔后投入工程使用的质量预测都具有参考价值，但是在具体使用过程中。
[0003]现有的微波综合测试仪多采用平面放置，且移动不便，并不能根据实际需求对微波综合测试仪的角度进行本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种微波综合测试仪，包括支撑座(1)，其特征在于：所述支撑座(1)的顶部分别固定连接有调节机构(6)和支撑件(2)，调节机构(6)在远离支撑座(1)的一端固定连接有连接件(3)，连接件(3)的侧壁固定连接有固定机构(8)，固定机构(8)在远离连接件(3)的一端活动连接有微波综合测试仪(5)，微波综合测试仪(5)位于连接件(3)的内部，连接件(3)的顶部固定连接有手提架(4)。2.根据权利要求1所述的一种微波综合测试仪，其特征在于：所述支撑件(2)在远离支撑座(1)的一端活动连接有阻尼轴(7)，阻尼轴(7)的头部与连接件(3)的侧壁固定连接。3.根据权利要求1所述的一种微波综合测试仪，其特征在于：所述调节机构(6)包括驱动轴承(601)、固定螺杆(602)、固定螺环(603)、电动推杆(604)和对接环(605)，驱动轴承(601)的内圈与固定螺杆(602)的头部固定连接，固定螺杆(602)的外壁与固定螺环(603)的...

【专利技术属性】
技术研发人员：方健，康凯，
申请(专利权)人：苏州信美通信技术有限公司，
类型：新型
国别省市：