一种污秽化合物识别方法和装置制造方法及图纸

一种污秽化合物识别方法和装置，该方法包括如下步骤：S1、利用激光诱导击穿光谱技术(LIBS)在污秽样品表面产生等离子体；S2、收集等离子体得到光谱数据；S3、对光谱数据进行处理和分析，得到污秽中的元素种类并将元素谱线特征量代入定标模型中，获得离子浓度；S4、根据离子浓度进行阴阳离子的配对；当阴阳离子的种类数大于2时，进行FCM聚类分析；当聚类的类别中出现多种配对情况时，进行各阴阳离子间的马氏距离计算，马氏距离短者优先配对；将已完成配对离子的相关数据剔除，重复配对过程直至剩余的阴阳离子种类数小于等于2，得到配对结果。本发明专利技术利用LIBS，结合改进FCM聚类算法分析得到绝缘子表面污秽的化合物成分信息，检测周期短，检测结果准确性高。检测结果准确性高。检测结果准确性高。

【技术实现步骤摘要】
一种污秽化合物识别方法和装置


[0001]本专利技术涉及一种污秽化合物识别方法和装置。

技术介绍

[0002]在输电线路中，绝缘子在导线和铁塔之间起着机械连接和电气绝缘的双重作用，主要有悬式绝缘子、耐张绝缘子、横担绝缘子等。在变电站或换流站中，绝缘子用于导线和接地体之间的绝缘或机械固定，主要包括隔离开关、接地开关的支柱绝缘子，电压互感器、电流互感器和断路器的瓷套，以及变压器的套管等。从制造材料来看，绝缘子可以分为电瓷绝缘子、玻璃绝缘子和复合绝缘子。绝缘子在运行中由于受到工厂、交通、农业、矿山和生活等的排放物，以及自然灰尘飘落等的影响，绝缘子表面逐渐积累了一层污秽物质。在潮湿环境中，绝缘子可能发生污闪放电，导致发生污闪事故，给经济发展和人们生活带来巨大损失。
[0003]目前分析绝缘子表面污秽化合物成分的方法是人工配对，该方法需要工作人员爬上杆塔清洗污秽获得污液，再进行一定处理后利用离子色谱仪得到离子成分与浓度，最后根据阴阳离子含量、溶液pH值等人工对离子进行配对。该方法检测过程复杂、耗费人力物力，分析效率十分低下，并且容易受分析人员的主本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种污秽化合物识别方法，其特征在于，包括如下步骤：S1、利用激光诱导击穿光谱技术(LIBS)，发射激光脉冲对污秽样品进行烧蚀，在污秽样品表面诱导产生等离子体；S2、收集所述等离子体，得到光谱数据；S3、对光谱数据进行处理和分析，得到污秽样品中的元素种类并将元素谱线特征量代入对应元素的定标模型中，获得元素离子的浓度；S4、根据离子的浓度利用配对算法进行阴阳离子的配对；其中，当阴阳离子的种类数大于2时，进行FCM聚类分析，属于同一类别中的阴离子、阳离子，代表来源于同一化合物；其中，当聚类的类别中出现多种配对情况时，进行各阴阳离子间的马氏距离计算，马氏距离短者优先配对；将已完成配对离子的相关数据剔除，重复以上配对过程直至剩余的阴阳离子种类数小于等于2，得到配对结果。2.如权利要求1所述的污秽化合物识别方法，其特征在于，所述元素谱线特征量包括谱线强度和/或谱线强度比。3.如权利要求1或2所述的污秽化合物识别方法，其特征在于，步骤S3中，所述对光谱数据进行处理包括：对光谱数据进行预处理，去除背景光谱的干扰，并进行归一化处理。4.如权利要求1至3任一项所述的污秽化合物识别方法，其特征在于，步骤S4中，取类别数为c＝floor(n/2)，n为离子种类数，floor表示向下取整数，设置隶属度矩阵的加权指数为2，最大迭代次数为100，隶属度最小变化量为10
‑5。5.如权利要求1至4任一项所述的污秽化合物识别方法，其特征在于，所述定标模型通过如下步骤获得：利用激光诱导击穿光谱技术(LIBS)对已知不同元素含量的污秽样品进行测试，...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭瑞宙，晋涛，芦山，刘星廷，何永琪，王希林，贾志东，
申请(专利权)人：清华大学深圳国际研究生院，
类型：发明
国别省市：