检测电路和电子设备制造技术

本申请公开了一种检测电路和电子设备，检测电路用于电子设备，电子设备包括多个金属搭接结构，检测电路包括：多条测试电路和处理器，一条测试电路与一个金属搭接结构对应设置，测试电路包括：接收天线组件和接收器，接收天线组件连接于金属搭接结构，用于接收金属搭接结构激发的谐波信号；接收器的一端与接收天线组件连接，接收器用于接收接收天线组件的谐波信号；处理器的一端与接收器的另一端连接，处理器用于对谐波信号进行处理，得到每个金属搭接结构对应的谐波信号的波动幅度，并根据谐波信号的波动幅度从多个金属搭接结构中确定引起谐波信号波动最大的目标金属搭接结构。谐波信号波动最大的目标金属搭接结构。谐波信号波动最大的目标金属搭接结构。

【技术实现步骤摘要】
检测电路和电子设备


[0001]本申请属于电子设备
，具体涉及一种检测电路和电子设备。

技术介绍

[0002]目前，电子设备内部通常设有较多的金属搭接结构，在实际应用中，金属搭接结构通常包括两个金属件以及两个金属件之间的不规则接触面(例如射频屏蔽罩和主板支架，摄像头导电布和铝镁合金背板等)。在通讯系统中，不规则接触面容易引起电子设备出现PIM(无源交调)的问题，PIM又可能引起RSE(杂散辐射)的问题，降低电子设备的灵敏度，导致阻塞通信，有时候还可能会影响产生PIM的通信蜂窝以及附近的其他电子设备，因此，准确定位引起RSE超标的金属搭接结构，并对金属搭接结构进行改善，以减弱RSE超标变得尤为重要。
[0003]在先技术中，在定位引起RSE超标的金属搭接结构时，通常将电子设备放在RSE测试环境中，使用非金属锤敲击电子设备的不同部位，查看在敲击的过程中引起RSE幅度波动的位置，逐步定位引起RSE超标的金属搭接结构的位置。然而，这种检测方式导致定位引起RSE超标的金属搭接结构的速度较慢，精准度较低，耗时较长。
[0004]申请内容
[0005]本申请旨在提供一种检测电路和电子设备，至少解决现有技术中定位引起RSE超标的目标金属搭接结构的速度较慢，精准度较低，耗时较长的问题之一。
[0006]为了解决上述技术问题，本申请是这样实现的：
[0007]第一方面，本申请实施例提出了一种检测电路，用于电子设备，所述电子设备包括多个金属搭接结构，所述检测电路包括：多条测试电路和处理器，一条所述测试电路与一个所述金属搭接结构对应设置，所述测试电路包括：接收天线组件和接收器，其中，
[0008]所述接收天线组件连接于所述金属搭接结构，用于接收所述金属搭接结构激发的谐波信号；
[0009]所述接收器的一端与所述接收天线组件连接，所述接收器用于接收所述接收天线组件的谐波信号；
[0010]所述处理器的一端与所述接收器的另一端连接，所述处理器用于对所述谐波信号进行处理，得到每个所述金属搭接结构对应的所述谐波信号的波动幅度，并根据所述谐波信号的波动幅度从多个所述金属搭接结构中确定引起所述谐波信号波动最大的目标金属搭接结构。
[0011]第二方面，本申请实施例提出了一种电子设备，包括：上述检测电路。
[0012]在本申请的实施例中，所述测试电路中的接收天线组件可以接收金属搭接结构激发的谐波信号，并发送至接收器，然后，接收器可以将谐波信号发送至处理器，处理器可以对谐波信号处理并获取谐波信号的波动幅度。由于一条所述测试电路可以与一个所述金属搭接结构对应设置，这样，处理器可以获取多个金属搭接结构对应的谐波信号的波动幅度，确定波动幅度最大的谐波信号对应的目标金属搭接结构，进而快速并精准地定位引起RSE
超标的目标金属搭接结构，耗时较短。
[0013]本申请的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本申请的实践了解到。
附图说明
[0014]本申请的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：
[0015]图1是本申请实施例的一种检测电路的结构示意图；
[0016]图2是本申请实施例的一种接收天线组件的结构示意图；
[0017]图3是本申请实施例的一种金属搭接结构的结构示意图；
[0018]图4是本申请实施例的一种接收天线组件布置示意图；
[0019]图5是本申请实施例中的一种电子设备的结构示意图。
[0020]附图标记：
[0021]1－金属搭接结构，11－第一金属件，12－第二金属件，13－不规则接触面，2－测试电路，21－接收天线组件，211－电路板，212－第一接收天线，213－第二接收天线，214－第三接收天线，215－第四接收天线，22－接收器，23－开关模块，231－输入端，232－输出端，2321－第一输出接口，2322－第二输出接口，2323－第三输出接口，2324－第四输出接口，241－第一滤波器，242－第二滤波器，243－第三滤波器，244－第四滤波器，3－处理器，4－显示模块，5－发射天线。
具体实施方式
[0022]下面将详细描述本申请的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本申请，而不能理解为对本申请的限制。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0023]本申请的说明书和权利要求书中的术语“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本申请的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。此外，说明书以及权利要求中“和/或”表示所连接对象的至少其中之一，字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
[0024]在本申请的描述中，需要理解的是，术语“长度”、“上”、“内”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。
[0025]在本申请的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。
[0026]下面结合图1－图5描述根据本申请实施例的检测电路和电子设备。
[0027]本申请实施例中的检测电路可以用于电子设备，电子设备可以包括多个金属搭接结构1，参照图1，示出了本申请实施例的一种检测电路的结构示意图，如图1所示，检测电路可以包括：多条测试电路2和处理器3，一条测试电路2可以与一个金属搭接结构1对应设置，测试电路2可以包括：接收天线组件21和接收器22，其中，接收天线组件21可以连接于金属搭接结构1，用于接收金属搭接结构1激发的谐波信号；接收器22的一端可以与接收天线组件21连接，接收器22可以用于接收接收天线组件21的谐波信号；处理器3的一端可以与接收器22的另一端连接，处理器3可以用于对谐波信号进行处理，得到每个金属搭接结构1对应的谐波信号的波动幅度，并根据谐波信号的波动幅度从多个金属搭接结构1中确定引起谐波信号波动最大的目标金属搭接结构。
[0028]在本申请实施例中，测试电路2中的接收天线组件21可以接收金属搭接结构1激发的谐波信号，并发送至接收器22，然后，接收器22可以将谐波信号发送至处理器3，处理器3可以对谐波信号处理并获取谐波信号的波动幅度。由于一条测试电路2可以与一个金属本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检测电路，用于电子设备，所述电子设备包括多个金属搭接结构，其特征在于，所述检测电路包括：多条测试电路和处理器，一条所述测试电路与一个所述金属搭接结构对应设置，所述测试电路包括：接收天线组件和接收器，其中，所述接收天线组件连接于所述金属搭接结构，用于接收所述金属搭接结构激发的谐波信号；所述接收器的一端与所述接收天线组件连接，所述接收器用于接收所述接收天线组件的谐波信号；所述处理器的一端与所述接收器的另一端连接，所述处理器用于对所述谐波信号进行处理，得到每个所述金属搭接结构对应的所述谐波信号的波动幅度，并根据所述谐波信号的波动幅度从多个所述金属搭接结构中确定引起所述谐波信号波动最大的目标金属搭接结构。2.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述接收天线组件还包括电路板、第一接收天线、第二接收天线、第三接收天线和第四接收天线；所述电路板连接于所述金属搭接结构，所述第一接收天线、所述第二接收天线、所述第三接收天线和所述第四接收天线嵌设于所述电路板远离所述金属搭接结构的一侧；所述第一接收天线、所述第二接收天线、所述第三接收天线和所述第四接收天线分别与所述接收器的一端连接。3.根据权利要求2所述的检测电路，其特征在于，所述第一接收天线为第一二次谐波天线，所述第二接收天线为第一三次谐波天线，所述第三接收天线为第二二次谐波天线，所述第四接收天线为第二三次谐波天线。4.根据权利要求2所述的检测电路，其特征在于，所述测试电路包括开关模块，所述开关模块包括输入端和输出端，所述输出端包括第一输出接口、第二输出接口、第三输出接口和第四输出接口；所述输入端分别与所述第一接收天线、所述第二接收天线、所述第三接收天线和所述第四接收天线连接；所述第一输出接口、所述第二输出接口、所述第三输出接口和所述第四输出接口分别与所述接收...

【专利技术属性】
技术研发人员：包文宗，
申请(专利权)人：维沃移动通信有限公司，
类型：发明
国别省市：